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本发明提供了一种集成电路芯片模块多工位测试分选装置：包括分选机主体，所述分选机主体上安装有测试模块，所述测试模块包括沿芯片传送方向活动安装有至少一个芯片输送保护机构，所述芯片输送保护机构侧部上设置有测试机构，所述芯片输送保护机构与测试机构之...
该专利属于福州派利德电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福州派利德电子科技有限公司授权不得商用。

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