一种自动标记坏点的芯片测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机主体、硬质板、自动标记装置和衬板，芯片测试机主体上侧的侧壁开设有安装槽，安装槽的上侧的槽壁通过轴承转动连接有螺纹杆，安装槽下侧的槽壁固定连接有微型电机，微型电机的输出轴与螺纹杆固定连接，硬质板左侧靠近螺纹杆一侧的侧壁通过第一减震装置固定连接有移动板，移动板下侧的侧壁开设有通孔，且通孔内固定连接有螺纹筒，螺纹筒螺纹套设于螺纹杆外，硬质板右侧的侧壁通过第二减震装置固定连接有导向板。本实用新型专利技术较好的提高了测试机的适用范围，有利于测试机的推广，较好的提高了装置的稳定性。

A chip testing machine for automatically marking bad points

【技术实现步骤摘要】
一种自动标记坏点的芯片测试机
本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种自动标记坏点的芯片测试机。
技术介绍
芯片是一种把电路小型化后固定在在半导体晶圆表面上的集成电路，芯片生产完成后需要使用芯片测试机对芯片进行检测，检测芯片是否存在坏点，以保证芯片的质量。经检索，中国专利授权号为CN206272458U的专利，公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机，自动标记装置和固定装置，自动标记装置可以根据所述芯片测试机的检测结果对芯片上的坏点进行标记,固定装置包括硬质板，硬质板固定在所述芯片测试机上，自动标记装置固定于所述硬质板上,自动标记装置通过所述芯片测试机顶部的开口对放置于芯片测试机中的待测芯片的坏点进行标记。上述专利中的一种自动标记坏点的芯片测试机存在以下不足：上述测试机的自动标记装置的位置是固定的，不能够根据不同规格的芯片进行位置调整，适用范围较小，不利于测试机的推广。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中自动标记装置不能够根据不同规格的芯片进行位置调整，适用范围较小，不利于测试机的推广的问题，而提出的一种自动标记坏点的芯片测试机。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机主体、硬质板、自动标记装置和衬板，所述芯片测试机主体上侧的侧壁开设有安装槽，所述安装槽的上侧的槽壁通过轴承转动连接有螺纹杆，所述安装槽下侧的槽壁固定连接有微型电机，所述微型电机的输出轴与螺纹杆固定连接，所述硬质板左侧靠近螺纹杆一侧的侧壁通过第一减震装置固定连接有移动板，所述移动板下侧的侧壁开设有通孔，且通孔内固定连接有螺纹筒，所述螺纹筒螺纹套设于螺纹杆外，所述硬质板右侧的侧壁通过第二减震装置固定连接有导向板，所述安装槽上下两侧的槽壁之间固定连接有同一根导向杆，所述导向板上侧的侧壁开设有导向孔，所述导向杆通过导向孔贯穿导向板，所述导向孔的孔壁与导向杆的杆壁滑动连接。优选的，所述第一减震装置与第二减震装置的结构相同，所述第一减震装置包括开设在硬质板侧壁的滑动槽，所述滑动槽内滑动连接有减震杆，所述减震杆的一端与移动板固定连接，所述减震杆与滑动槽的槽底之间固定连接有同一根减震弹簧。优选的，所述导向孔的孔壁对称固定连接有两个滑块，所述导向杆的杆壁开设有与滑块相匹配的滑槽。优选的，所述滑动槽相对一侧的槽壁均固定连接有限位滑块，所述减震杆的杆壁开设有与限位滑块相匹配的限位滑槽。优选的，所述减震杆与滑动槽的槽底之间固定连接有同一根伸缩杆，所述减震弹簧活动套设于伸缩杆外。优选的，所述减震杆的具体材质为铝。与现有技术相比，本技术提供了一种自动标记坏点的芯片测试机，具备以下有益效果：1、该自动标记坏点的芯片测试机，通过设置的芯片测试机主体、硬质板、安装槽、螺纹杆、微型电机、移动板、螺纹筒、导向板、导向杆和导向孔，使用时，控制微型电机转动，微型电机带动螺纹杆转动，通过螺纹杆与螺纹筒之间的螺纹配合，使螺纹筒移动，螺纹筒带动移动板移动，移动板带动硬质板移动，硬质板带动自动标记装置移动，从而对自动标记装置的位置进行调整，较好的提高了测试机的适用范围，有利于测试机的推广。2、该自动标记坏点的芯片测试机，通过设置的滑动槽、减震杆和减震弹簧，使用时，减震杆震动挤压减震弹簧，使减震弹簧弹性变形进行减震，通过设置的第一减震装置和第二减震装置，能够对自动标记装置进行有效的减震，较好的提高了装置的稳定性。该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本技术较好的提高了测试机的适用范围，有利于测试机的推广，较好的提高了装置的稳定性。附图说明图1为本技术提出的一种自动标记坏点的芯片测试机的结构示意图；图2为图1中A部分的结构示意图。图中：1芯片测试机主体、2硬质板、3安装槽、4螺纹杆、5微型电机、6移动板、7螺纹筒、8导向板、9导向杆、10导向孔、11滑动槽、12减震杆、13减震弹簧、14滑槽、15限位滑槽、16伸缩杆。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-2，一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机主体1、硬质板2、自动标记装置和衬板，芯片测试机主体1上侧的侧壁开设有安装槽3，安装槽3的上侧的槽壁通过轴承转动连接有螺纹杆4，安装槽3下侧的槽壁固定连接有微型电机5，微型电机5通过控制开关与外设电源电性连接，此电连接为本领域所熟知的技术手段，此处不进行过多赘述，微型电机5的输出轴与螺纹杆4固定连接，硬质板2左侧靠近螺纹杆4一侧的侧壁通过第一减震装置固定连接有移动板6，移动板6下侧的侧壁开设有通孔，且通孔内固定连接有螺纹筒7，螺纹筒7螺纹套设于螺纹杆4外，硬质板2右侧的侧壁通过第二减震装置固定连接有导向板8，安装槽3上下两侧的槽壁之间固定连接有同一根导向杆9，导向板8上侧的侧壁开设有导向孔10，导向杆9通过导向孔10贯穿导向板8，导向孔10的孔壁与导向杆9的杆壁滑动连接。第一减震装置与第二减震装置的结构相同，第一减震装置包括开设在硬质板2侧壁的滑动槽11，滑动槽11内滑动连接有减震杆12，减震杆12的一端与移动板6固定连接，减震杆12与滑动槽11的槽底之间固定连接有同一根减震弹簧13。导向孔10的孔壁对称固定连接有两个滑块，导向杆9的杆壁开设有与滑块相匹配的滑槽14，通过滑块与滑槽相互配合，便于导向板8相对应导向杆9滑动。滑动槽11相对一侧的槽壁均固定连接有限位滑块，减震杆12的杆壁开设有与限位滑块相匹配的限位滑槽15，通过限位滑块与限位滑槽15相互配合，房子减震杆12脱离滑动槽11。减震杆12与滑动槽11的槽底之间固定连接有同一根伸缩杆16，减震弹簧13活动套设于伸缩杆16外，对减震弹簧12进行限位，防止减震弹簧13弯折。减震杆12的具体材质为铝，便于减震杆12与移动板6和导向板8固定。本技术中，使用时，控制微型电机5转动，微型电机5带动螺纹杆4转动，通过螺纹杆4与螺纹筒7之间的螺纹配合，使螺纹筒7移动，螺纹筒7带动移动板6移动，移动板6带动硬质板2移动，硬质板2带动自动标记装置移动，从而对自动标记装置的位置进行调整，较好的提高了测试机的适用范围，有利于测试机的推广，使用时，减震杆12震动挤压减震弹簧13，使减震弹簧13弹性变形进行减震，通过设置的第一减震装置和第二减震装置，能够对自动标记装置进行有效的减震，较好的提高了装置的稳定性。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机主体(1)、硬质板(2)、自动标记装置和衬板，其特征在于，所述芯片测试机主体(1)上侧的侧壁开设有安装槽(3)，所述安装槽(3)的上侧的槽壁通过轴承转动连接有螺纹杆(4)，所述安装槽(3)下侧的槽壁固定连接有微型电机(5)，所述微型电机(5)的输出轴与螺纹杆(4)固定连接，所述硬质板(2)左侧靠近螺纹杆(4)一侧的侧壁通过第一减震装置固定连接有移动板(6)，所述移动板(6)下侧的侧壁开设有通孔，且通孔内固定连接有螺纹筒(7)，所述螺纹筒(7)螺纹套设于螺纹杆(4)外，所述硬质板(2)右侧的侧壁通过第二减震装置固定连接有导向板(8)，所述安装槽(3)上下两侧的槽壁之间固定连接有同一根导向杆(9)，所述导向板(8)上侧的侧壁开设有导向孔(10)，所述导向杆(9)通过导向孔(10)贯穿导向板(8)，所述导向孔(10)的孔壁与导向杆(9)的杆壁滑动连接。

【技术特征摘要】
1.一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机主体(1)、硬质板(2)、自动标记装置和衬板，其特征在于，所述芯片测试机主体(1)上侧的侧壁开设有安装槽(3)，所述安装槽(3)的上侧的槽壁通过轴承转动连接有螺纹杆(4)，所述安装槽(3)下侧的槽壁固定连接有微型电机(5)，所述微型电机(5)的输出轴与螺纹杆(4)固定连接，所述硬质板(2)左侧靠近螺纹杆(4)一侧的侧壁通过第一减震装置固定连接有移动板(6)，所述移动板(6)下侧的侧壁开设有通孔，且通孔内固定连接有螺纹筒(7)，所述螺纹筒(7)螺纹套设于螺纹杆(4)外，所述硬质板(2)右侧的侧壁通过第二减震装置固定连接有导向板(8)，所述安装槽(3)上下两侧的槽壁之间固定连接有同一根导向杆(9)，所述导向板(8)上侧的侧壁开设有导向孔(10)，所述导向杆(9)通过导向孔(10)贯穿导向板(8)，所述导向孔(10)的孔壁与导向杆(9)的杆壁滑动连接。2.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于，所述第一减震装置与第二减...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯武生，
申请(专利权)人：广西桂芯半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广西,45