【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试设备
本技术涉及半导体测试
，尤其涉及一种半导体测试设备。
技术介绍
由于半导体具有掺杂性可控导电特性的物理效应，使其具有热敏性、光敏性、磁敏性及电子放大、突变能力等特点，因此在非电量电测信息电子技术、电子光学成像技术、通信、固体信息储存器等具有很高的实用价值。现有的半导体测试设备通常用于对同一批半导体类型相同的半导体进行厚度和表面平整度的测试，但是偶尔会由于工作人员的大意或其他设备问题，导致该同一批半导体中会混有少量不同类型的半导体，使得半导体测试设备不能及时发现，造成产品的合格率下降。
技术实现思路
本技术实施例提供一种半导体测试设备，以及时发现半导体类型不合格的被测试半导体，进而提高产品的合格率。本技术实施例提供了一种半导体测试设备，包括：测试机台，用于放置被测试半导体；半导体类型检测装置，包括测试探头、控制电路和报警电路，其中，测试探头用于检测被测试半导体的半导体类型；控制电路的第一输入端与测试探头的输出端电连接，控制电路的第一输出端与报警电路电连接，控制电路用于若检测到的被测试半导体的半导体类型与期望半导体类型不相同，则控制报警电路进行报警。...
【技术保护点】
1.一种半导体测试设备，其特征在于，包括：测试机台，用于放置被测试半导体；半导体类型检测装置，包括测试探头、控制电路和报警电路，其中，所述测试探头用于检测所述被测试半导体的半导体类型；所述控制电路的第一输入端与所述测试探头的输出端电连接，所述控制电路的第一输出端与所述报警电路电连接，所述控制电路用于若检测到的所述被测试半导体的半导体类型与期望半导体类型不相同，则控制所述报警电路进行报警。
【技术特征摘要】
1.一种半导体测试设备，其特征在于，包括：测试机台，用于放置被测试半导体；半导体类型检测装置，包括测试探头、控制电路和报警电路，其中，所述测试探头用于检测所述被测试半导体的半导体类型；所述控制电路的第一输入端与所述测试探头的输出端电连接，所述控制电路的第一输出端与所述报警电路电连接，所述控制电路用于若检测到的所述被测试半导体的半导体类型与期望半导体类型不相同，则控制所述报警电路进行报警。2.根据权利要求1所述的半导体测试设备，其特征在于，还包括：至少两个回收台；传送机构，与所述半导体类型检测装置电连接，用于传送所述被测试半导体至与其半导体类型对应的回收台。3.根据权利要求1所述的半导体测试设备，其特征在于，所述半导体类型检测装置还包括类型设置电路，所述类型设置电路的输出端与所述控制电路的第二输入端电连接，所述类型设置电路用于设置期望半导体类型。4.根据权利要求3所述的半导体测试设备，其特征在于，所述类型设置电路包括开关，所述开关的一端与所述类型设置电路的输出端电连接，所述开关的另一端与电源电连接或接地。5.根据权利要求1所述的半导体测试设备，其特征在于，所述报警电路包括下述至少一种：蜂鸣器和发光二极管。6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚俊俊，沈思情，姚钉丁，张俊宝，陈猛，
申请(专利权)人：上海超硅半导体有限公司，重庆超硅半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31
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