一种芯片测试基座的限位装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试基座的限位装置，包括装料板、测试板、测试板、主板和第四弹簧，所述装料板的上表面左侧设置有第一凸槽，所述第一凸槽的右侧设置有芯片固定口，所述芯片固定口的右侧上方设置有第一螺栓孔，所述第一螺栓孔的右侧下方设置有第二凸槽；所述测试板的上表面左侧设置有第一凹槽；装料板和测试板拼装时，测试口和芯片固定口通过四个销栓孔固定，避免测试芯片时，因密封处不严密出现测试失误的问题，在测试口上设置有主板，装料板和测试板拼装时，芯片落在主板上，直接对主板通电测试芯片，避免测试芯片时，把芯片焊接在主板上，测试结束后把芯片拆卸的问题，给使用者带来便利。

A limiting device for a chip test base

The utility model discloses a limiting device for a chip test base, which comprises a loading board, a test board, a test board, a main board and a fourth spring. The left side of the upper surface of the loading plate is provided with a first convex groove, and the right side of the first convex groove is provided with a chip fixed mouth. The right upper part of the chip fixed mouth is provided with a first screw. A second convex groove is arranged on the right side of the right side of the first bolt hole; when the loading plate and the test plate are assembled, the test mouth and the chip fixed mouth are fixed by the four pin holes to avoid the test chip when the seal is not tight and the test error is measured. The chip is installed on the main board when installing the main board, the loading board and the test board on the main board. The chip is directly connected to the main board. When the chip is avoided, the chip is welded on the main board, and the chip is dismantled after the test is finished, which brings convenience to the user.

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试基座的限位装置
本技术属于限位装置
，具体涉及一种芯片测试基座的限位装置。
技术介绍
我国现有的芯片测试基座的限位装置，芯片固定紧密，容易造成芯片上锡点损害，测试芯片因密封处不严密，容易造成测试失误，而且测试芯片时，需要把芯片焊接在主板上，测试结束后把芯片拆卸，给使用者带来不便。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种芯片测试基座的限位装置，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的芯片测试基座的限位装置，芯片固定紧密，容易造成芯片上锡点损害，测试芯片因密封处不严密，容易造成测试失误，而且测试芯片时，需要把芯片焊接在主板上，测试结束后把芯片拆卸，给使用者带来不便的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试基座的限位装置，包括装料板、测试板、主板和第四弹簧，所述装料板的上表面左侧设置有第一凸槽，所述第一凸槽的右侧设置有芯片固定口，所述芯片固定口的右侧上方设置有第一螺栓孔，所述第一螺栓孔的右侧下方设置有第二凸槽,所述测试板的上表面左侧设置有第一凹槽，所述第一凹槽的右侧设置有测试口，所述测试口的右侧上方设置有第二螺栓孔，所述第二螺栓孔的右侧下方设置有第二凹槽，所述主板安装在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片测试基座的限位装置，包括装料板(1)、测试板(6)、主板(11)和第四弹簧(21)，其特征在于：所述装料板(1)的上表面左侧设置有第一凸槽(2)，所述第一凸槽(2)的右侧设置有芯片固定口(3)，所述芯片固定口(3)的右侧上方设置有第一螺栓孔(4)，所述第一螺栓孔(4)的右侧下方设置有第二凸槽(5),所述测试板(6)的上表面左侧设置有第一凹槽(7)，所述第一凹槽(7)的右侧设置有测试口(8)，所述测试口(8)的右侧上方设置有第二螺栓孔(9)，所述第二螺栓孔(9)的右侧下方设置有第二凹槽(10)，所述主板(11)安装在测试口(8)的外表面中间位置处，所述主板(11)的左侧设置有隔板(12)...

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试基座的限位装置，包括装料板(1)、测试板(6)、主板(11)和第四弹簧(21)，其特征在于：所述装料板(1)的上表面左侧设置有第一凸槽(2)，所述第一凸槽(2)的右侧设置有芯片固定口(3)，所述芯片固定口(3)的右侧上方设置有第一螺栓孔(4)，所述第一螺栓孔(4)的右侧下方设置有第二凸槽(5),所述测试板(6)的上表面左侧设置有第一凹槽(7)，所述第一凹槽(7)的右侧设置有测试口(8)，所述测试口(8)的右侧上方设置有第二螺栓孔(9)，所述第二螺栓孔(9)的右侧下方设置有第二凹槽(10)，所述主板(11)安装在测试口(8)的外表面中间位置处，所述主板(11)的左侧设置有隔板(12)，所述隔板(12)的左侧上方设置有销栓孔(13)，所述第四弹簧(21)安装在芯片固定口(3)的外表面左侧，所述第四弹簧(21)的右侧设置有第四挡板(20)，所述第四挡板(20)的右侧下方设置有第三挡板(18)，所述第三挡板(18)的下方设置有第三弹簧(19)，所述第四挡板(20)的右侧上方设置有第一挡板(15)，所述第一挡板(15)的上方设置有第一弹簧(14)，所述第三挡板(18)的右侧上方靠近第一挡板(...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨更华，
申请(专利权)人：天津朴海永科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12