花键轴底径跳动检具制造技术

技术编号:14220199 阅读:146 留言:0更新日期:2016-12-19 11:52
本实用新型专利技术提供了一种花键轴底径跳动检具,属于机械技术领域。它解决了现有的三坐标测量仪检测存在检验方法复杂、检测精度低的问题。本花键轴底径跳动检具,包括工作台和设于工作台上用于支撑花键轴的支撑结构,在支撑结构的作用下花键轴可沿自身轴线周向转动,花键轴上套设有呈筒状的辅套,辅套的内部周向均布有沿辅套轴向延伸的内齿,两相邻的内齿之间形成齿槽,内齿的齿数等于花键轴的花键数,且内齿的齿顶与花键轴的齿底贴合,花键轴的花键伸入至辅套的齿槽内且花键轴的齿顶与齿槽的齿底间具有间隙,工作台上设有用于测量辅套外表面径向跳动的测量单元。本实用新型专利技术具有结构简单,检测方便、快速和准确等优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于机械
,涉及一种花键轴底径跳动检具,特别是一种冷挤压花键轴底径的跳动检具。
技术介绍
花键轴用来传递机械扭矩,通常与套设于其上的旋转件传动连接,在花键轴的外表有纵向键槽,套在花键轴上的旋转件也有对应的键槽,可保持跟花键轴同步旋转,在旋转的同时,还可以在花键轴上作纵向滑动,如变速箱换档齿轮等。为保证花键轴的合格率,制造完成后需对花键轴的底径跳动进行检测。现有技术中,大都采用三坐标测量仪对其进行检测,其存在以下问题:三坐标测量仪成本高,检验方法复杂,从而不能快速对花键轴的底径跳动进行检测,而且检测精度较低。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有的技术存在上述问题,提出了一种结构简单,检测方便、快速和准确的花键轴底径跳动检具。本技术的目的可通过下列技术方案来实现:本花键轴底径跳动检具,包括工作台和设于工作台上用于支撑花键轴的支撑结构,在所述支撑结构的作用下花键轴可沿自身轴线周向转动,其特征在于,所述的花键轴上套设有呈筒状的辅套,所述辅套的内部周向均布有沿辅套轴向延伸的内齿,两相邻的内齿之间形成齿槽,所述内齿的齿数等于花键轴的花键数,且所述内齿的齿顶与花键轴的齿底贴合,所述花键本文档来自技高网...
花键轴底径跳动检具

【技术保护点】
一种花键轴底径跳动检具,包括工作台(1)和设于工作台(1)上用于支撑花键轴的支撑结构,在所述支撑结构的作用下花键轴可沿自身轴线周向转动,其特征在于,所述的花键轴上套设有呈筒状的辅套(2),所述辅套(2)的内部周向均布有沿辅套(2)轴向延伸的内齿(21),两相邻的内齿(21)之间形成齿槽(22),所述内齿(21)的齿数等于花键轴的花键数,且所述内齿(21)的齿顶与花键轴的齿底贴合,所述花键轴的花键伸入至辅套(2)的齿槽(22)内且花键轴的齿顶与齿槽(22)的齿底间具有间隙(23),所述的工作台(1)上设有用于测量辅套(2)外表面径向跳动的测量单元。

【技术特征摘要】
1.一种花键轴底径跳动检具,包括工作台(1)和设于工作台(1)上用于支撑花键轴的支撑结构,在所述支撑结构的作用下花键轴可沿自身轴线周向转动,其特征在于,所述的花键轴上套设有呈筒状的辅套(2),所述辅套(2)的内部周向均布有沿辅套(2)轴向延伸的内齿(21),两相邻的内齿(21)之间形成齿槽(22),所述内齿(21)的齿数等于花键轴的花键数,且所述内齿(21)的齿顶与花键轴的齿底贴合,所述花键轴的花键伸入至辅套(2)的齿槽(22)内且花键轴的齿顶与齿槽(22)的齿底间具有间隙(23),所述的工作台(1)上设有用于测量辅套(2)外表面径向跳动的测量单元。2.根据权利要求1所述的花键轴底径跳动检具,其特征在于,所述辅套(2)的侧部具有轴向延伸的开槽(24),所述的开槽(24)位于辅套(2)的齿槽(22)处并与该齿槽(22)连通,所述的辅套(2...

【专利技术属性】
技术研发人员:仇伟伟颜成刚熊智平
申请(专利权)人:利欧集团浙江泵业有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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