一种基板半板检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基板半板检测装置，包括：底座、承载台、检测组件、探针组件及暂存工位；所述底座上设有轨道，所述承载台滑动设置于轨道上，且包含第一载台A及第二载台B；所述检测组件设置于轨道上方，包括龙门头和检测头，所述龙门头设置于底座上，所述检测头滑动设置于龙门头上；所述探针组件设置于轨道上方；所述暂存工位设置于所述轨的第二端。本发明专利技术提供的玻璃基板半板检测装置，能够实现玻璃基板半板的全自动检测，大大提高了玻璃基板灰度及缺陷检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基板半板检测装置
本专利技术涉及显示面板检测领域，尤其涉及一种基板半板检测装置。
技术介绍
通常屏幕的制作有很多段制程，其中玻璃基板的制作便是其中的一个重要步骤。而在屏幕玻璃基板的生产过程中，总是会在玻璃基板表面或玻璃基板内部产生各种类型的缺陷，缺陷可包括表面不连续性、线状缺陷、条纹、结石、气泡以及玻璃基板体的光学不均匀性等。而为了不让有缺陷的玻璃基板流入到后面的制程上，通常需要对玻璃基板是否存在上述缺陷进行检测。随着显示面板尺寸的不断增加，整张面板的搬运、生产及检测的难度逐渐增大，通常会把整张大的基板切成两张半板甚至更小，以便于搬运和生产，而现有技术中显示面板的检测设备仅能适用于整张面板的检测，不能同时对两张半板进行检测，用现有的设备每次只能检测半张基板，严重影响检测效率。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：为解决现有技术中玻璃基板半板检测效率低下的问题。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基板半板检测装置，包括：底座、承载台、检测组件、探针组件及暂存工位；所述底座上设有轨道，所述承载台滑动设置于轨道上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道具有相对的第一端和第二端；所述检测组件设置于轨道上方，包括龙门头和检测头，所述龙门头设置于底座上，所述检测头滑动设置于龙门头上，用于对半板进行光学检测；所述探针组件设置于轨道上方，用于对半板进行电性检测；所述暂存工位设置于所述轨的第二端；其中，所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位。进一步改进为，所述承载台上均匀设置有多个用于承接玻璃基板的可升降支脚。进一步改进为，所述承载台上均匀分布有多个吸附孔，所述吸附孔与抽真空设备相连接。进一步改进为，所述承载台下设置有驱动承载台旋转的驱动器。进一步改进为，所述承载台四周设置有可伸缩的夹脚，用于夹住玻璃基板。进一步改进为，所述承载台底部设有垂直于轨道方向的移动机构，且所述轨道两侧各设有一个摄像头，所述摄像头用于获取玻璃基板的位置信息。进一步改进为，所述底座下设置有除震台。进一步改进为，所述暂存工位还包括卡匣，所述卡匣用于存放多组探针组。进一步改进为，还包括探针更换组件，所述探针更换组件通过支架设置于底座上，所述探针更换组件具有用于夹取探针组的机械手，所述机械手通过第二轨道在卡匣与探针组件之间移动。进一步改进为，所述卡匣两侧设有举升组件，用以将待取探针组举升或下移至取料高度。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的玻璃基板半板检测装置实现了玻璃基板光学性能及电学性能的全自动检测，大大提高了检测效率，节省了人力。同时，实现了两个半板的同时检测，及不同产品可使用一个装置进行检测，提高了检测效率。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1为本专利技术的基板半板检测装置结构示意图；图2为本专利技术的承载台结构示意图；图3为本专利技术的检测组件及探针组件结构示意图；图4为图1中C部放大图；图5为本专利技术的驱动器及除震台结构示意图；图中的附图标记为：1-底座，2-承载台，3-检测组件，4-探针组件，5-支架，6-除震台，7-暂存工位，8-探针更换组件，11-轨道，12-摄像头，21-支脚，22-驱动器，23-夹脚，24-移动机构，25-吸附孔，31-龙门头，311-Y向轨道，32-检测头，41-固定座，42-探针组，51-X向移动轨道，71-举升组件，72-卡匣，81-机械手，82-第二轨道。具体实施方式现在结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。在专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在专利技术中的具体含义。实施例如图1所示，本实施例提供一种基板半板检测装置，其特征在于，包括：底座1、承载台2、检测组件3、探针组件4及暂存工位7；所述底座1上设有轨道11，所述承载台2滑动设置于轨道11上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道11具有相对的第一端(图1中装置的左端)和第二端(图1中装置的右端)；所述暂存工位7设置于所述轨道11的第二端；其中，所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位7；探针组件4对基板进行灰度及缺陷检测；如图3所示，所述检测组件3设置于轨道11上方，包括龙门头31和检测头32，所述龙门头31通过支架5设置于底座1上，所述支架5上安装有X向移动轨道51和驱动设备，在驱动设备的驱动下，所述龙门头31能够沿X向(轨道11的第二端方向)移动，所述检测头32通过龙门头上的Y向轨道311滑动设置于龙门头31上，所述检测头32通过在驱动设备的驱动下沿Y向移动，实现对半板的全面扫描，完成光学性能的检测，例如对半板灰度、微观缺陷等的检查。所述探针组件4设置于轨道11上方，包括固定座41及设置于固定座41上的探针组42，所述固定座41架设与轨道11上方，当承载有玻璃基板的承载台2移动到探针组件4下方时，所述探针组42压接于玻璃基板上的接触点上，用于为玻璃基板提供电源、显示内容信号使其工作，此时检测头拍摄该玻璃基板的显示效果并发送给检测设备，同时也对玻璃基板进行电性检测。所述检测设备与检测头32连接，获取检测头拍摄的玻璃基板的显示效果信息，并分析该被检测的玻璃基板的灰度以及是否具有缺陷。其中，检测设备为电脑、服务器或其他具有计算分析功能的设备。如图2所示，进一步改进为，所述承载台2上均匀设置有多个用于承接玻璃基板的可升降支脚21。通常玻璃基板的生产车间均具有机器人手臂，并通过该机器人手臂的梳子型机械手将玻璃基板放置在承载台2上，若直接放置而无相应承接则玻璃基板会划伤、放置不到位甚至掉落。而本技术方案中，梳子型机械手将玻璃基板放置在承载台2上时，支脚21上升承接住玻璃基板后，梳子型机械手再抽离，支脚21下本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基板半板检测装置，其特征在于，包括：底座(1)、承载台(2)、检测组件(3)、探针组件(4)及暂存工位(7)；所述底座(1)上设有轨道(11)，所述承载台(2)滑动设置于轨道(11)上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道(11)具有相对的第一端和第二端；所述检测组件(3)设置于轨道(11)上方，包括龙门头(31)和检测头(32)，所述龙门头(31)设置于底座(1)上，所述检测头(32)滑动设置于龙门头(31)上，用于对半板进行光学检测；所述探针组件(4)设置于轨道(11)上方，用于对半板进行电性检测；所述暂存工位(7)设置于所述轨道(11)的第二端；其中，所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位(7)。

【技术特征摘要】
1.一种基板半板检测装置，其特征在于，包括：底座(1)、承载台(2)、检测组件(3)、探针组件(4)及暂存工位(7)；所述底座(1)上设有轨道(11)，所述承载台(2)滑动设置于轨道(11)上，且包含第一载台A及第二载台B，所述第一载台A及第二载台B分别用于承载半张基板；所述轨道(11)具有相对的第一端和第二端；所述检测组件(3)设置于轨道(11)上方，包括龙门头(31)和检测头(32)，所述龙门头(31)设置于底座(1)上，所述检测头(32)滑动设置于龙门头(31)上，用于对半板进行光学检测；所述探针组件(4)设置于轨道(11)上方，用于对半板进行电性检测；所述暂存工位(7)设置于所述轨道(11)的第二端；其中，所述第一载台A及所述第二载台B依序在所述第一端与所述第二端之间移动，完成两张半板的检测；且所述第一载台A上的半板进行检测时，所述第二载台B位于所述暂存工位(7)。2.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述承载台(2)上均匀设置有多个用于承接玻璃基板的可升降支脚(21)。3.根据权利要求1所述的基板半板检测装置，其特征在于，所述承载台(2)上均匀分布有多个吸附孔(25)，所述吸附孔(25)与抽真空设备相连接。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱志飞，郭连俊，杨慎东，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32