电接触装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于电触碰接触的接触装置(1)，电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，接触装置具有接触头(2)和至少一个电路板(10)，接触头(2)具有多个导向孔(3)，在导向孔中可纵向移动地安装有长形的、通过触碰接触测试件而侧向弹动式屈曲的接触元件(4)，接触元件的一个端部(6)用于触碰接触测试件，接触元件的另一端部(7)与按照预定图案(13)布置的第一接触面(8)处于触碰接触，第一接触面在电路板(10)的一侧面(9)上位于侧面的第一、特别是中央的区域(16)中，特别是按照另一预定图案(14)布置的第二接触面(12)在电路板(10)的另一侧面(11)上处于该另一侧面的第二、特别是中央的区域(17)中，第二接触面穿过电路板(10)与第一接触面(8)电连接，在电路板(10)的所述另一侧面(11)上，在该另一侧面的至少一个第一、特别是边缘的区段(19)中设置有第三接触面(18)，第二接触面(12)中的至少一些借助于被接合的接合线材(20)与第三接触面(18)中的至少一些电连接，第一接触面(8)中的至少一部分和/或第二接触面(12)中的至少一部分分别借助于可切断的导体(39)彼此电连接，并且这些导体(39)中的至少一个被切断。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电接触装置
本专利技术涉及一种用于电触碰接触的接触装置，所述电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试。
技术介绍
开头所提及类型的接触装置是已知的。这些接触装置用于对电测试件、特别是晶片进行电触碰接触，以便在电功能性上测试这些电测试件。测试件的触点间距在许多情况下是极小的。出于该原因而需要的是，接触装置增加该小的触点间距，以使测试装置在大多数情况下能够通过线缆连接部来连接，在线缆连接部的帮助下检查测试件的电功能性。测试装置通过接触装置来实现对包括测试件的测试电流回路的切换，由此能够阐明该测试件的功能性。困难之处在于：这类测试必须在宽的温度范围内进行，以便在该分别被选择的温度范围内也能够对测试件证明功能性。然而，大的温度差异也造成接触问题，特别是由于多个部件基于不同的温度膨胀系数而相对于彼此发生温度所造成的位移而造成接触问题。此外，迄今为止需要的是：由于不同测试件的接触图案是不同的，因此针对每个测试件提供个体设计的接触装置，利用该个体设计的接触装置能够执行测试。个体地生产这类接触装置是昂贵的并且通常很费时。上述的已知接触装置具有手动创建的且被钎焊的布线，该布线使得测试件侧非常窄的触点布置方案朝测试装置方向“扩张”，也就是说以此有助于存在允许测试装置被电连接的相应较大的触点间距。如果已知的接触装置完成布线，则该布线的线材优选借助于塑料树脂通过注入被固定。不同的、特别是手动的工作步骤是非常复杂的，并且视操作工作人员的工作技能及其工作方式而定被个体地不同地创建。由于这些个体的差异，在接触装置、特别是探针卡中，相同的类型视由于工作人员的加工品质而定地产生不同的电特性。所提到的手动钎焊布线需要经过培训的工作人员，他们才能实施这些精细的工作。经常不能提供足够数量的这类员工。由于布线密度始终在增加，因此在手动工作中很容易发生布线错误，并且布线速度是降低的，这是因为高布线密度会使得不能够一目了然并且还会影响工作人员的专注力。一旦在布线中包含有电结构元件、例如电容器，则会附加地使工作变得更加困难。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种用于电触碰接触的接触装置，所述电接触触碰用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，该接触装置具有恒定的高品质，特别是在其电特性方面，并能够被无差错地制造，并且要求相对短的生产时间。此外，该接触装置应该至少以区域方式被标准化，以便尽可能简单且更便宜地对测试件进行个体适配，从而能够制造出标准部件并将其保存在仓库中，以及能够使其在委任情况下容易且快速地对个体测试件进行适配。最后，该接触装置应该能够在需要的情况下以简单的方式收纳电结构元件。在一种用于电触碰接触的接触装置中，该电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，本专利技术的目的通过如下方式来实现，即，该接触装置具有接触头和至少一个电路板，其中，接触头具有多个导向孔，长形的、由于触碰接触测试件而侧向弹动式屈曲的接触元件可纵向移动地安装在这些导向孔中，接触元件的一个端部用于与测试件进行触碰接触，而接触元件的另一端部则与按照预定图案布置的第一接触面处于触碰接触，第一接触面在电路板的一侧面上位于该侧面的第一、特别是中央的区域中，其中，在电路板的另一侧面上，在该另一侧面的第二、特别是中央的区域中设置有尤其按照另一预定图案布置的第二接触面，第二接触面穿过电路板与第一接触面电连接，在所述电路板的另一侧面上，在该另一侧面的至少一个第一、特别是边缘的区段中设有第三接触面，第二接触面中的至少一些通过被接合的接合线材与第三接触面中的至少一些电连接，并且其中，第一接触面中的至少一部分和/或第二接触面中的至少一部分分别借助于可切断的导体彼此电连接，并且这些导体中的至少一个导体被切断。因此，从测试件向外看，根据本专利技术的接触装置具有以下的电接触路径：测试头的接触元件用于与测试件触点进行触碰接触，并与电路板的第一接触面处于触碰接触。第一接触面与电路板的第二接触面连接，这些第二接触面位于电路板的背向测试件的另一侧面上。第二接触面特别是位于中央并通过被接合的线材(接合线材)连接第三接触面，这些第三接触面位于电路板的至少一个特别是边缘的区段中。在该特别是边缘的区段中能够比优选中央的区域提供明显更多的空间，从而借助于通过接合线材所形成的布线实现了触点间距增加。该边缘区段可以特别是围绕中央区域延伸。所述接合优选可以自动地进行，从而为此不需要手动工作。用于接合线材的对应的初始坐标和目标坐标可以以计算机辅助方式被馈入。所述接合、特别是自动/机器的接合获得具有恒定高品质的、优化的电特性。布线错误得以避免。就此而言，受命制造接触装置的工作人员将不再承担前述的精细的工作。因为第一接触面中的至少一部分和/或第二接触面中的至少一部分分别借助于可切断的导体彼此电连接并且这些导体中的至少一个导体被切断，所以可以视一个/多个所述被切断的导体的位姿和数量而定来产生导体面/导体结构，导体面/导体结构可以特定于客户是希望的和/或被提供用于相同的电位。通过这种方式可以组合出相同的电信号。非常有利的是，在这些导体面上(如果它们不以其他方式被使用)安放有电构件/电子构件、例如电容器，由此使得这些构件布置得非常接近测试件并因此特别是无干扰地工作。出发点是彼此电连接的接触面中的至少一部分，这些接触面然后通过切断一个或多个导体被个体地进行适配。通过相应地切断导体，上述的电导体面/导体结构要么在电路板的所述一侧面上基于第一接触面形成，要么在电路板的所述另一侧面上借助于位于那里的第二接触面形成，要么在电路板的两个侧面上形成。关联的导体面/导体结构可以例如非常有利地被用于输送供电压装置的电位和/或被用于接地电位。本专利技术的一种扩展方案设置：将这种可切断的导体构造为导体轨道或导体接片。该导体轨道优选布置在电路板的所述一侧面和/或所述另一侧面的表面上和/或表面下(即电路板内部)。优选地，第一接触面和/或第二接触面也可以被构造为与之相应的导体轨道元件并优选地位于电路板的所述一侧面和/或所述另一侧面的表面上。导体接片是指在电路板的第一侧面和/或第二侧面的表面上方延伸的导体。特别是可以设置为，所述至少一个被切断的导体是被激光切断的。为了使上述的导体面、也就是通过导体轨道或导体接片相关联的接触面分离，将使接触面彼此连接的适当的导体切断，特别是借助于激光切断。优选地，这种激光切断可以自动地进行，也就是说，将相应的坐标数据组输送给实行切断的激光器，从而使得激光器能够自行工作。本专利技术的一种扩展方案的特征在于设有至少一个接线板，其中，第三接触面与该接线板的导体布置方案电连接。该至少一个接线板被布置在至少一个电路板的上方、旁边和/或下方。该至少一个接线板用于进一步扩大触点间距并提供连接到测试装置上的连接可能性。优选地，在接线板和测试装置之间建立电的线缆连接和/或触碰接触。位于电路板的所述另一侧面上的第三接触面与该接线板的相应导体布置方案电连接。正如基于本专利申请的整体所看到的那样，第三接触面和接线板之间的电连接部可以按照不同的方式来构造。也可以使用不是源于本申请，但却为本领域技术人员所熟知的连接部。本专利技术的一种扩展方案设置：在电路板的所述一侧面上，在该侧面的至少一个第二、特别是边缘的区段中设有第一接触构件，这些第一接触构件穿过电路板与第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于电触碰接触的接触装置(1)，所述电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，所述接触装置具有接触头(2)和至少一个电路板(10)，其中，所述接触头(2)具有多个导向孔(3)，在所述导向孔中能纵向移动地安装有长形的、通过触碰接触所述测试件而侧向弹动式屈曲的接触元件(4)，所述接触元件的一个端部(6)用于触碰接触所述测试件，所述接触元件的另一端部(7)与按照预定图案(13)布置的第一接触面(8)处于触碰接触，所述第一接触面在所述电路板(10)的一侧面(9)上处于该侧面的第一、特别是中央的区域(16)中，其中，特别是按照另一预定图案(14)布置的第二接触面(12)在所述电路板(10)的另一侧面(11)上处于该另一侧面的第二、特别是中央的区域(17)中，所述第二接触面穿过所述电路板(10)与所述第一接触面(8)电连接，在所述电路板(10)的所述另一侧面(11)上，在该另一侧面的至少一个第一、特别是边缘的区段(19)中设置有第三接触面(18)，所述第二接触面(12)中的至少一些借助于被接合的接合线材(20)与所述第三接触面(18)中的至少一些电连接，并且其中，所述第一接触面(8)中的至少一部分和/或所述第二接触面(12)中的至少一部分分别借助于能切断的导体(39)彼此电连接，并且这些导体(39)中的至少一个导体被切断。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.03.03 DE 202015001622.71.一种用于电触碰接触的接触装置(1)，所述电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，所述接触装置具有接触头(2)和至少一个电路板(10)，其中，所述接触头(2)具有多个导向孔(3)，在所述导向孔中能纵向移动地安装有长形的、通过触碰接触所述测试件而侧向弹动式屈曲的接触元件(4)，所述接触元件的一个端部(6)用于触碰接触所述测试件，所述接触元件的另一端部(7)与按照预定图案(13)布置的第一接触面(8)处于触碰接触，所述第一接触面在所述电路板(10)的一侧面(9)上处于该侧面的第一、特别是中央的区域(16)中，其中，特别是按照另一预定图案(14)布置的第二接触面(12)在所述电路板(10)的另一侧面(11)上处于该另一侧面的第二、特别是中央的区域(17)中，所述第二接触面穿过所述电路板(10)与所述第一接触面(8)电连接，在所述电路板(10)的所述另一侧面(11)上，在该另一侧面的至少一个第一、特别是边缘的区段(19)中设置有第三接触面(18)，所述第二接触面(12)中的至少一些借助于被接合的接合线材(20)与所述第三接触面(18)中的至少一些电连接，并且其中，所述第一接触面(8)中的至少一部分和/或所述第二接触面(12)中的至少一部分分别借助于能切断的导体(39)彼此电连接，并且这些导体(39)中的至少一个导体被切断。2.根据权利要求1所述的接触装置，其特征在于，所述能切断的导体(39)被构造为导体轨道或导体接片。3.根据前面权利要求中任一项所述的接触装置，其特征在于，至少一个被切断的导体(39)是被激光切断的。4.根据前面权利要求中任一项所述的接触装置，其特征在于，设有至少一个接线板(22)，其中，所述第三接触面(18)与所述接线板(22)电连接。5.根据前面权利要求中任一项所述的接触装置，其特征在于，在所述电路板(10)的所述一侧面(9)上，在该侧面的至少一个第二、特别是边缘的区段(24)中设有第一接触构件(25)，所述第一接触构件穿过所述电路板(10)与所述第三接触面(18)电连接，所述接线板(22)在其面向所述电路板(10)的侧面(27)上具有第二接触构件(28)，并且其中，所述第一接触构件(25)借助于电连接部(29)、特别是弹动式挠曲的触碰接触部(30)与所述第二接触构件(28)电连接。6.根据前面权利要求中任一项所述的接触装置，其特征在于，在所述电路板(10)的所述另一侧面(11)上，在该另一侧面的至少一个第二、特别是边缘的区段(24)中设有第一接触构件(25)，所述第一接触构件与所述第三接触面(18)电连接，所述接线板(22)在其面向所述电路板(10)的侧面(27)上具有第二接触构件(28)，并且其中，所述第一接触构件(25)借助于电连接部(29)、特别是弹动式挠曲的触碰接触部(30)与所述第二接触构件(28)电连接。7.根据前面权利要求中任一项所述的接触装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖纳·施密德，
申请(专利权)人：精炼金属股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE