【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种集成电路芯片模块多工位测试分选装置。
技术介绍
1、目前芯片分选机在测试具有多排l型引脚的芯片时，一般是在轨道的左右两侧设置由电缸或气缸驱动的测试引脚，通过电缸或气缸的驱动，实现测试引脚与芯片引脚的接触，但是实际操作时，存在测试引脚在碰触芯片引脚时，由于冲击力过大，导致芯片引脚过度弯折、受损的问题，同时现有多数的重力式芯片分选机内的测试芯片可以借由重力下降竖直，所以分选机的输送轨道是竖直设置的，但是由于芯片是借助重力直接下降，所以存在轨道内的芯片由于下降速度过快，导致芯片在底部与限位块接触时，芯片受到的反冲击力过大，出现破损的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术的目的在于克服上述现有技术中的不足之处而提供一种集成电路芯片模块多工位测试分选装置，解决现有芯片分选机内测试引脚在碰触芯片引脚时，由于冲击力过大，导致芯片引脚过度弯折、受损的问题，同时减低芯片下落的速度，减少不良品率，方便专业化的芯片分选。
2、本专利技术采用以下方案实现：一种集成电路芯片模块多工位测试分选装置：包括分选机主体，所述分选机主体上安装有测试模块，所述测试模块包括沿芯片传送方向活动安装有至少一个芯片输送保护机构，所述芯片输送保护机构侧部上设置有测试机构，所述芯片输送保护机构与测试机构之间错位设置。
3、进一步的，所述芯片输送保护机构包括竖直设置的错位轨道，所述错位轨道的中部活动连接有引脚保护机构，所述错位轨道上于引脚保护机构下活动连接有挡料机构，所述错位轨道的侧
4、进一步的，所述引脚保护机构还包括引脚保护滑轨，所述引脚保护滑轨安装于错位轨道上部的外壁上，所述引脚保护滑轨垂直于错位轨道，所述引脚保护滑轨上滑接有第一滑块，所述第一滑块为l型，所述第一滑块的水平部在上、竖直部在下，所述第一滑块的水平部滑接于滑轨上，所述压块安装于第一滑块的竖直部上，所述错位轨道上部的外壁上安装有第一固定块，所述引脚保护滑轨安装于第一固定块下，所述第一固定块下安装有用于驱动第一滑块滑移的第一推动机构，所述第一推动机构包括第一气缸，所述第一固定块下于引脚保护滑轨远离错位轨道的一端上安装有第一限位块，所述第一气缸安装于第一限位块上，所述第一气缸的活动端朝向第一滑块远离错位轨道一端上，所述第一气缸的活动端上固连有第一缓冲轴，所述第一缓冲轴上滑接有第一推板，所述第一缓冲轴的端部上固连有第一端块，所述第一缓冲轴上于第一端块和第一推板之间的轴段上安装有第一弹簧，第一推板为l型，第一推板的竖直部滑接于第一缓冲轴上，第一推板的水平部与第一滑块的水平部连接。
5、进一步的，所述挡料机构包括与第一固定块平行设置的第二固定块，所述第二固定块安装于错位轨道下部的外壁上，所述第二固定块上安装有与引脚保护滑轨平行的挡料滑轨，所述挡料滑轨上滑接有对应让位口设置的挡料插板，所述第二固定块上安装有用于驱动挡料插板滑移的第二推动机构，所述第二推动机构包括第二限位块，所述第二限位块固定于第一固定块上并于挡料滑轨远离错位轨道一端上，所述第二限位块上安装有第二气缸，所述第二气缸的活动端朝向挡料插板远离错位轨道一端上，所述第二气缸的活动端上固连有第二缓冲轴，所述第二缓冲轴上滑接有第二推板，所述第二缓冲轴的端部上固连有第二端块，所述第二缓冲轴上于第二端块和第二推板之间的轴段上安装有第二弹簧，所述挡料滑轨滑接有第二滑块，所述第二滑块为l型，第二滑块的竖直部在上，水平部在下所述第二滑块的竖直部与挡料插板固连，所述第二滑块的水平部滑接于挡料滑轨上，第二推板为l型，第二推板的竖直部滑接于第二缓冲轴上，第二推板的水平部与第二滑块的水平部连接。
6、进一步的，所述压块包括连接块，所述连接块的一端对应芯片设置有压板，另一端与第一滑块的竖直部连接，所述压板板面上的上下两端对应芯片的端部缺口分别设置有插销，所述挡料插板的上板面中部对应压板的下端设置有挡板避位槽，所述引脚保护插板位于连接块的左右两侧，所述引脚保护插板的插槽端分别位于压板的左右两侧，所述引脚保护插板的非插槽端分别位于第一滑块的竖直部的左右两侧，引脚保护插板的非插槽端固定于第一滑块的竖直部的侧部上；所述错位轨道包括竖直的导轨板体，所述导轨板体的板面上开设有芯片导送槽，所述导轨板体上分别于芯片导送槽的输入端、输出端上盖设有轨道盖板，芯片导送槽的中部不封闭，两个轨道盖板之间形成让位口，所述芯片导送槽的中部上对应插销设置有插槽；所述驱动机构包括滑移板，所述滑移板竖直安装于分选机上，所述滑移板与导轨板体垂直，所述导轨板体的一侧侧部上下对称设置有延伸板，所述延伸板上安装有主体滑块，所述滑移板上对应主体滑块设置有滑移导轨，所述滑移板上设置有用于驱动导轨板体沿着滑移导轨滑移的第三气缸，所述测试机构包括左右对称于芯片输送保护机构两侧的测试夹爪，所述分选机上设置有用于驱动测试夹爪的测试气缸。
7、进一步的，所述分选机主体上于测试模块的输入端上安装有下料结构，所述下料结构包括竖直设置的分选轨道，所述分选轨道的外壁轨道面上沿分选轨道长度方向开设有至少一个的缓冲口，所述缓冲口连通分选轨道内，所述缓冲口上安装有缓冲机构，缓冲机构包括缓冲块，所述缓冲块的上端转动连接于分选轨道的外壁上，所述缓冲块的下端通过缓冲口伸入分选轨道内。
8、进一步的，所述缓冲块为三角型板块，所述缓冲块的板面垂直于分选轨道的轨道面，所述缓冲块的上部角端转动连接于分选轨道的外壁上，所述缓冲块的下部其一角端通过缓冲口伸入分选轨道内，所述所述缓冲块的下部未伸入分选轨道内的角端上安装有配重块，所述缓冲机构还包括缓冲块转动座，所述缓冲块转动座包括l型支撑块，所述l型支撑块的竖直部在上，水平部在下，所述l型支撑块的竖直部固定于分选轨道的外壁上且位于对应的缓冲口上方，所述l型支撑块的水平部上安装有旋转座，所述缓冲块的上部角端转动连接于旋转座上，所述旋转座包括固定块，所述固定块安装于l型支撑块的水平部下，所述固定块的下部左右对称设置有连接块，所述缓冲块的上部角端通过转轴转动连接于两个连接块之间。
9、进一步的，所述测试模块包括有至少两个的芯片输送保护机构，相邻的两个测试模块之间通过过渡输送轨道连接，所述过渡输送轨道上开设有至少过渡缓冲口，所述过渡缓冲口上设置有缓冲机构。
10、进一步的，所述分选机主体于测试模块的输出端上连接有镜检轨道，所述镜检轨道上设置有芯片翻转机构，所述镜检轨道的输出端上设置有倾斜输出轨道，所述倾斜输出轨道的输入端与镜检轨道的输出端之间设置有换道机构，所述芯片翻转机构包括由电机驱动翻转的翻转轨道，翻转轨道的翻转外本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路芯片模块多工位测试分选装置，其特征在于：包括分选机主体，所述分选机主体上安装有测试模块，所述测试模块包括沿芯片传送方向活动安装有至少一个芯片输送保护机构，所述芯片输送保护机构侧部上设置有测试机构，所述芯片输送保护机构与测试机构之间错位设置。
2.根据权利要求1所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述芯片输送保护机构包括竖直设置的错位轨道，所述错位轨道的中部活动连接有引脚保护机构，所述错位轨道上于引脚保护机构下活动连接有挡料机构，所述错位轨道的侧部设置有用于驱动错位轨道前后滑移的驱动机构，所述错位轨道的中部设置有供引脚保护机构、挡料机构错位轨道并固定住芯片的让位口，所述驱动机构安装于分选机上，所述驱动机构的活动端与错位轨道连接，所述引脚保护机构包括压块，所述压块左右两侧分别安装有对应芯片引脚设置的引脚保护插板，所述引脚保护插板靠近芯片引脚的一端外壁上对应芯片引脚设置有插槽，其一引脚保护插板的插槽由上至下设置有若干二排引角抵接块。
3.根据权利要求2所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述引脚保护机构还包括引脚保护滑轨，所述引脚保护滑轨安装
4.根据权利要求3所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述挡料机构包括与第一固定块平行设置的第二固定块，所述第二固定块安装于错位轨道下部的外壁上，所述第二固定块上安装有与引脚保护滑轨平行的挡料滑轨，所述挡料滑轨上滑接有对应让位口设置的挡料插板，所述第二固定块上安装有用于驱动挡料插板滑移的第二推动机构，所述第二推动机构包括第二限位块，所述第二限位块固定于第一固定块上并于挡料滑轨远离错位轨道一端上，所述第二限位块上安装有第二气缸，所述第二气缸的活动端朝向挡料插板远离错位轨道一端上，所述第二气缸的活动端上固连有第二缓冲轴，所述第二缓冲轴上滑接有第二推板，所述第二缓冲轴的端部上固连有第二端块，所述第二缓冲轴上于第二端块和第二推板之间的轴段上安装有第二弹簧，所述挡料滑轨滑接有第二滑块，所述第二滑块为L型，第二滑块的竖直部在上，水平部在下所述第二滑块的竖直部与挡料插板固连，所述第二滑块的水平部滑接于挡料滑轨上，第二推板为L型，第二推板的竖直部滑接于第二缓冲轴上，第二推板的水平部与第二滑块的水平部连接。
5.根据权利要求4所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述压块包括连接块，所述连接块的一端对应芯片设置有压板，另一端与第一滑块的竖直部连接，所述压板板面上的上下两端对应芯片的端部缺口分别设置有插销，所述挡料插板的上板面中部对应压板的下端设置有挡板避位槽，所述引脚保护插板位于连接块的左右两侧，所述引脚保护插板的插槽端分别位于压板的左右两侧，所述引脚保护插板的非插槽端分别位于第一滑块的竖直部的左右两侧，引脚保护插板的非插槽端固定于第一滑块的竖直部的侧部上；所述错位轨道包括竖直的导轨板体，所述导轨板体的板面上开设有芯片导送槽，所述导轨板体上分别于芯片导送槽的输入端、输出端上盖设有轨道盖板，芯片导送槽的中部不封闭，两个轨道盖板之间形成让位口，所述芯片导送槽的中部上对应插销设置有插槽；所述驱动机构包括滑移板，所述滑移板竖直安装于分选机上，所述滑移板与导轨板体垂直，所述导轨板体的一侧侧部上下对称设置有延伸板，所述延伸板上安装有主体滑块，所述滑移板上对应主体滑块设置有滑移导轨，所述滑移板上设置有用于驱动导轨板体沿着滑移导轨滑移的第三气缸，所述测试机构包括左右对称于芯片输送保护机构两侧的测试夹爪，所述分选机上设置有用于驱动测试夹爪的测试气缸。
6.根据权利要求5所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述分选机主体上于测试模块的输入端上安装有下料结构，所述下料结构包括竖直设置的分选轨道，所述分选轨道的外壁轨道面上沿分选轨道长度方向开设有至少一个的缓冲口...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片模块多工位测试分选装置，其特征在于：包括分选机主体，所述分选机主体上安装有测试模块，所述测试模块包括沿芯片传送方向活动安装有至少一个芯片输送保护机构，所述芯片输送保护机构侧部上设置有测试机构，所述芯片输送保护机构与测试机构之间错位设置。
2.根据权利要求1所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述芯片输送保护机构包括竖直设置的错位轨道，所述错位轨道的中部活动连接有引脚保护机构，所述错位轨道上于引脚保护机构下活动连接有挡料机构，所述错位轨道的侧部设置有用于驱动错位轨道前后滑移的驱动机构，所述错位轨道的中部设置有供引脚保护机构、挡料机构错位轨道并固定住芯片的让位口，所述驱动机构安装于分选机上，所述驱动机构的活动端与错位轨道连接，所述引脚保护机构包括压块，所述压块左右两侧分别安装有对应芯片引脚设置的引脚保护插板，所述引脚保护插板靠近芯片引脚的一端外壁上对应芯片引脚设置有插槽，其一引脚保护插板的插槽由上至下设置有若干二排引角抵接块。
3.根据权利要求2所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述引脚保护机构还包括引脚保护滑轨，所述引脚保护滑轨安装于错位轨道上部的外壁上，所述引脚保护滑轨垂直于错位轨道，所述引脚保护滑轨上滑接有第一滑块，所述第一滑块为l型，所述第一滑块的水平部在上、竖直部在下，所述第一滑块的水平部滑接于滑轨上，所述压块安装于第一滑块的竖直部上，所述错位轨道上部的外壁上安装有第一固定块，所述引脚保护滑轨安装于第一固定块下，所述第一固定块下安装有用于驱动第一滑块滑移的第一推动机构，所述第一推动机构包括第一气缸，所述第一固定块下于引脚保护滑轨远离错位轨道的一端上安装有第一限位块，所述第一气缸安装于第一限位块上，所述第一气缸的活动端朝向第一滑块远离错位轨道一端上，所述第一气缸的活动端上固连有第一缓冲轴，所述第一缓冲轴上滑接有第一推板，所述第一缓冲轴的端部上固连有第一端块，所述第一缓冲轴上于第一端块和第一推板之间的轴段上安装有第一弹簧，第一推板为l型，第一推板的竖直部滑接于第一缓冲轴上，第一推板的水平部与第一滑块的水平部连接。
4.根据权利要求3所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述挡料机构包括与第一固定块平行设置的第二固定块，所述第二固定块安装于错位轨道下部的外壁上，所述第二固定块上安装有与引脚保护滑轨平行的挡料滑轨，所述挡料滑轨上滑接有对应让位口设置的挡料插板，所述第二固定块上安装有用于驱动挡料插板滑移的第二推动机构，所述第二推动机构包括第二限位块，所述第二限位块固定于第一固定块上并于挡料滑轨远离错位轨道一端上，所述第二限位块上安装有第二气缸，所述第二气缸的活动端朝向挡料插板远离错位轨道一端上，所述第二气缸的活动端上固连有第二缓冲轴，所述第二缓冲轴上滑接有第二推板，所述第二缓冲轴的端部上固连有第二端块，所述第二缓冲轴上于第二端块和第二推板之间的轴段上安装有第二弹簧，所述挡料滑轨滑接有第二滑块，所述第二滑块为l型，第二滑块的竖直部在上，水平部在下所述第二滑块的竖直部与挡料插板固连，所述第二滑块的水平部滑接于挡料滑轨上，第二推板为l型，第二推板的竖直部滑接于第二缓冲轴上，第二推板的水平部与第二滑块的水平部连接。
5.根据权利要求4所述的多工位测试分选装置，其特征在于；所述压块包括连接块，所述连接块的一端对应芯片设置有压板，另一端与第一滑块的竖直部连接，所述压板板面上的上下两端对应芯片的端部缺口分别设置...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴成君，张民贵，吕鹏飞，
申请(专利权)人：福州派利德电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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