一种电子元器件测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电子元器件测试装置，涉及测试领域。该测试装置包括：测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪，测试夹具组包括至少两种测试夹具；工控机用于检测每种测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有电子元器件的测试夹具的类型，根据类型在预设测试程序中选择对应的测试程序；测试仪用于根据选择的测试程序对连接在测试夹具上的电子元器件进行测试；高阻计用于检测高阻器件的阻值。本发明专利技术提供的测试装置，通过工控机自动识别电子元器件所接入的测试夹具种类，能够自动调用对应的测试程序，对电子元器件进行测试，能够实现对电子元器件的多种性能测试，满足多种检验测试要求。

A Test Device for Electronic Components

The invention discloses an electronic component testing device, which relates to the testing field. The test device includes: test fixture group, industrial computer, high resistance meter and tester, test fixture group includes at least two kinds of test fixture; industrial computer is used to detect whether each test fixture is connected with electronic components, and determine the type of test fixture connected with electronic components, and select the corresponding test program according to the type in the preset test program; the tester is used to select the test fixture according to the type. The selected test program tests the electronic components connected to the test fixture; the high resistance meter is used to detect the resistance value of the high resistance device. The test device provided by the invention can automatically identify the types of test fixtures connected to electronic components by industrial computer, automatically call corresponding test procedures and test electronic components, and can realize various performance tests of electronic components and meet various test requirements.

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件测试装置
本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种电子元器件测试装置。
技术介绍
在电子设备的研发和制造过程中，电子元器件的好坏直接决定着最终产品的功能及可靠性。对电子设备可靠性有严格要求的领域，如军工、航空、航天领域等，会要求在电子设备生产制造前，对所使用的电子元器件执行全面检验和测试。然而电子设备中使用的电子元器件种类繁多，单一用途的检验测试装置无法适应多种检验测试要求。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种电子元器件测试装置，能够满足多种检验测试要求。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种电子元器件测试装置，包括：测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪，所述测试夹具组包括至少两种测试夹具，每种所述测试夹具用于连接待测试的电子元器件，每种所述测试夹具对应不同电子元器件的测试；所述工控机用于检测每种所述测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有所述电子元器件的测试夹具的类型，根据所述类型在预设测试程序中选择对应的测试程序；所述测试仪用于根据选择的所述测试程序对连接在所述测试夹具上的电子元器件进行测试；所述高阻计用于检测高阻器件的阻值。本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件测试装置，其特征在于，包括：测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪，所述测试夹具组包括至少两种测试夹具，每种所述测试夹具用于连接待测试的电子元器件，每种所述测试夹具对应不同电子元器件的测试；所述工控机用于检测每种所述测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有所述电子元器件的测试夹具的类型，根据所述类型在预设测试程序中选择对应的测试程序；所述测试仪用于根据选择的所述测试程序对连接在所述测试夹具上的电子元器件进行测试；所述高阻计用于检测高阻器件的阻值。

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件测试装置，其特征在于，包括：测试夹具组、工控机、高阻计和测试仪，所述测试夹具组包括至少两种测试夹具，每种所述测试夹具用于连接待测试的电子元器件，每种所述测试夹具对应不同电子元器件的测试；所述工控机用于检测每种所述测试夹具是否连接有电子元器件，并判断连接有所述电子元器件的测试夹具的类型，根据所述类型在预设测试程序中选择对应的测试程序；所述测试仪用于根据选择的所述测试程序对连接在所述测试夹具上的电子元器件进行测试；所述高阻计用于检测高阻器件的阻值。2.根据权利要求1所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述测试仪为LCR测试仪。3.根据权利要求1所述的电子元器件测试装置，其特征在于，每种所述测试夹具为高阻测试接口、场效应管测试接口、运放测试接口、电容测试接口、稳压二极管测试接口或电阻测试接口。4.根据权利要求3所述的电子元器件测试装置，其特征在于，所述测试夹具组为一整块电路板...

【专利技术属性】
技术研发人员：支源，吴磊，杨敏，赵东东，崔峰，贺军川，张雷，温鹏，
申请(专利权)人：北京群源电力科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11