DDR测试系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种DDR测试系统和方法，其中，所述DDR测试系统包含自动控制装置、信号检测装置、测试治具平台；测试治具平台用于固定待测单元；自动控制装置用于获取待测单元的电路图，并用于获取测试治具平台的位置，并用于根据电路图控制信号检测装置的探头与DDR芯片的待测信号线接触；信号检测装置用于获取芯片的待测信号。采用分发明专利技术的DDR测试系统和方法，可以极大提高信号检测装置的探头与待测点接触的准确度和稳定度，且可以自动移动信号检测装置的探头，极大减少人工操作造成的误差和错误，提高测试效率和准确率。

DDR test system and method

The invention discloses a DDR testing system and method, wherein, the DDR test system includes automatic control device, signal detection device, test fixture platform; platform test fixture for fixing the unit to be tested; the automatic control device for acquiring circuit unit to be tested, and test fixture for obtaining the position of the platform, and for according to the detected signal line contact probe and the circuit diagram of the control chip DDR signal detection device; signal detection device for signal acquisition chip. The DDR test system and method of the invention, the device can greatly improve the signal detection probe and the accuracy of point contact to be measured and the stability of the probe, and can automatically move the signal detection device, greatly reduce the error caused by manual operation and error, improve the accuracy and efficiency of the test.

【技术实现步骤摘要】
DDR测试系统和方法
本专利技术属于DDRSDRAM(DoubleDataRateSynchronousDynamicRandomAccessMemory，双倍速率同步动态随机存储器)测试领域，尤其涉及一种DDR测试系统和方法。
技术介绍
DDR，即DDRSDRAM，已广泛应用于电子产品中。在该电子产品的PCB(印刷电路板)焊接完成后，在DDR信号完整性测试的过程中，测试工程师需要做下面的工作：对照PCBlayout(电路布图)找待测点(如DDR地址线、控制线、数据线对应的引脚、引线)的位置；在该PCB上靠近待测芯片端将待测点PCB表面的绝缘层刮去，露出金属导线；在PC(个人电脑)端执行DDR的测试指令，开启DDR信号完整性测试程序。测试工程师一只手操作一个或者两个示波器探棒(差分探棒直接焊在板子上面)，另一只手操作示波器(条件允许的情况下，两个工程师配合测试)。若是一个测试工程师独自测试，则会出现一会儿操作示波器，一会儿查看PC、查看测试点的情况。因人工握持示波器探棒不够稳定，容易导致示波器探头滑动、接触不良等状况，导致测试结果不准、测试效率降低。测试一颗DDR3(DDR存储的一种规格)SDRAM需要8～9个小时左右；若是两个测试工程师配合测试，不会出现这种来回更换的现象，测试一颗DDR3SDRAM需要3～4小时左右。效率低下，且易出现错误。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是现有技术的中，测试DDR信号完整性的示波器探头易发生滑动、接触不良等状况，方法效率低下、易出现错误的缺陷。本专利技术提供一种高效稳定的DDR测试方法及系统。本专利技术通过以下技术方案解决上述技术问题：一种DDR测试系统，所述DDR测试系统包含自动控制装置、信号检测装置、测试治具平台；所述测试治具平台用于固定待测单元，DDR芯片焊接于待测单元上；所述自动控制装置用于获取所述待测单元的电路图，并用于获取所述测试治具平台的位置，并用于获取所述待测单元在所述测试治具平台上的位置，并用于根据所述电路图控制所述信号检测装置的探头与DDR芯片的待测信号线接触，所述待测信号线为所述待测单元上与所述DDR芯片的待测引脚相连的金属线；信号检测装置用于获取所述DDR芯片的待测信号。较佳地，所述信号检测装置包含示波器。较佳地，所述测试治具平台还包含挡板，用于限定所述待测单元的位置。较佳地，所述测试治具平台还包含可变长度的固定杆，用于根据所述待测单元的尺寸调节长度，以固定所述待测单元的位置。较佳地，所述探头为差分探头。较佳地，所述待测单元固定于所述测试治具平台上时的方向与所述自动控制装置获取的所述待测单元的电路图的方向一致。本专利技术还提供一种DDR测试方法，所述DDR测试方法包含以下步骤：S1、将待测单元的PCB表面绝缘层刮除，露出DDR芯片的待测信号的金属引线，所述DDR芯片焊接于所述PCB；S2、将所述待测单元固定于测试治具平台上；S3、自动控制装置获取所述测试治具平台的位置，获取所述待测单元在测试治具平台上的位置，获取所述待测单元的电路图；S4、所述自动控制装置根据所述电路图控制信号检测装置的探头依次与所述DDR芯片的待测信号的金属引线接触，获取所述DDR芯片的待测信号。较佳地，所述待测单元固定于测试治具平台上时的方向与所述自动控制装置获取的所述待测单元的电路图的方向一致。本专利技术的积极进步效果在于：采用分专利技术的DDR测试系统和方法，可以极大提高信号检测装置的探头与待测点接触的准确度和稳定度，且可以自动移动信号检测装置的探头，极大减少人工操作造成的误差和错误，提高测试效率和准确率。附图说明图1为本专利技术一较佳实施例的DDR测试系统的示意图。图2为本专利技术一较佳实施例的DDR测试系统的测试治具平台的示意图。图3为本专利技术一较佳实施例的DDR测试方法的流程图。具体实施方式下面通过一较佳实施例进一步说明本专利技术，但并不因此将本专利技术限制在所述的实施例范围之中。本实施例的DDR测试系统，如图1所示，包含自动控制装置11、信号检测装置12、测试治具平台13。测试治具平台13用于固定待测单元131，DDR芯片132焊接于待测单元131上。自动控制装置11用于获取待测单元131的电路图，并用于获取测试治具平台13的位置，并用于获取待测单元131在测试治具平台13上的位置，并用于根据待测单元131的电路图控制信号检测装置12的探头与DDR芯片132的待测信号线接触，所述待测信号线为待测单元131上与DDR芯片132的待测引脚相连的金属线。测试治具平台13为自动控制装置11控制信号检测装置12的探头的移动提供了基准参考位置。并且，测试治具平台13用于固定待测单元131，防止在测试过程中待测单元131移动，导致测试结果错误。同时，待测单元131可以在测试治具平台13上方便地安装或拆卸(更换)。在测试同一种待测单元131的过程中，每次更换待测单元131的过程中，不改变测试治具平台13的位置，并且待测单元131均安装于测试治具平台13上的同一位置，因此，不必对自动控制装置11进行位置信息调校，可以节省大量时间，极大提高测试效率。信号检测装置12用于获取DDR芯片132的待测信号。作为一种较佳的实施例，信号检测装置12为示波器，示波器具有极高的精度和灵敏度，可以提高检测的精确度。该示波器获取并存储DDR芯片132的待测信号，并可以实时显示、分析该待测信号。测试地址信号线、数据信号线、控制信号线的时序过程中，分别需要CLOCK(时钟)信号、DQS(数据选取脉冲)信号、CLOCK信号作为基准，而CLOCK信号、DQS信号是差分信号，因此，本实施例中的信号检测装置12的探头既有单端探头，也有差分探头。为防止在测试过程中，待测单元131在测试治具平台13上滑动，从而影响测试结果，本实施例中，如图2所示，测试治具平台13还包含挡板133，用于限定待测单元131的位置，防止待测单元131滑动。另外，为适应不同尺寸的待测单元131，测试治具平台13还包含可变长度的固定杆134。可变长度的固定杆134的长度可以调节，使得测试治具平台13可以适应不同尺寸的待测单元131，提高测试治具平台13的兼容性，不必为不同尺寸的待测单元131设计不同的测试治具平台13。自动控制装置11获取待测单元131的电路图，通过图像识别技术获取DDR芯片132的待测信号线在该电路图中的相对位置。或者，自动控制装置11读取待测单元131的电路图为包含有位置信息、尺寸信息、形状信息等的电路图数据文件，自动控制装置11通过上述位置信息、尺寸信息、形状信息等获取DDR芯片132的待测信号线在该电路图中的相对位置。自动控制装置11根据测试治具平台13的位置，待测单元131在测试治具平台13上的位置，以及DDR芯片132的待测信号线在该电路图中的相对位置，确定DDR芯片132的待测信号线的位置，以该待测信号线的位置作为控制信号检测装置12的探头移动的目标。较佳地，在本实施例中，待测单元131固定于测试治具平台13上时的方向与自动控制装置11获取的待测单元131的电路图的方向一致。这样可以省去进行方向调校的环节，因为在前述两者的方向不一致时，需要对自动控制装置11进行设置，使自动控制装置11明确前述两者所成角度，以指导对探头移动的控制。本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种DDR测试系统，其特征在于，所述DDR测试系统包含自动控制装置、信号检测装置、测试治具平台；所述测试治具平台用于固定待测单元，DDR芯片焊接于待测单元上；所述自动控制装置用于获取所述待测单元的电路图，并用于获取所述测试治具平台的位置，并用于获取所述待测单元在所述测试治具平台上的位置，并用于根据所述电路图控制所述信号检测装置的探头与DDR芯片的待测信号线接触，所述待测信号线为所述待测单元上与所述DDR芯片的待测引脚相连的金属线；信号检测装置用于获取所述DDR芯片的待测信号。

【技术特征摘要】
1.一种DDR测试系统，其特征在于，所述DDR测试系统包含自动控制装置、信号检测装置、测试治具平台；所述测试治具平台用于固定待测单元，DDR芯片焊接于待测单元上；所述自动控制装置用于获取所述待测单元的电路图，并用于获取所述测试治具平台的位置，并用于获取所述待测单元在所述测试治具平台上的位置，并用于根据所述电路图控制所述信号检测装置的探头与DDR芯片的待测信号线接触，所述待测信号线为所述待测单元上与所述DDR芯片的待测引脚相连的金属线；信号检测装置用于获取所述DDR芯片的待测信号。2.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述信号检测装置包含示波器。3.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述测试治具平台还包含挡板，用于限定所述待测单元的位置。4.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述测试治具平台还包含可变长度的固定杆，用于根据所述待测单元的尺寸调节长度，以固定所述待测单元的位置。5....

【专利技术属性】
技术研发人员：李欠倩，
申请(专利权)人：上海剑桥科技股份有限公司，浙江剑桥电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31