测试装置及测试系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种测试装置，其包含测试基座、第一传输介质及第二传输介质。所述测试基座界定传播空间。所述第一传输介质安置在所述测试基座的所述传播空间中。所述第一传输介质用于支撑受测装置。所述第二传输介质安置在所述测试基座的所述传播空间中。

Test device and test system

The utility model discloses a test device, which comprises a test base, a first transmission medium and a second transmission medium. The test base defines the propagation space. The first transmission medium is arranged in the transmission space of the test base. The first transmission medium is used for supporting the tested device. The second transmission medium is arranged in the transmission space of the test base.

【技术实现步骤摘要】
测试装置及测试系统相关申请的交叉引用本技术要求于2017年11月28日提出申请的美国临时专利申请第62/591,674号和2018年11月08日提出申请的美国正式专利申请第16/184,879号的优先权，所述美国临时专利申请和正式专利申请特此以全文引用的方式明确并入本文中。
本技术涉及一种测试装置，一种测试系统及一种测试方法，以及涉及使用非接触技术(non-contacttechnique)测试无线模块(wirelessmodule)的测试装置、测试系统及测试方法。
技术介绍
无线模块(例如：毫米波RF无线模块(mmWaveRFwirelessmodule))可以利用空中传输方式(overtheair，OTA)来做测试。此种测试可在测试房间(testingroom)(或测试室(testingchamber))中执行，其中(例如在其内部表面上)安置了多个吸收器。此种测试房间(或测试室)的体积相当大。举例来说，其大小可为6米(m)×6m×6m，或60厘米(cm)×60cm×60cm。另外，此种测试可能会花费很长时间。因此，此种测试可能不适合用以测试量产的装置，即，此种测试不适合作为大批量生产工艺或量产过程(massproductionprocess)中的一部分。
技术实现思路
根据一个方面，在一些实施例中，一种测试装置包含测试基座(testingsocket)、第一传输介质(transmissionmedium)及第二传输介质。所述测试基座界定传播空间(radiationspace)。所述第一传输介质安置在所述测试基座的所述传播空间中。所述第一传输介质用于支撑受测装置(deviceundertest，DUT)。所述第二传输介质安置在所述测试基座的所述传播空间中。根据另一方面，在一些实施例中，一种测试装置包含测试基座及装置托座。所述测试基座具有界定传播空间的内表面。所述测试基座的内表面为波吸收表面(waveabsorbingsurface)。所述装置托座安置在测试基座的传播空间中。所述装置托座界定用于接纳受测装置(DUT)的容纳空间。根据另一方面，在一些实施例中，一种测试系统包含测试装置、电路板(circuitboard)、测试器(tester)及子系统(sub-system)。所述测试装置包含测试基座、第一传输介质及第二传输介质。所述测试基座界定传播空间。所述第一传输介质安置在所述测试基座的所述传播空间中。所述第一传输介质用于支撑受测装置(DUT)。所述第二传输介质安置在所述测试基座的所述传播空间中。所述电路板安置在所述测试基座上方且经配置以电连接到所述DUT。所述测试器安置在所述测试基座下方且电连接到所述电路板。所述子系统包含中间设备(intermediateapparatus)及升频/降频转换器(up/downconverter)。所述中间设备与所述受测装置通信。所述升频/降频转换器电连接到所述中间设备及所述测试器。所述升频/降频转换器用于降低或提高信号的频率。根据另一方面，在一些实施例中，一种测试方法包含：(a)提供测试板及受测装置(DUT)，所述受测装置(DUT)包含第一表面及与所述第一表面相对的第二表面以及与所述第一表面毗邻安置的多个电性接点；(b)在所述受测装置(DUT)的第一表面上施加吸力，以使得DUT的电性接点与所述测试板电连接；以及(c)提供子系统，其中所述子系统包含中间设备及升频/降频转换器，所述中间设备与所述受测装置(DUT)通信，所述升频/降频转换器电连接到所述中间设备及测试器，且所述升频/降频转换器用于降低或提高信号的频率。附图说明当与附图一起阅读时，可从以下详述描述容易理解本技术的一些实施例的方面。应注意，各种结构可能并未按比例绘制，且为论述的清晰性可任意增加或减小各种结构的尺寸。图1说明根据本技术的一些实施例的测试装置的剖面图。图2说明图1中所展示的测试装置的俯视图。图3说明图1的测试装置的装置托座的剖面图。图4说明图3中所展示的装置托座的立体图。图5说明根据本技术的一些实施例的装置托座的剖面图。图6说明图5中所展示的装置托座的立体图。图7说明图1的测试装置的测试基座的立体图，其中省略第一连接器、第二连接器及第三连接器。图8说明图7的测试基座的分解视图。图9说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图10说明根据本技术的一些实施例的DUT的立体图。图11根据本技术的一些实施例说明测试方法的实例的一或多个阶段。图12根据本技术的一些实施例说明测试方法的实例的一或多个阶段。图13说明执行根据本技术的一些实施例的测试系统的第一操作方法及第二操作方法的示意性电路图。图14说明执行根据本技术的一些实施例的测试系统的第三操作方法的示意性电路图。图15说明执行根据本技术的一些实施例的测试系统的第四操作方法的示意性电路图。图16说明根据本技术的一些实施例的测试系统的示意图。图17说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图18为图17的测试系统的分解立体图。图19为说明图17及图18的测试装置的分解立体图。图20说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图21说明图20的装置托座的立体图。图22说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图23说明图22的装置托座的立体图。图24说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图25说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图26说明根据本技术的一些实施例的DUT的立体图。图27说明根据本技术的一些实施例的DUT的底部立体图。图28说明根据本技术的一些实施例的DUT的底部立体图。图29说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。图30说明根据本技术的一些实施例的测试系统的剖面图。具体实施方式贯穿图式及详细描述使用共用附图标记来指示相同或类似组件。本技术的实施例从结合附图进行的以下详细描述将更容易理解。以下公开内容提供用于实施所提供主题的不同特征的诸多不同实施例或实例。下文描述组件及布置的特定实例以公开本技术的某些方面。当然，这些仅为实例且并不意图为限制性。举例来说，在随后描述中将第一特征形成于第二特征上方或其上可包含其中第一特征与第二特征以直接接触方式形成或安置的实施例，且还可包含其中可在第一特征与第二特征之间形成或安置额外特征使得第一特征与第二特征可不直接接触的实施例。另外，本技术可在本文中所提供的各种实例中重复附图标记及/或字母。此重复是出于简约及清楚的目的且自身并不指示所论述的各种实施例及/或配置之间的关系。在比较性测试程序中，受测装置(deviceundertest，DUT)可具有第一表面及与第一表面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于包括：/n测试基座，其界定传播空间；/n第一传输介质，其安置在所述测试基座的所述传播空间中，其中所述第一传输介质用于支撑受测装置；以及/n第二传输介质，其安置在所述测试基座的所述传播空间中。/n

【技术特征摘要】
20171128 US 62/591,674;20181108 US 16/184,8791.一种测试装置，其特征在于包括：
测试基座，其界定传播空间；
第一传输介质，其安置在所述测试基座的所述传播空间中，其中所述第一传输介质用于支撑受测装置；以及
第二传输介质，其安置在所述测试基座的所述传播空间中。


2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述第二传输介质为空气。


3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述第一传输介质包含装置托座，且所述装置托座界定用于接纳所述受测装置的容纳空间。


4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于所述装置托座进一步界定至少一个开口以暴露所述受测装置的天线的至少一部分。


5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于进一步包括气流，其从所述测试基座的底部流动到所述装置托座。


6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于所述测试基座在其底部部分界定至少一个通气口，且所述气流流动穿过所述通气口。


7.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于所述装置托座的一部分延伸到所述测试基座的底部部分。


8.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于所述装置托座延伸毗邻于所述测试基座的内表面。


9.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于进一步包括吸收体，其安置在所述测试基座的内表面上。


10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于所述装置托座接触所述吸收体。


11.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述第一传输介质的介电常数不同于所述第二传输介质的介电常数。


12.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于进一步包含安置在所述测试基座外部的转接板，其中所述受测装置电连接到所述转接板。


13.一种测试装置，其特征在于包括：
测试基座，其具有内表面，所述内表面界定传播空间，其中所述测试基座的所述内表面为波吸收表面；及
装置托座，其安置在所述测试基座的所述传播空间中，其中所述装置托座界定容纳空间，用于接纳受测装置。


14.根据权利要求13所述的测试装置，其特征在于所述受测装置包含至少一个辐射源，且所述测试装置进一步包含附接到所述测试基座的至少一个测量模块，其中所述测量模块对应于所述辐射源中相应的辐射源。


15.根据权利要求14所述的测试装置，其特征在于所述受测装置包含第一辐射源、第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：王彦淳，黄泓仁，朱镇国，刘伊浚，
申请(专利权)人：台湾福雷电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;TW