一种框架产品调整展平机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种框架产品调整展平机构，包括水平设置的托板，所述托板上设置有检测口，所述托板的下方设置有两个前后布置的滑轨，所述托板的底部固定设置有两个滑块，所述滑块与滑轨一一对应，所述滑块安装在滑轨上，所述托板的顶部设置有两个前后布置的展平组件，两个展平组件分别设置在检测口的前侧和后侧，该框架产品调整展平机构，实现了对引线框架的展平，防止引线框架塌陷而导致引线框架变形，从而可以避免因变形而影响光检精度，而且，通过移动板的移动，还可以便于适用于不同尺寸的引线框架，增大了适用范围。增大了适用范围。增大了适用范围。

【技术实现步骤摘要】
一种框架产品调整展平机构


[0001]本技术涉及一种框架产品调整展平机构，属于引线框架生产


技术介绍

[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。
[0003]引线框架在生产过程中，需要通过光检机进行质量检测，光检机的原理是通过机器摄像头将产品转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号；图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，从而甄别出良品与不良品；
[0004]光检使用过程中，需要将引线框架放置在收纳机构上，通过收纳机构实现引线框架的移动，而由于引线框架较薄，放置后会产生塌陷，导致引线框架变形，从而影响光检的精确度
[0005]因此，需要有一种框架产品调整展平机构，防止引线框架变形而影响光检精确度。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种框架产品调整展平机构，其特征在于：包括水平设置的托板(100)，所述托板(100)上设置有检测口(200)，所述托板(100)的下方设置有两个前后布置的滑轨(300)，所述托板(100)的底部固定设置有两个滑块(400)，所述滑块(400)与滑轨(300)一一对应，所述滑块(400)安装在滑轨(300)上，所述托板(100)的顶部设置有两个前后布置的展平组件(500)，两个展平组件(500)分别设置在检测口(200)的前侧和后侧；所述展平组件(500)包括移动板(501)，所述移动板(501)上设置有位移部件(502)，所述位移部件(502)驱动移动板(501)前后移动，所述移动板(501)的靠近检测口(200)的一侧设置有多个夹持部件(503)，多个夹持部件(503)自左至右依次设置。2.根据权利要求1所述的一种框架产品调整展平机构，其特征在于：所述夹持部件(503)包括平行于左右方向的连接轴(503.1)，所述连接轴(503.1)的两端均通过复位弹簧(503.2)与移动板(501)连接，所述连接轴(503.1)的中端固定设置有夹爪(503.3)，所述夹爪(503.3)的底部通过铰接轴(503.4)与移动板(501)铰接，所述铰接轴(503.4)与连接轴(503.1)平行，所述夹爪(503.3)的远离检测口(200)的一侧设置有夹持气缸(503.5)，所述夹持气缸(503.5)平行于前后方向，所述夹持气缸(503.5)的缸体与移动板(501)固定连接，所述夹持气缸(503.5)驱动夹爪(503.3)向着靠近检测口(200)方向移动。3.根据权利要求2所述的一种框架产品调整展平机构，其特征在于：所述夹爪(503.3)和连接轴(503.1)为一体成型...

【专利技术属性】
技术研发人员：施文俊，伏道俊，马浩锋，
申请(专利权)人：江阴新基电子设备有限公司，
类型：新型
国别省市：