【技术实现步骤摘要】
一种半导体的加工方法
本专利技术涉及半导体
,具体涉及一种半导体的加工方法。
技术介绍
半导体制造工艺是集成电路实现的手段,也是集成电路设计的基础。自从1948年晶体管专利技术以来,半导体器件工艺技术的发展经历了三个主要阶段:1950年采用合金法工艺,第一次生产出了实用化的合金结三极管;1955年扩散技术的采用是半导体器件制造技术的重大发展,为制造高频器件开辟了新途径;1960年平面工艺和外延技术的出现是半导体制造技术的重大变革,不但大幅度地提高了器件的频率、功率特性,改善了器件的稳定性和可靠性,而且也使半导体集成电路的工业化批量生产得以成为现实。目前平面工艺仍然是半导体器件和集成电路生产的主流工艺。晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆;在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能之IC产品。晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,其纯度高达99.999999999%。晶圆工艺是从大的方面来讲,晶圆生产包括晶棒制造和晶片制造两 ...
【技术保护点】
1.一种半导体的加工方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)晶圆处理制程,先将晶圆适当清洗,再在其表面进行氧化及化学气相沉积,然后进行涂膜、曝光、显影、蚀刻、离子植入和金属溅镀,最后在晶圆上完成数层电路及元件加工与制作;(2)晶圆针测制程,用针测仪对晶圆的每个晶粒检测其电气特性,并将不合格的晶粒标上记号后,将晶圆切开,分割成一颗颗单独的晶粒,再按其电气特性分类,装入不同的托盘中,不合格的晶粒则舍弃;(3)构装,将单个的晶粒固定在塑胶或陶瓷制的芯片基座上,并把晶粒上蚀刻出的引接线端与基座底部伸出的插脚连接,以作为与外界电路板连接之用,封胶,最后盖上塑胶盖板,用胶水封死;(4)测 ...
【技术特征摘要】
1.一种半导体的加工方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)晶圆处理制程,先将晶圆适当清洗,再在其表面进行氧化及化学气相沉积,然后进行涂膜、曝光、显影、蚀刻、离子植入和金属溅镀,最后在晶圆上完成数层电路及元件加工与制作;(2)晶圆针测制程,用针测仪对晶圆的每个晶粒检测其电气特性,并将不合格的晶粒标上记号后,将晶圆切开,分割成一颗颗单独的晶粒,再按其电气特性分类,装入不同的托盘中,不合格的晶粒则舍弃;(3)构装,将单个的晶粒固定在塑胶或陶瓷制的芯片基座上,并把晶粒上蚀刻出的引接线端与基座底部伸出的插脚连接,以作为与外界电路板连接之用,封胶,最后盖上塑胶盖板,用胶水封死;(4)测试制程,将封装后的芯片置于测试装置的模拟环境下测试其电气特性,包括消耗功率、运行速度和耐压度,经测试后的芯片,依其电气特性划分为不同等级。2.根据权利要求1所述的半导体的加工方法,其特征在于:在进行化学气相沉积过程时,包含有被沉积材料之原子的气体,会被导入受到严密控制的制程反应室内,当这些原子在受热的晶圆表面上起化学反应时,会在晶圆表面产生一层固态薄膜。3.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:翁国权,
申请(专利权)人:广西桂芯半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广西,45
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