本发明专利技术公开了一种玻璃基板取样装置和玻璃基板取样方法，所述玻璃基板取样装置包括带有取样孔(11)的取样块(1)，以及固定在该取样块(1)的一侧并覆盖所述取样孔(11)的盖板(2)，所述取样块(1)的另一侧用于固定到玻璃基板缺陷表面上，且玻璃基板表面缺陷保持在所述取样孔(11)内。这样，使得玻璃基板样品不会被污染，提升光谱仪理化分析结果的准确性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及玻璃基板生产领域，具体地，涉及一种玻璃基板取样装置和玻璃基板取样方法。
技术介绍
在玻璃基板检查工序中，对玻璃基板表面异物进行取样后，需要通过光谱仪对其理化分析成分。现有技术中，通过将表面具有异物的玻璃基板样本，从整块的玻璃基板上割取，并收纳于取样袋中送到实验室进行成分分析。但在实践中，会受到多种因素影响而造成理化分析结果不准确，例如割断玻璃基板产生的颗粒粉尘会粘附到玻璃基板样本上，玻璃基板样本与取样袋摩擦会将异物划掉，玻璃基板样本上可能粘附其他异物，等等。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种玻璃基板取样装置，该取样装置能够避免玻璃基板样品被污染，提升光谱仪理化分析结果的准确性。本专利技术的另一个目的是提供一种玻璃基板取样方法，该取样方法简单易行，能够准确取样。为了实现上述目的，本专利技术的一个方面，提供一种玻璃基板取样装置，该取样装置包括带有取样孔的取样块，以及固定在该取样块的一侧并覆盖所述取样孔的盖板，所述取样块的另一侧用于固定到玻璃基板缺陷表面上，且玻璃基板表面缺陷保持在所述取样孔内。优选地，所述盖板为玻璃，所述取样块由PVC、不锈钢、铝型材或聚醚醚酮制得。优选地，所述取样块的一侧设置有第一双面胶布以固定于所述盖板。优选地，所述取样块的另一侧设置有第二双面胶布以固定于所述玻璃基板缺陷表面。根据本专利技术的另一方面，提供一种玻璃基板取样方法，该取样方法包括使用缺陷检查设备查找玻璃基板缺陷表面，并通过量具确定玻璃基板表面缺陷的位置坐标，然后将根据本专利技术提供的玻璃基板取样装置固定到所述玻璃基板缺陷表面，使所述玻璃基板表面缺陷保持在所述取样孔内。优选地，在所述玻璃基板取样装置固定到所述玻璃基板缺陷表面之后，通过使用玻璃割刀沿着所述玻璃基板取样装置的外轮廓将样品从整块玻璃基板上割下。优选地，使用卤素灯或强光手电来查找玻璃基板缺陷表面。本专利技术的有益效果是：通过玻璃基板取样装置对具有表面缺陷的玻璃基板进行取样，使得玻璃基板样品不会被污染，提升光谱仪理化分析结果的准确性。本专利技术的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是根据本专利技术优选实施方式提供的玻璃基板取样装置的平面结构示意图。图2是根据图1中线A-A截取的剖面图。附图标记说明1取样块11取样孔2盖板具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本发明。如图1至图2所示，本专利技术提供的一种玻璃基板取样装置和由该取样装置实现的玻璃基板取样方法。首先作为本专利技术的构思，为了避免玻璃基板样品被污染，本专利技术提供的玻璃基板取样方法包括使用缺陷检查设备查找玻璃基板缺陷表面，并通过量具确定玻璃基板表面缺陷的位置坐标，然后将本发明提供的玻璃基板取样装置固定到玻璃基板缺陷表面，使玻璃基板表面缺陷保持在取样块1的取样孔11内。具体地，本专利技术提供的取样装置包括带有取样孔11的取样块1，以及固定在取样块1的一侧并覆盖取样孔11的盖板2，取样块1的另一侧用于固定到玻璃基板缺陷表面上，且玻璃基板表面缺陷保持在取样孔11内。其中，“玻璃基板样品”是指表面具有缺陷的玻璃基板。在本专利技术提供的玻璃基板取样装置中，通过将盖板2固定在取样块1的一侧，并将盖板2覆盖取样块1上的取样孔11，将取样块1的另一侧固定到玻璃基板缺陷表面上，能够使玻璃基板表面缺陷保持在取样孔11内，这样，盖板2、玻璃基板缺陷表面和取样孔11构成了一个封闭的空间，使得玻璃基板表面缺陷保持在该封闭空间内，则玻璃基板样品不会被污染，进而提升光谱仪对玻璃基板表面缺陷理化分析结果的准确性。为了便于查看玻璃基板表面缺陷是否放置在取样孔11内，优选地，盖板2选用玻璃。为了防止取样块1出现吸尘、产生静电、挥发等现象，污染玻璃基板样品，优选地，取样块1由清洁材质：PVC、不锈钢、铝型材或聚醚醚酮制得。具体地，取样块1的一侧设置有第一双面胶布以固定于盖板2，取样块1的另一侧设置有第二双面胶布以固定于玻璃基板缺陷表面。在玻璃基板取样装置固定到玻璃基板缺陷表面之后，将没有固定取样装置的玻璃基板的一侧放在大理石平台上，通过使用玻璃割刀沿着玻璃基板取样装置的外轮廓划线，将样品从整块玻璃基板上掰断，完成取样。这样，割断产生的颗粒粉尘不会粘附到由盖板2、玻璃基板缺陷表面和取样孔11构成了一个封闭的空间内，避免污染玻璃基板样品。此外，除缺陷检查设备外，还可以使用卤素灯或强光手电来查找玻璃基板缺陷表面。综上，本专利技术针对玻璃基板样品易受污染，导致光谱仪对玻璃基板样品理化分析结果不准确的问题，通过玻璃基板取样装置对具有表面缺陷的玻璃基板进行取样，使得玻璃基板样品不会被污染，提升光谱仪理化分析结果的准确性。以上结合附图详细描述了本专利技术的优选实施方式，但是，本专利技术并不限于上述实施方式中的具体细节，在本专利技术的技术构思范围内，可以对本专利技术的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本专利技术的保护范围。另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本专利技术对各种可能的组合方式不再另行说明。此外，本专利技术的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本专利技术的思想，其同样应当视为本专利技术所公开的内容。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种玻璃基板取样装置，其特征在于，该取样装置包括带有取样孔(11)的取样块(1)，以及固定在该取样块(1)的一侧并覆盖所述取样孔(11)的盖板(2)，所述取样块(1)的另一侧用于固定到玻璃基板缺陷表面上，且玻璃基板表面缺陷保持在所述取样孔(11)内。
【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板取样装置，其特征在于，该取样装置包括带有取样孔
(11)的取样块(1)，以及固定在该取样块(1)的一侧并覆盖所述取样孔
(11)的盖板(2)，所述取样块(1)的另一侧用于固定到玻璃基板缺陷表
面上，且玻璃基板表面缺陷保持在所述取样孔(11)内。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板取样装置，其特征在于，所述盖板
(2)为玻璃，所述取样块(1)由PVC、不锈钢、铝型材或聚醚醚酮制得。
3.根据权利要求1所述的玻璃基板取样装置，其特征在于，所述取样
块(1)的一侧设置有第一双面胶布以固定于所述盖板(2)。
4.根据权利要求1或3所述的玻璃基板取样装置，其特征在于，所述
取样块(1)的另一侧设置有...
【专利技术属性】
技术研发人员：林海峰，李兆廷，石志强，李震，李俊生，
申请(专利权)人：芜湖东旭光电科技有限公司，东旭光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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