The present invention provides a coating process for three layers antireflection coating of polycrystalline silicon solar cells. It solves the existing preparation process is complex, large power consumption, the production cost is relatively high, and the reflectivity of single silicon nitride antireflection film silicon solar cell is very high, the rework rate is higher and other technical problems. This is suitable for coating antireflection film three layer of polysilicon solar battery, which comprises the following steps: A, the crystal silicon cleaning texturing, diffusion and etching; B, crystalline silicon wafers in step a completed by loading and unloading system fitted to the graphite boat and put it into the tube PECVD and pre deposition cleaning; C, tube PECVD for deposition of crystalline silicon wafers in step B complete; D, crystalline silicon wafers in step C complete with tube type PECVD again e, the crystal silicon deposition; step d the tube again PECVD deposition; F, cooling by crystalline silicon wafers to Shi Mozhou film handling system, and remove it. The invention has the advantages of high product performance.
【技术实现步骤摘要】
适用于多晶太阳电池三层减反射膜的镀膜工艺
本专利技术属于太阳能电池
,涉及一种适用于多晶太阳电池三层减反射膜的镀膜工艺。
技术介绍
太阳能电池是一种将太阳光能转化为电能的半永久性物理电池,随着化石能源的极度消耗,产生的能源枯竭以及日益严重的温室效应,人类对新型清洁能源的需求变得越来越迫切。在气候条件变化和自然能源短缺的情况下,光伏发电越来越受到各个国家的重视,在现阶段,无论是电池的理论研究还是实验研发的电池性能,都取得了很大的进展,电池性能提高到了难以想象的水平。实验室中的单晶硅和多晶硅的转换效率分别达到了25%和20.5%,远远超过了过去认为的20%,在不产生新的污染的同时,成本的降低使太阳能电池得到了更为广泛的应用,目前已经达到了大规模的产业化水平。随着市场行情的变化和美欧一些国家的高标准高要求,使得近期整个光伏行业对这一领域正在进行着深入的研究和探讨,为了满足市场日益严峻的高标准高质量要求,全球光伏行业正在进行着物美价廉的质量军备竞赛,这就对光伏技术提出了更高的要求和创新的思路。经检索,如中国专利文献公开了一种晶体硅太阳能电池片减反射膜制备工艺【申请号:201110241595.6;公开号:CN102306680B】。这种晶体硅太阳能电池片减反射膜制备工艺,包括化学清洗及表面织构、扩散、周边刻蚀、沉积减反射膜、丝网印刷电极和烧结几个步骤,其特征是:所述沉积减反射膜步骤具有三步工序,1、表面氢钝化,工艺时间为180秒;2、制作附氮膜:同时通入氨气硅烷,所述制作附氮膜时硅烷氨气比为1:10,形成25-28纳米附氮的氮化硅薄膜,工艺时间为400秒;3 ...
【技术保护点】
适用于多晶太阳电池三层减反射膜的镀膜工艺,其特征在于,包括如下步骤:a、对晶体硅片进行清洗制绒、扩散和刻蚀,通过臭氧发生装置在晶体硅片表面生成一层1‑2nm的SiO2氧化膜;b、将步骤a中完成的晶体硅片通过装卸片系统装到石墨舟上,将其放入管式PECVD进行预沉积和清洗,通过NH3电离的H+轰击硅片对其表面进行清洗;c、将步骤b中完成的晶体硅片用管式PECVD沉积,得到第一层折射率为2.35‑2.50的高折射率氮化硅减反射膜,其中,PECVD参数设置为:氨气流量4.0‑4.5slm,硅烷流量1050‑1150sccm,压强1650‑1750mTor,射频功率6500‑7500wart,占空比50:500ms,镀膜时间100‑120s;d、将步骤c中完成的晶体硅片用管式PECVD再次沉积,得到第二层折射率为2.08‑2.13的中折射率氮化硅减反射膜,其中,PECVD参数设置为:氨气流量4.5‑5.0slm,硅烷流量950‑1050sccm,压强1650‑1750mTor,射频功率7000‑8000wart,占空比50:500ms,镀膜时间150‑180s;e、将步骤d中完成的晶体硅片用管式 ...
【技术特征摘要】
1.适用于多晶太阳电池三层减反射膜的镀膜工艺,其特征在于,包括如下步骤:a、对晶体硅片进行清洗制绒、扩散和刻蚀,通过臭氧发生装置在晶体硅片表面生成一层1-2nm的SiO2氧化膜;b、将步骤a中完成的晶体硅片通过装卸片系统装到石墨舟上,将其放入管式PECVD进行预沉积和清洗,通过NH3电离的H+轰击硅片对其表面进行清洗;c、将步骤b中完成的晶体硅片用管式PECVD沉积,得到第一层折射率为2.35-2.50的高折射率氮化硅减反射膜,其中,PECVD参数设置为:氨气流量4.0-4.5slm,硅烷流量1050-1150sccm,压强1650-1750mTor,射频功率6500-7500wart,占空比50:500ms,镀膜时间100-120s;d、将步骤c中完成的晶体硅片用管式PECVD再次沉积,得到第二层折射率为2.08-2.13的中折射率氮化硅减反射膜,其中,PECVD参数设置为:氨气流量4.5-5.0slm,硅烷流量950-1050sccm,压强1650-1750mTor,射频功率7000-8000wart,占空比50:500ms,镀膜时间150-180s;e、将步骤d中完成的晶体硅片用管式PECVD再次沉积,得到第三层折射率为1.98-2.03的低折射率氮化硅减反射膜,其中,PECVD参数设置为:氨气流量5.0-6.0slm,硅烷流量750-850sccm,压强1650-1750mTor,射频功率8000-9000wart,占空比50:500ms,镀膜时间280-330s;f、通过装卸片系统对石墨舟的晶体硅片进行冷却,并将其取下。2.根据权利要求1所述的适用于多晶太阳电池三层减反射膜的镀膜工艺,其特征在于,所述步骤b和f中的装卸片系统包括机架,机架中部设置有安装板,安装板与一能带动其上下移动的升降机构相连,安装板上固定有能使石墨舟倾斜放置的放置板,机架上部依次设置有供料装置和取放装置。3.根据权利要求2所述的适用于多晶太阳电池三层减反射膜的镀膜工艺,其特征在于,所述升降机构包括支架、导轨、滑块、齿条、齿轮和伺服电机,支架固定在机架中部,导轨竖直固定在支架上,滑块设置在导轨上,滑块上螺纹连接有螺杆,螺杆一端能与导轨相抵靠,螺杆另一端和手轮相连,齿条竖直固定在支架上,伺服电机固定在滑块上,伺服电机的输出轴水平设置,齿轮固定在伺服电机的输出轴端部,且齿轮与齿条相啮合,安装板固定在滑块上;导轨上还具有刻度线。4.根据权利要求2所述的适用于多晶太阳电池三层减反射膜的镀膜工艺,其特征在于,所述供料装置包括安装架、转动轴和转盘,安装架固定在机架上部,转动轴水平设置在安装架上,转动轴一端与一能带动其转动的动力机构相连,转动轴另一端和转盘相连,转盘上固定有若干定位板,定位板上通过可拆卸结构设置有用于储存硅片的储料件,储料件包括基板、左侧板和右侧板,左侧板固定在基板上,右侧板通过连杆固定在左侧板上,左侧板与右侧板之间水平设置有若干转轴,转轴一端和左侧板上部相连,转轴另一端和右侧板上部相连,转轴中部和分隔片上部相连,分隔片下部为活动端,相邻两活动端之间通过弹性的连接条相连,相邻两分隔片之间形成用于储存硅片的储存部;基板上设置有能使活动端展开的驱动结构,驱动结构包括第一气囊、第二气囊、输气管和第一气泵,第一...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱金浩,蒋剑波,朱世杰,许布,陈珏荣,
申请(专利权)人:浙江光隆能源科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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