数字X射线检测器的薄膜晶体管阵列基板制造技术

公开了一种用于减小漏电流的数字X射线检测器的薄膜晶体管阵列基板。所述薄膜晶体管阵列基板包括：多条选通线，其用于提供扫描信号；多条数据线，其沿着与所述选通线垂直的方向布置，以输出数据；光电二极管，其位于由所述选通线和所述数据线限定的各单元区域中以执行光电转换；薄膜晶体管，其位于所述选通线与所述数据线之间的各交叉处，以根据所述选通线的所述扫描信号导通并且将来自所述光电二极管的光电转换信号输出到所述数据线；以及多条偏压线，其用于将偏置电压施加到所述光电二极管，其中，在光电二极管区域的外部区域中，所述薄膜晶体管的源极连接到所述光电二极管的第一电极。

A thin film transistor array substrate for digital X ray detectors

A thin film transistor array substrate for reducing a leakage current of a digital X ray detector is disclosed. The thin film transistor array substrate includes a plurality of gate lines, for providing a scan signal; a plurality of data lines, along with the gate line perpendicular to the direction of the layout, to output data; the photodiode, which is located in the gate line and the data line defines each unit area in order to perform the photoelectric conversion; a thin film transistor, the intersection between the gate line and the data line, the scanning signal gating line according to the conduction of the photoelectric conversion and signal output from the photodiode to the data line; and a plurality of bias line for, the bias voltage applied to the photodiode, which, in the outer region of a photodiode region, the source of the film transistor is connected to the first electrode of the photodiode.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种数字X射线检测器。更具体地说，本专利技术涉及一种用于减小漏电流的数字X射线检测器的薄膜晶体管阵列基板。
技术介绍
通常，X射线是易于穿过物体的短波长辐射，并且X射线的透射率根据该物体的密度来确定。即，可以通过穿过物体的X射线量来间接观察该物体的内部状态。X射线检测器是检测穿过物体的X射线量的设备。X射线检测器检测X射线的透射率并且通过显示设备来显示物体的内部状态。X射线检测器通常可以用作医学检查器，非破坏性检查器等。近年来，使用数字造影（下文中称作“DR”）而不使用胶片的数字X射线检测器广泛用作X射线检测器。数字X射线检测器的薄膜晶体管阵列基板中的每一个单元均包括：光电二极管（PIN二极管），所述光电二极管接收X射线，将该X射线转换成可见光并且将该可见光转换成电信号；以及薄膜晶体管，所述薄膜晶体管形成在所述光电二极管的下方并且将来自所述光电二极管的电信号输出到数据线。图1是例示通常的数字X射线检测器的配置的视图。如图1所示，通常的数字X射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数字X射线检测器的薄膜晶体管阵列基板，所述薄膜晶体管阵列基板包括：多条选通线，所述多条选通线用于提供扫描信号；多条数据线，所述多条数据线沿着与所述选通线垂直的方向布置以输出数据；光电二极管，所述光电二极管位于由所述选通线和所述数据线限定的各单元区域中以执行光电转换；薄膜晶体管，所述薄膜晶体管位于所述选通线与所述数据线之间的各交叉处，以根据所述选通线的所述扫描信号导通并且将来自所述光电二极管的光电转换信号输出到所述数据线；以及多条偏压线，所述多条偏压线用于将偏置电压施加到所述光电二极管，其中，在光电二极管区域的外部区域中，所述薄膜晶体管的源极连接到所述光电二极管的第一电极。

【技术特征摘要】
2012.11.27 KR 10-2012-01349611.一种数字X射线检测器的薄膜晶体管阵列基板，所述薄膜晶体管阵列基板包
括：
多条选通线，所述多条选通线用于提供扫描信号；
多条数据线，所述多条数据线沿着与所述选通线垂直的方向布置以输出数据；
光电二极管，所述光电二极管位于由所述选通线和所述数据线限定的各单元区域
中以执行光电转换；
薄膜晶体管，所述薄膜晶体管位于所述选通线与所述数据线之间的各交叉处，以
根据所述选通线的所述扫描信号导通并且将来自所述光电二极管的光电转换信号输
出到所述数据线；以及
多条偏压线，所述多条偏压线用于将偏置电压施加到所述光电二极管，
其中，在光电二极管区域的外部区域中，所述薄膜...

【专利技术属性】
技术研发人员：金旲奎，朴星一，河晟峰，
申请(专利权)人：乐金显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR