The invention relates to a high density low voltage trench power MOS device and manufacturing method by thermal oxidation in the upper portion of the trench (500A in thickness 5000A), forming a trench structure sized, and with high selection ratio (SiO2: Silicon) generally dry etching method, etching only without etching the silicon dioxide silicon, in order to achieve a trench power MOS device cell region contact hole etching, also known as the self-aligned contact hole etching. At the same time, the invention also realizes the etching of the extraction hole in the terminal protection area without increasing the obvious technological steps. It is well known that, for self-aligned etching, the alignment error of photolithography can be considered as 0. So now, in the 8 inch Fab photoetching machine operating conditions, can greatly reduce the cellular area minimum Dan Yuanyuan cell width can be reduced from 0.9 m to 0.5 m, thus greatly improving the cellular density (integration), reduce the resistance will feature.
【技术实现步骤摘要】
高密度低压沟槽功率MOS器件及其制造方法
本专利技术涉及一种高密度低压沟槽功率MOS器件及其制造方法,属于半导体
技术介绍
现有沟槽功率MOSFET器件,对于电压在正(负)8V-100V之间的产品,因为应用端主要是追求低的特征导通电阻,故希望在设计上能尽可能的提高元胞的密度来实现。如图1所示,为传统的低压沟槽功率MOS器件的结构示意图,包括N+衬底1’、N-外延层2’、沟槽3’、栅极氧化层7’、导电多晶硅8’、P-阱区9’、N+源极10’、介质层12’、接触孔15’、源极金属17’、栅极金属18’、终端截止环金属19’和背面金属层20’。传统的低压沟槽功率MOS器件,制作方法包括如下步骤:(a)、在半导体N+衬底1’上生长N-外延层2’;(b)、N-外延层2’上淀积硬掩膜层,用光罩版进行掩蔽并刻蚀硬掩膜层,形成沟槽刻蚀用的硬掩膜窗口;(c)、利用上述硬掩膜层作为掩蔽层,通过硬掩膜窗口来实现沟槽的自对准刻蚀,沟槽3’深度在0.5μm-2μm;(d)、在沟槽3’内生长一层薄的牺牲氧化层,厚度在100A-2000A,然后用湿法药液全部剥离;(e)、在沟槽3’内生长一层薄的栅极氧化层7’,厚度在100A-2000A;(f)、在沟槽3’内已生长的栅极氧化层7’上淀积一层导电多晶硅8’,厚度在2000A-20000A;(g)、进行导电多晶硅8’的普遍刻蚀,导电多晶硅8’的顶部和硅表面处于类似同一高度,相差±0.1μm以内;(h)、进行P-阱区9’的注入和推阱,形成P-阱区9’,P-阱区9’的结深度在0.4μm-1.8μm;(i)、利用N+源极光罩版的掩蔽,进 ...
【技术保护点】
一种高密度低压沟槽功率MOS器件,包括位于半导体基板上的元胞区(A)、栅电极引出区(B)和终端保护区(C),元胞区(A)位于半导体基板的中心区,栅电极引出区(B)环绕元胞区(A)外围,终端保护区(C)环绕包围栅电极引出区(B);其特征是:在所述沟槽功率MOS器件的截面上,半导体基板由N+衬底(1)和设置于N+衬底(1)上表面的N‑外延层(2)组成,N‑外延层(2)的上部设有P‑阱区(9),N+衬底(1)的下表面设有背面金属层(20);所述沟槽功率MOS器件的元胞区(A)内包含有若干并联设置的元胞,元胞采用沟槽结构;所述沟槽功率MOS器件的栅电极引出区(B)内包含有作为栅电极引出的沟槽结构;所述沟槽功率MOS器件的终端保护区(C)包括终端耐压区(D)和终端截止区(E),在所述终端耐压区(D)和终端截止区(E)内均包含有若干耐压作用的沟槽结构;所述沟槽结构包括位于P‑阱区(9)的沟槽(5),沟槽(5)的下端延伸至N‑外延层(2)的上部,在沟槽(5)的内壁表面生长栅极氧化层(7),在沟槽(5)内腔淀积导电多晶硅(8),导电多晶硅(8)的顶部低于N‑外延层(2)的上表面;在所述元胞区(A),沟 ...
【技术特征摘要】
1.一种高密度低压沟槽功率MOS器件,包括位于半导体基板上的元胞区(A)、栅电极引出区(B)和终端保护区(C),元胞区(A)位于半导体基板的中心区,栅电极引出区(B)环绕元胞区(A)外围,终端保护区(C)环绕包围栅电极引出区(B);其特征是:在所述沟槽功率MOS器件的截面上,半导体基板由N+衬底(1)和设置于N+衬底(1)上表面的N-外延层(2)组成,N-外延层(2)的上部设有P-阱区(9),N+衬底(1)的下表面设有背面金属层(20);所述沟槽功率MOS器件的元胞区(A)内包含有若干并联设置的元胞,元胞采用沟槽结构;所述沟槽功率MOS器件的栅电极引出区(B)内包含有作为栅电极引出的沟槽结构;所述沟槽功率MOS器件的终端保护区(C)包括终端耐压区(D)和终端截止区(E),在所述终端耐压区(D)和终端截止区(E)内均包含有若干耐压作用的沟槽结构;所述沟槽结构包括位于P-阱区(9)的沟槽(5),沟槽(5)的下端延伸至N-外延层(2)的上部,在沟槽(5)的内壁表面生长栅极氧化层(7),在沟槽(5)内腔淀积导电多晶硅(8),导电多晶硅(8)的顶部低于N-外延层(2)的上表面;在所述元胞区(A),沟槽(5)的槽口生长栅极氧化层(7)、热氧化层(11)和绝缘介质层(12);在所述元胞之间设有源极接触孔(15-1),源极接触孔(15-1)内以及沟槽结构的上方设置有源极金属(17);所述绝缘介质层(12)隔离源极金属(17)和沟槽(5)中的导电多晶硅(8);在所述栅电极引出区(B),沟槽(5)的槽口以及沟槽结构之间的硅表面生长栅极氧化层(7)和热氧化层(11),在热氧化层(11)上淀积绝缘介质层(12);在所述沟槽(5)内的导电多晶硅(8)上部开有栅极接触孔(15-2),栅极接触孔(15-2)内以及沟槽结构上方的绝缘介质层(12)上表面设置有栅极金属(18);在所述终端保护区(C),沟槽(5)的槽口以及沟槽结构之间的硅表面生长栅极氧化层(7)和热氧化层(11),在热氧化层(11)上淀积绝缘介质层(12);在所述终端截止区(E)的沟槽(5)内导电多晶硅(8)的上部设置有第一终端接触孔(15-3),在所述沟槽(5)的上部外侧设置有N+源极区(10),在N+源极区(10)内设置有第二终端接触孔(15-4),N+源极区(10)的第二终端接触孔(15-4)向下延伸至P-阱区(9)的上部;在所述第一终端接触孔(15-3)、第二终端接触孔(15-4)内、N+源极区(10)上方和沟槽结构上方的绝缘介质层(12)上表面设置终端截止环金属(19),且N+源极区(10)上方的终端截止环金属(19)和沟槽结构上方的终端截止环金属(19)连接在一起。2.如权利要求1所述的高密度低压沟槽功率MOS器件,其特征是:在所述源极接触孔(15-1)与沟槽(3)之间设置N+源极区(10),N+源极区(10)位于P-阱区(5)的上部。3.一种高密度低压沟槽功率MOS器件的制造方法,其特征是,包括以下步骤:(1)、在N+衬底(1)上生长N-外延层(2);(2)、在N-外延层(2)制作沟槽(5);(3)、在沟槽(5)内生长一层牺牲氧化层(6),然后全部剥离;(4)、在沟槽(5)内生长一层栅极氧化层(7);(5)、在沟槽(5)内已生长的栅极氧化层(7)上淀积导电多晶硅(8);(6)、进行导电多晶硅(8)...
【专利技术属性】
技术研发人员:周祥瑞,冷德武,王毅,
申请(专利权)人:扬州扬杰电子科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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