用于质谱法检测的底物和内标制造技术

本发明专利技术的名称是用于质谱法检测的底物和内标。提供发明专利技术的底物，其包括式Ａ－Ｂ↑［１］－Ｂ↑［２］－Ｂ↑［３］的底物化合物：其中Ａ是糖部分；Ｂ↑［１］是使部分Ａ和底物的剩余结构连接的连接部分；Ｂ↑［２］含有永久带电元素例如季铵基团，以便为质谱分析增加质子亲和力和离子化效率；和Ｂ↑［３］具有赋予靶酶特异性的不同碳长度。也提供的是检测溶酶体缺陷症的方法，这通过将样品与发明专利技术的底物连同内标接触来完成，所述内标是被该底物的靶酶切割的产物的同位素标记类似物。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
用于酶的质谱分析的底物，具有下式：　Ａ－（Ｂ↑［１］－Ｂ↑［２］－Ｂ↑［３］）　（Ⅰ）　其中Ａ是单糖或二糖，Ｂ↑［１］是Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基、具有取代的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］芳基的Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］、含有Ｎ、Ｏ 或Ｓ杂原子的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］杂环；Ｂ↑［２］是　－＊－（ＸＲ↑［３］）↓［ｎ］Ｒ↑［４］－　其中Ｒ↑［１］是Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基；Ｃ↓［４］－Ｃ↓［２０］醚；具有Ｎ、Ｏ或Ｓ的取代基的Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基； 杂原子Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］芳基、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］羰基、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］酰胺基、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］醚、Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］芳基、含有Ｎ、Ｏ或Ｓ杂原子的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］杂环；在每一情况中，Ｒ↑［２］独立为Ｈ、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基、具有Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基的取代基的Ｃ２－Ｃ↓［２０］烷基；在每一情况中，Ｘ独立为不存在、氧、硫或氮；在每一情况中，Ｒ↑［３］独立为不存在、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基、具有取代的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］芳基的Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］、含有Ｎ、Ｏ或Ｓ杂原子的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］杂环；ｎ是０和３０之间的整数，包括０和３０；在每一情况中，Ｒ↑［４］独立为不存在、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基、具有取代的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］芳基的Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］羰基、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］酰胺基、Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］醚、Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］芳基、含有Ｎ、Ｏ或Ｓ杂原子的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］杂环；和Ｂ↑［３］是不存在或Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基、Ｃ↓［４］－Ｃ↓［２０］醚；具有Ｎ、Ｏ或Ｓ的取代基的Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］烷基；Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］酯；Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］醇；Ｃ↓［１］－Ｃ↓［２０］链烯基；杂原子Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］芳基、含有Ｎ、Ｏ或Ｓ杂原子的Ｃ↓［６］－Ｃ↓［２０］杂环。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：B赛达，
申请(专利权)人：珀金埃尔默LAS公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]