半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及的一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置，其特征在于测试装置(4)包括支撑机构(401)、下压机构(402)以及上顶机构(403)，支撑机构(401)用于支撑进入测试装置(4)内的半导体塑封条带(8)，下压机构(402)用于将进入测试装置(4)内的半导体塑封条带(8)压紧，上顶机构(403)上顶与半导体塑封条带(8)接触，从而使得半导体塑封条带(8)通电进行绝缘测试。本发明专利技术组装的半导体塑封条带高压绝缘测试系统具有实现自动化作业，降低工人劳动强度，提高生产效率，降低企业生产成本的优点。

Test device and test method of high voltage insulation test system for semiconductor plastic tape

The present invention relates to a testing device for high voltage insulation testing system of semiconductor plastic sealing strip, which is characterized in that the testing device (4) includes a support mechanism (401), a down-pressure mechanism (402) and an upper-top mechanism (403), a support mechanism (401) for supporting a semiconductor plastic sealing strip (8) entering the testing device (4), and a down-pressure mechanism (402) for entering the testing device. The semiconductor plastic sealing strip (8) in the testing device (4) is compressed and the upper top mechanism (403) contacts the semiconductor plastic sealing strip (8) so that the semiconductor plastic sealing strip (8) is electrified for insulation testing. The semiconductor plastic sealing strip high voltage insulation testing system assembled by the invention has the advantages of realizing automatic operation, reducing labor intensity of workers, improving production efficiency and reducing production cost of enterprises.

【技术实现步骤摘要】
半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置及其测试方法
本专利技术涉及一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置及其测试方法。
技术介绍
传统的半导体塑封条带的绝缘测试是人工上料放入测试工位，人工压合进行测试，人工下料进行收料以及人工将废料进行收集，效率低下，工人劳动强度大，不能实现自动化生产，降低了生产效率，提高了企业生产成本。因此寻求一种实现自动化作业，降低工人劳动强度，提高生产效率，降低企业生产成本的半导体塑封条带高压绝缘测试系统及其测试方法尤为重要。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述不足，提供一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置,其可以组装成实现自动化作业，降低工人劳动强度，提高生产效率，降低企业生产成本的半导体塑封条带高压绝缘测试系统。本专利技术的目的是这样实现的：一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置，其特征在于测试装置包括支撑机构、下压机构以及上顶机构，支撑机构用于支撑进入测试装置内的半导体塑封条带，下压机构用于将进入测试装置内的半导体塑封条带压紧，上顶机构上顶与半导体塑封条带接触，从而使得半导体塑封条带通电进行绝缘测试。所述支撑机构包括支撑机构支架，支撑机构支架固定于机架上，支撑机构支架上设置有纵向的测试流道，所述下压机构包括下压机构支架，下压机构支架固定于机架上，下压机构支架上设置有竖向的下压机构滑轨，下压机构滑轨上设置有下压机构升降座，下压机构升降座与一个向上的下压机构气缸的伸缩端连接，下压机构气缸的底部固定于机架上，下压机构升降座向右侧通过连接件连接有测试板安装座，测试板安装座的底部连接有测试板，测试板电信号连接测试仪，所述上顶机构包括上顶机构支架，上顶机构支架固定于机架上，上顶机构支架的上设置有竖向的上顶机构滑轨，上顶机构滑轨上设置有上顶机构升降座，上顶机构升降座上设置有电极座，电极座上设置有测试电极；上顶机构升降座与一个向上的上顶机构气缸的伸缩端连接。测试流道的中间具有凹陷的台阶。测试流道内嵌置有下绝缘块，测试板内间隔嵌置有上绝缘块。测试流道的上表面设置有定位孔，测试板底部设置有向下的定位针。所述测试装置的测试方法：正常状态，半导体塑封条带放入流道中，测试板下压，测试板下压后对半导体塑封条带进行全部包裹，半导体塑封条带形成负极；压合状态，测试电极由上顶机构气缸控制上顶，与半导体塑封条带引脚接触，到位后，机台给信号测试仪，测试仪加压进行绝缘测试，在一定参数设置下，若半导体塑封条带完好，测试仪给机台良品信号，若半导体塑封条带未包封完整，测试仪给机台不良品信号。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术组装的半导体塑封条带高压绝缘测试系统具有实现自动化作业，降低工人劳动强度，提高生产效率，降低企业生产成本的优点。附图说明图1为半导体塑封条带高压绝缘测试系统的示意图。图2为图1爆炸图。图3为机架与上料装置配合示意图。图4为上料装置中的半导体塑封条带处于低位时的示意图。图5为上料装置中的料盒的两种切换状态的示意图。图6为上料装置中的半导体塑封条带处于高位时的示意图。图7为上料装置的上部结构示意图。图8为图7的爆炸图。图9为上料装置的下部结构示意图。图10为图9的爆炸图。图11为分料装置的示意图。图12为图11的爆炸图。图13为测试装置的示意图。图14为测试装置的支撑机构示意图。图15为测试装置的下压机构示意图。图16为图15的爆炸图。图17为测试装置的上顶机构示意图。图18为图17的爆炸图。图19为牵引装置的示意图。图20为图19的爆炸图。图21为牵引装置的牵引机构的示意图。图22为牵引装置在牵引夹持气缸伸出状态下的示意图。图23为牵引装置在牵引夹持气缸缩回状态下的示意图。图24为收料装置的示意图。图25为图24的爆炸图。图26为收料装置的单向分料机构示意图。图27为图26的爆炸图。图28为废料收集装置的示意图。图29为废料收集装置和收料装置的位置关系图。其中：机架1、机架通道101、导向杆102、导向杆固定座103、机架连接孔104上料装置2、上料装置机架201、连接杆202、料仓轨道203、料仓移动座204、、料盒205、料盒固定架206、收紧气缸座206.1、收紧气缸206.2、档杆206.3、收紧螺栓206.4、料仓移动限位座207、竖向支架208、上料装置伺服电机209、上料装置支撑杆210、上料装置支撑座211、上料装置转动杆连接座212、上料装置转动杆213、转动连接块214、升降杆固定座215、升降杆216、顶升板217、齿轮218、上料装置横移气缸219分料装置3、门架301、横移导轨302、分料装置拖链安装座303、分料装置电机304、分料装置拖链305、横移机构306、横移机构限位开关307、分料吸取机构308、分料吸取气缸308.1、分料吸取导向套308.2、分料吸取导向杆308.3、上连接杆308.4、下连接板308.5、吸头308.6测试装置4、支撑机构401、支撑机构支架401.1、测试流道401.2、下绝缘块401.3、下压机构402、下压机构支架402.1、下压机构滑轨402.2、下压机构升降座402.3、下压机构气缸402.4、测试板安装座402.5、测试板402.6、上绝缘块402.7、上顶机构403、上顶机构支架403.1、上顶机构滑轨403.2、上顶机构升降座403.3、电极座403.4、测试电极403.6牵引装置5、牵引轨道501、牵引滑动块502、牵引连接件503、牵引皮带504、牵引电机505、牵引支座506、牵引升降气缸507、牵引连接架508、横板508.1、竖板508.2、牵引机构509、牵引杆509.1、钩子509.2、推块509.3、摆动杆509.4、夹持爪509.5、牵引夹持气缸510、牵引拖链511、牵引拖链导轨512收料装置6、收料流道601、前导料流道602、收料盒603、角柱603.1、前连接板603.2、后连接板603.3、提升机构604、提升机构支撑架604.1、提升机构轨道604.2、提升机构滑块604.3、提升板604.4、提升机构气缸604.5、单向分料机构605、分料机构支座605.1、销轴605.2、分料板605.3、支撑块605.4废料收集装置7、废料收集框701、导向板702半导体塑封条带8。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。参见图1-图29，本专利技术涉及的一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统，它包括机架1、上料装置2、分料装置3、测试装置4、牵引装置5、收料装置6以及废料收集装置7；上料装置2、分料装置3、测试装置4、牵引装置5、收料装置6以及废料收集装置7设置于机架1上；其中：一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统的工作方法：上料装置2用于存放测试前的半导体塑封条带8，分料装置3用于将上料装置2内的半导体塑封条带8移动至测试装置4上，测试装置4用于半导体塑封条带8的绝缘测试，牵引装置5用于将绝缘测试结束的半导体塑封条带8从测试装置4上取下，并且将其中满足绝缘测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置，其特征在于测试装置(4)包括支撑机构(401)、下压机构(402)以及上顶机构(403)，支撑机构(401)用于支撑进入测试装置(4)内的半导体塑封条带(8)，下压机构(402)用于将进入测试装置(4)内的半导体塑封条带(8)压紧，上顶机构(403)上顶与半导体塑封条带(8)接触，从而使得半导体塑封条带(8)通电进行绝缘测试。

【技术特征摘要】
1.一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置，其特征在于测试装置(4)包括支撑机构(401)、下压机构(402)以及上顶机构(403)，支撑机构(401)用于支撑进入测试装置(4)内的半导体塑封条带(8)，下压机构(402)用于将进入测试装置(4)内的半导体塑封条带(8)压紧，上顶机构(403)上顶与半导体塑封条带(8)接触，从而使得半导体塑封条带(8)通电进行绝缘测试。2.根据权利要求1所述的一种半导体塑封条带高压绝缘测试系统测试装置，其特征在于所述支撑机构(401)包括支撑机构支架(401.1)，支撑机构支架(401.1)固定于机架(1)上，支撑机构支架(401.1)上设置有纵向的测试流道(401.2)，所述下压机构(402)包括下压机构支架(402.1)，下压机构支架(402.1)固定于机架(1)上，下压机构支架(402.1)上设置有竖向的下压机构滑轨(402.2)，下压机构滑轨(402.2)上设置有下压机构升降座(402.3)，下压机构升降座(402.3)与一个向上的下压机构气缸(402.4)的伸缩端连接，下压机构气缸(402.4)的底部固定于机架(1)上，下压机构升降座(402.3)向右侧通过连接件连接有测试板安装座(402.5)，测试板安装座(402.5)的底部连接有测试板(402.6)，测试板(402.6)电信号连接测试仪，所述上顶机构(403)包括上顶机构支架(403.1)，上顶机构支架(403.1)固定于机架(1)上，上顶机构支架(403.1)的上设置有竖向的上顶机构滑轨(403.2)，上顶...

【专利技术属性】
技术研发人员：施文俊，陈慧峰，王忠华，
申请(专利权)人：江阴新基电子设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32