电子元件分类料盒检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术在于提供一种电子元件分类料盒检测方法及装置。该方法和装置用以检测料盒是否位于预定位置，其包括：一分类收集装置，承收一检测机构完成检测排出而经分类管传送来的受测元件，上设有多个料盒进行收集受测元件；一检测件，其上设有感测元件，使感测元件位于料盒旁侧作非接触式检测，检测件上形成有该多个感测元件的检测电路及处理器，该检测电路集中通过同一组导线接引与外部其它控制电路接口连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一检测方法及装置，尤指一种在电子元件分选分类过程中，用以对电子元件分类收集用料盒进行检测的电子元件分类料盒检测方法及装置。
技术介绍
一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送，这些被检测、分选的电子元件例如无源元件或LED发光二极管。现有技术在进行检测时，常采用可作间歇旋转的测盘，在测盘周缘环列布设等间距凹设的载槽，借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送，历经多个检测站的程序后依其检测出的物理特性，并经由一具X、Y轴向位移分类的分选机构，或经由类同前述测盘具有周缘环列布设等间距凹设的载槽的转盘的分类机构，依受检测元件的检测结果进行分类，并予以排出至不同的分类管，以输送至特定的料盒进行收集；这些料盒是由多个组成，并以矩阵方式排列成矩形，而共同设于一分类收集装置的一抽屉中，各料盒并可同时借抽屉被抽移而进出该分类收集装置。现有技术中，各料盒下方对应的抽屉表面处设有微动开关元件，当料盒被抽出而未置于预定位置时，因微动开关元件未被料盒压抵，致产生一控制信号以显示料盒未放妥，机台暂时停机无法作业，直到料盒已置于预定位置并压抵下方的微动开关元件，才产生料盒已放妥的控制信号，使机台可正常运作。现有技术中，采用微动开关元件位于各料盒下方对应的抽屉表面处，仅能适用于料盒下方无特殊设计的场合，有些机台在料盒的设计上，考量其特殊功能，会在料盒下方底部设置例如弹性元件或其他感测机构，如此，则用以检测料盒是否置于抽屉中预定位置的微动开关元件位于各料盒底部下方对应的抽屉表面处，即显非适当。因为料盒无法在底部已设置例如弹性元件或其他感测
机构的情况下与该微动开关元件正常接触受其感应及检测；再者，微动开关属于接触式检知元件，其故障率较高；且由于每一料盒须对应设置一个微动开关，一般设有128BIN或256BIN的分类，即设有128或256个料盒，其不仅成本太高，仅128或256组微动开关电线的组配即极为复杂而耗时、耗工、耗成本，且要将如此多组电线塞入料盒下方的抽屉中，亦困难达成。故实务上仅将微动开关安装在主要的料盒(大约20个)下方，并无法全面进行检测。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种可使料盒检测不受料盒底部机构影响的电子元件分类料盒检测方法。本专利技术的另一目的在于提供一种可使料盒检测不受料盒底部机构影响的电子元件分类料盒检测装置。本专利技术的又一目的在于提供一种依据所述电子元件分类料盒检测方法的装置。依据本专利技术目的的电子元件分类料盒检测方法，包括：提供承收一检测机构完成检测排出而经分类管传送来的受测元件的分类收集装置，该分类收集装置上设有多个料盒进行收集受测元件；提供一设有感测元件的检测件，使感测元件位于料盒旁侧作非接触式检测，检测件上形成有这些感测元件的检测电路及处理器，该检测电路集中通过同一组导线接引与外部其它控制电路接口连接，以检测料盒是否位于该分类收集装置上的预定位置。依据本专利技术目的的电子元件分类料盒检测方法，用以检测料盒是否位于预定位置，包括：一分类收集装置，承收一检测机构完成检测排出而经分类管传送来的受测元件，上设有多个料盒进行收集受测元件；一检测件，其上设有感测元件，检测件位于料盒旁侧，其上形成有这些感测元件的检测电路及处理器，该检测电路集中通过同一组导线接引与外部其它控制电路接口连接。本专利技术实施例的电子元件分类料盒检测方法及装置，由于采由于采用设有感测元件的检测件位于料盒旁侧进行检测，因此可以使料盒检测不受料盒底部机构影响；且因感测元件由具有发射及接收功能的LED发光二极管所构成，其为非接触式检知元件作非接触式检测，故障率较低；且因可由两列料盒共用一检测件，检测件的PCB印刷电路板上各印刷的检测电路仅集中通过同一组导线接引与外部其它控制电路接口连接，并透过通讯协定将信号资料上传至机台控
制系统，故电线的配线线路少且单纯，组配极为简单而省时、省工、省成本，亦无多组电线必须塞入料盒下方的抽屉中的问题，故即使对所有料盒全面进行检测，亦非难事。附图说明为让本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本专利技术的具体实施方式作详细说明，其中：图1是本专利技术实施例所应用的电子元件检测分类设备实施例的立体示意图。图2是本专利技术实施例所应用的电子元件检测分类设备实施例的分类收集装置示意图。图3是本专利技术实施例的俯视示意图。图4是本专利技术实施例的立体示意图。符号说明：A 检测机构 A1 测盘A2 排出管 B 分选机构B1 分类管 C 分类收集装置C1 料盒 C2 座架C21 上座架 C22 下座架C221 滑轨 C23 容置空间C24 侧架 C3 拖架C31 拖座 C311 握把C32 容器架 C321 镂孔C322 架板 C323 底座C33 弹性元件 C4 余隙D 检测件 D1 感测元件D2 导线具体实施方式请参阅图1，本专利技术实施例的电子元件分类料盒检测方法及装置，可以使用于图中所示电子元件分选设备，兹以其为例作说明，该电子元件分选设备包括：一检测机构A，包括一可作间歇旋转的测盘A1，其测盘A1周缘环列布设等间距凹设的载槽，可借自震动送料机(图中未示)的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送受测元件；测盘A1上方可设置各种物理特性检测仪器以对位于测盘A1周缘载槽中的受测元件进行检测；检测机构A同时设有排出管A2，可用以将完成检测的受测元件予以排出分类；一分选机构B，其承接前述检测机构A排出管A2所传送来的受测元件，并以多个分类管B1分别将受测元件进行分类排出；一分类收集装置C，其上设有多个料盒C1，其呈矩阵方式排列成矩形，所述多个分类管B1将所传送来的受测元件各排入对应的料盒C1进行收集。请参阅图1、2，该分类收集装置C包括：一座架C2，包括一上座架C21及一下座架C22，其间形成一容置空间C23，并由两侧的侧架C24定位其间的高度，而整体形成一独立的框状构件；下座架C22位于容置空间C23内的两侧各设有滑轨C221；一拖架C3，包括一拖座C31及位于拖座C31上的容器架C32，容器架C32以多个分别各设有上、下对应镂孔C321的架板C322，使各料盒C1载置于该镂孔C321中，容器架C32底部设有一底座C323，各料盒C1底部与底座C323间设有一由锥形弹簧构本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件分类料盒检测方法，包括：提供承收一检测机构完成检测而排出并经分类管传送来的受测元件的分类收集装置，该分类收集装置上设有多个料盒以收集该受测元件；提供一设有感测元件的检测件，使感测元件位于料盒旁侧作非接触式检测，检测件上形成有多个该感测元件的检测电路及处理器，该检测电路集中通过同一组导线与外部其它控制电路接口连接，以检测料盒是否位于该分类收集装置上的预定位置。

【技术特征摘要】
2015.03.11 TW 1041078211.一种电子元件分类料盒检测方法，包括：提供承收一检测机构完成检测而排出并经分类管传送来的受测元件的分类收集装置，该分类收集装置上设有多个料盒以收集该受测元件；提供一设有感测元件的检测件，使感测元件位于料盒旁侧作非接触式检测，检测件上形成有多个该感测元件的检测电路及处理器，该检测电路集中通过同一组导线与外部其它控制电路接口连接，以检测料盒是否位于该分类收集装置上的预定位置。2.如权利要求1所述电子元件分类料盒检测方法，其特征在于，该导线包括电源及通讯线，处理器在接收料盒状态后，透过通讯协定将信号上传至机台控制系统。3.一种电子元件分类料盒检测装置，用以检测料盒是否位于预定位置，包括：一分类收集装置，承收一检测机构完成检测而排出并经分类管传送来的受测元件，该分类收集装置上设有多个料盒以收集该受测元件；一检测件，其上设有感测元件，感测元件位于料盒旁侧，检测件上形成有该多个感测元件的检测电路及处理器，该检测电路集中通过同一组导线与外部其它控制电路接口连接。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：纪建兆，
申请(专利权)人：万润科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71