一种用于测试卡(37)的测试设备(1)，其具有接收装置(3)，接收装置(3)用于容纳至少一个待测的测试卡(37)，测试设备(1)具有至少一个接触装置(4)，接触装置(4)用于与接收装置(3)中的至少一个测试卡(37)的导电的电触点进行电...

本发明涉及一种用于与试样的电气接触部位进行触点接通的接触装置(1)，其包括接触活塞(3)，该接触活塞具有用于可轴向移动地支承在导向套筒(2)中的活塞裙(4)以及在该活塞裙(4)的自由端部上具有可配属于所述试样的接触头(5)；并且包括至少...

本发明涉及一种用于对构件进行电性触碰接触的接触模块(1)，其具有：载体(2)，该载体具有可配属于构件的接触侧(3)和背离接触侧(3)的联接侧(4)；至少两个能导电的接触元件(5)，其中至少一个是具有弹簧加载式接触头(5’)的弹簧接触销(...

本发明涉及一种接触元件系统，其具有多个相同长度的、销状或针状且能导电的接触元件(4、5)，接触元件分别具有用于对接触部位进行电性触碰接触的两个端部区域(4’，5’，4”，5”)以及分别具有位于端部区域之间的中间区域(12，13)，其中，...

本发明涉及一种用于电检测装置的接触头，电检测装置用于对基底进行电检测，基底具有电接触部位，接触头具有至少两个引导板，至少两个引导板通过间距保持件相对彼此进行布置并分别具有多个至少基本上彼此对齐的、用于容纳销钉形接触元件的引导开口，并且通...

本发明涉及一种接触引脚(2)、特别是弹簧接触引脚，具有护套套筒(4)，在该护套套筒中，接触活塞(5)可纵向移动地被引导。设有至少一个设置在接触引脚(2)内部的光源(15)，该光源具有至少一个可电激活的发光器件(16)，其中，接触引脚(2...

本发明涉及一种用于制造至少一个用于电物理接触的弹簧触点针(9)或具有至少一个这类弹簧触点针(9)的弹簧触点针组件(25)的方法。该方法包括以下步骤：制造弹簧触点针(9)的至少一个基础部件(8)，其中，该基础部件(8)的至少一部分由塑料制...

本发明涉及一种用于制造触点间距转换器(4)(间距变换器)的方法，该触点间距转换器具有形成电通路(10)的电触点(9)并且在触点间距转换器中将触点(9)的第一触点间距转换成电触点(9)的与之相对不同的第二触点间距。设置有下列步骤：制造至少...

本发明涉及一种用于电触碰接触的接触装置(1)，电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，接触装置具有接触头(2)和至少一个电路板(10)，接触头(2)具有多个导向孔(3)，在导向孔中可纵向移动地安装有长形的、通过触碰接触测试件而侧...

本发明涉及一种用于检测电试样(7)、尤其是晶片(8)的电检测装置(1)的触点间距转换器(4)，其中，触点间距转换器(4)用于彼此相邻的电触点(16，19)的间距缩小并具有不导电的承载结构(28)，不导电的承载结构具有第一侧面(17)和第...

本发明涉及一种用于对电测试件(2)、尤其是晶片进行电测试的测试设备(1)，其具有测试头(4)，在测试头中安装有至少一个用于与测试件(2)进行电物理接触的测试触点(5)。在测试头(4)的壁(15)中设置至少一个出口(13)，用于将气体、尤...

本发明涉及一种用于测试件(5)、尤其是晶片沿接触方向(15)进行电物理接触的电接触装置(1)，其具有至少一个可与测试装置电连接的导体基板(2)，至少一个接触间隙变换器(4)和至少一个具有电接触元件(9)并特别用于补偿沿接触方向(19)在...

本发明涉及一种用于对被测物（17）、特别是晶片进行电测试的检测头（1），其具有至少两个通过至少一个隔离件（5）彼此间隔设置的导向板（2，3，4），这些导向板具有沿其表面分散设置的导向孔（9，10，11），测试触针（12）可移动地导入这些...

本发明涉及一种弹簧接触插针装置，其具有弹簧接触插针，该弹簧接触插针具有插针壳体，接触元件可纵向移动地支承在该插针壳体中并由相对于移动方向起作用的弹簧装置加载力，其中，接触元件与弹簧接触插针装置的至少一个第一接口相连接，并且通过接触区域从...

本发明涉及一种用于检测电试样的电检测装置，包括一个线路基板，该线路基板通过一个触点间距转换器与一个检测头电连接，其中，所述线路基板与一个第一加强装置机械连接并因此得到加强。至少一个穿过所述线路基板(12)的间隔装置(30)机械连接至所述...

本发明涉及一种用于检测电试样的电检测装置，包括一个线路基板，该线路基板通过一个触点间距转换器与一个检测头电连接，其中，所述线路基板与一个第一加强装置机械连接并因此得到加强。至少一个穿过所述线路基板（１２）的间隔装置（３０）机械连接至所述...

本发明涉及一种用于物理接触电气试样的细长电气接触元件（１），包括用于电气接触的两末端区域（２，３）和位于末端区域（２，３）之间的细长中间区域（４）。提供了中间区域（４）具有基本矩形的横截面并沿其纵向范围构建成薄层状。本发明涉及相应的接触...

本发明涉及一种用于检测电气试样（２）的电接触装置（１），包括至少一个根据弯曲导线原理工作的接触元件（１５），它穿过至少一个导孔（１０、１１、１２）且可沿轴向移动并可旋转。按照本发明，接触元件（１５）具有以在侧向上、沿至少一个第一方向（１...

本发明涉及一种用于与电气试样、特别是硅圆片触点接通的接触装置（１），它包括触头（２）（Ｋｏｎｔａｋｔ－Ｈｅａｄ）和连接装置（３）（Ｃｏｎｎｅｃｔｏｒ），其中，触头（２）具有可与试样触点接通的检测触体（６），它们在检测面（１２）所分布的位...

本发明提供一种用于被测件电检测的电气检测设备，尤其是用于晶片检测的电气检测，它包括一个与被测件对应的触头和一个电联接的连接装置以及一个在该连接装置背向触头的一侧面上布置的支撑装置，所述的触头具有构成触针布置的销状接触元件，所述的连接装置...