电子元件检查分类设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种电子元件检查分类设备，其包含多个置料装置、取像装置、分类装置、搬移装置及中央控制装置，多个置料装置分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘，取像装置于多个置料装置间设有共用的3Ｄ取像器，并设有至少一可位移动作的2Ｄ取像器，搬移装置设有多个移料器，于3Ｄ取像完毕后，取像装置是以2Ｄ取像器对各置料装置上的电子元件进行2Ｄ取像作业，分类装置设有盛装良品电子元件的良品区及盛装不良品电子元件的不良品区，中央控制装置是控制搬移装置的换料器将各置料装置的料盘上的不良品电子元件移载至分类装置的不良品区，并将良品区的良品电子元件补置于料盘上，达到节省设备成本及增加检查产能的实用效益。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是提供一种于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，并搭配具多个移料器的搬移装置，而提升3 D取像器的使用效能，以及易于分类收置电子元件，进而节省设备成本及增加检查产能的电子元件检查分类设备。
技术介绍
在现今，电子元件于制作完成后，业者是以检查设备对电子元件进行接点、外观、真圆度或型号等检查作业，请参阅图1，为现有电子元件检查设备的示意图，其是于机台11上配置有一具供料区121及载台122的供料器12，其供料区121是容置有盛装待检查电子元件14的料盘13，并以载台122将具待检查电子元件14的料盘13作第一方向(如X方向)位移载送至移料器15的下方，移料器15是作第二、三方向(如Y、Z方向)位移于载台122上的料盘13取出待检查的电子元件14，并移载至3 D取像器16处，3 D取像器16即对料盘13上的电子元件14进行3 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置(图未示出)，中央控制装置即对电子元件14进行接点、外观、脚位或真圆度等检查作业，移料器15再将3 D取像完毕的电子元件14放回料盘13，进而依序取出下一批待检查的电子元件14，于各电子元件14完成3 D取像作业后本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子元件检查分类设备，其特征在于，包含：机台；多个置料装置：其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘；取像装置：其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3Ｄ取像器，用以对电子元件进行3Ｄ取像作业，另设有至少一2Ｄ取像器，用以对电子元件进行2Ｄ取像作业；分类装置：其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区；搬移装置：其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3Ｄ取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业；中央控制装置：是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件检查分类设备，其特征在于，包含: 机台； 多个置料装置:其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘； 取像装置:其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，用以对电子元件进行3 D取像作业，另设有至少一 2 D取像器，用以对电子元件进行2 D取像作业； 分类装置:其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区； 搬移装置:其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3D取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业； 中央控制装置:是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。2.根据权利要求1所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，多个置料装置是分别设有供料区及收料区，所述供料区容置至少一盛装待检查电子元件的料盘，所述收料区容置至少一盛装已检查电子元件的料盘。3.根据权利要求2所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，多个置料装置分别设有至少一于供料区及收料区间载送料盘的载台。4.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑炜彦，陈奂维，赖正鑫，曹允杰，
申请(专利权)人：台湾暹劲股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：