IC手动测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出IC手动测试装置，包括测试轨道、吹气装置和若干测试站；所述测试轨道的始端处设有芯片入口，测试轨道的宽度与芯片宽度匹配；所述测试站、吹气装置沿测试轨道设置；吹气装置向测试轨道吹气以推动微型芯片在测试轨道上顺畅滑动；所述测试站包括定位器和测试夹片；所述定位器包括由定位气缸驱动的挡针；所述挡针指向测试轨道的传输面；所述测试夹片位于测试轨道两侧，测试夹片上设有与芯片引脚匹配的金手指；当手动检测时，作业人员操控挡针拦阻测试轨道上滑移的微型芯片使之停于测试站处，然后测试夹片夹持芯片两侧使金手指与芯片引脚接触以进行测试；本产品能以轨道和挡针对微型芯片进行良好定位以方便手动检测。

【技术实现步骤摘要】
IC手动测试装置
本技术涉及芯片加工设备，尤其是IC手动测试装置。
技术介绍
随着微型集成电路芯片应用领域的扩大，芯片种类的增多，对芯片的检测也成为一项重要工作；当芯片数量较少时可采用手工检测，但由于微型芯片（SOT外形集成电路芯片）的体积很小，芯片引脚不易定位，给手动测试工作时造成较大困难，直接影响了芯片检测效率，如何设计良好的手动检测设备以解决这些问题，是一个研究方向。
技术实现思路
本技术提出IC手动测试装置，能以轨道和挡针对微型芯片进行良好定位以方便手动检测。本技术采用以下技术方案。IC手动测试装置，用于微型芯片的手动测试，所述手动检测机构包括测试轨道、吹气装置和若干测试站；所述测试轨道的始端处设有芯片入口，测试轨道的宽度与芯片宽度匹配；所述测试站、吹气装置沿测试轨道设置；吹气装置向测试轨道吹气以推动微型芯片在测试轨道上顺畅滑动；所述测试站包括定位器和测试夹片；所述定位器包括由定位气缸驱动的挡针；所述挡针指向测试轨道的传输面；所述测试夹片位于测试轨道两侧，测试夹片上设有与芯片引脚匹配的金手指；当手动检测时，作业人员操控挡针拦阻测试轨道上滑移的微型芯片使之停于测试站处，然后测试夹片夹持芯片两侧使金手指与芯片引脚接触以进行测试。所述测试夹片由夹持气缸驱动。所述测试夹片的金手指数量与芯片引脚相同。所述测试夹片经数据线与外部测试仪器相连。所述吹气装置由离子风扇提供流动气流。本技术中，所述测试轨道的始端处设有芯片入口，测试轨道的宽度与芯片宽度匹配；所述测试站、吹气装置沿测试轨道设置；吹气装置向测试轨道吹气以推动微型芯片在测试轨道上顺畅滑动；该设计使得芯片在测试轨道滑动时，位于测试轨道侧边处的芯片引脚不易晃动，从而让测试夹片金手指能更精确地与芯片引脚接触。本技术中，所述测试站包括定位器和测试夹片；所述定位器包括由定位气缸驱动的挡针；所述挡针指向测试轨道的传输面；所述测试夹片位于测试轨道两侧，所述测试夹片由夹持气缸驱动；该设计使得测试夹片、定位器对微型芯片的定位准确且力度易于控制，不易因定位动作而损伤芯片，防止了人徒手操作测试芯片时因施力不均对芯片可能造成的损伤。本技术中，所述测试站、吹气装置沿测试轨道设置；吹气装置向测试轨道吹气以推动微型芯片在测试轨道上顺畅滑动；所述吹气装置由离子风扇提供流动气流；该设计可以有效去除芯片测试环境中的静电，防止芯片因静电而受损。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进一步详细的说明：附图1是本技术的局部示意图；附图2是本技术在测试微型芯片时的局部放大示意图；图中：1-测试站；2-挡针；3-测试夹片；4-定位气缸；5-夹持气缸；6-测试轨道；7-微型芯片；8-芯片引脚；9-芯片入口。具体实施方式如图1-2所示，IC手动测试装置，用于微型芯片的手动测试，所述手动检测机构包括测试轨道6、吹气装置和若干测试站1；所述测试轨道6的始端处设有芯片入口9，测试轨道6的宽度与芯片7宽度匹配；所述测试站1、吹气装置沿测试轨道6设置；吹气装置向测试轨道6吹气以推动微型芯片7在测试轨道6上顺畅滑动；所述测试站包括定位器和测试夹片3；所述定位器包括由定位气缸4驱动的挡针2；所述挡针2指向测试轨道6的传输面；所述测试夹片3位于测试轨道6两侧，测试夹片3上设有与芯片引脚8匹配的金手指；当手动检测时，作业人员操控挡针2拦阻测试轨道6上滑移的微型芯片7使之停于测试站1处，然后测试夹片3夹持芯片7两侧使金手指与芯片引脚8接触以进行测试。所述测试夹片3由夹持气缸5驱动。所述测试夹片3的金手指数量与芯片引脚相同。所述测试夹片经数据线与外部测试仪器相连。所述吹气装置由离子风扇提供流动气流。实施例：测试人员先操控挡针2下降，然后把微型芯片7从测试轨道6的芯片入口处放入，微型芯片7在吹气装置的气流驱动下滑移，然后被挡针2阻挡停于测试站1处，测试夹片3在夹持气缸5驱动下滑移，夹持芯片7两侧使测试夹片3的金手指与芯片引脚8接触以进行测试；测试完成后，测试人员操控挡针上升，测试夹片3释放微型芯片；微型芯片7在吹气装置的气流驱动下继续滑移至下一个测试站。本文档来自技高网...

【技术保护点】
IC手动测试装置，用于微型芯片的手动测试，其特征在于：所述手动检测机构包括测试轨道、吹气装置和若干测试站；所述测试轨道的始端处设有芯片入口，测试轨道的宽度与芯片宽度匹配；所述测试站、吹气装置沿测试轨道设置；吹气装置向测试轨道吹气以推动微型芯片在测试轨道上顺畅滑动；所述测试站包括定位器和测试夹片；所述定位器包括由定位气缸驱动的挡针；所述挡针指向测试轨道的传输面；所述测试夹片位于测试轨道两侧，测试夹片上设有与芯片引脚匹配的金手指；当手动检测时，作业人员操控挡针拦阻测试轨道上滑移的微型芯片使之停于测试站处，然后测试夹片夹持芯片两侧使金手指与芯片引脚接触以进行测试。

【技术特征摘要】
1.IC手动测试装置，用于微型芯片的手动测试，其特征在于：所述手动检测机构包括测试轨道、吹气装置和若干测试站；所述测试轨道的始端处设有芯片入口，测试轨道的宽度与芯片宽度匹配；所述测试站、吹气装置沿测试轨道设置；吹气装置向测试轨道吹气以推动微型芯片在测试轨道上顺畅滑动；所述测试站包括定位器和测试夹片；所述定位器包括由定位气缸驱动的挡针；所述挡针指向测试轨道的传输面；所述测试夹片位于测试轨道两侧，测试夹片上设有与芯片引脚匹配的金手指；当手动检测时，作业人员操控挡针...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢名富，吴成君，
申请(专利权)人：福州派利德电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35