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利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置制造方法及图纸

技术编号:13758283 阅读:56 留言:0更新日期:2016-09-26 18:19
本实用新型专利技术公开了一种利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置,包括光学摄像头,所述光学摄像头与被测试样相对应设置,所述光学摄像头与光电信号处理分析单元连接,所述被测试样由加热装置进行加热,加热装置与温控单元连接。本实用新型专利技术测试过程全自动完成,整个测试过程无须人工干预、测量结果精准、测试效率极大提高、操作简单方便,一键式操作、测试成本低廉、性价比高。另外,本实用新型专利技术可将测试数据通过嵌入式智能控制单元进行传输与共享,嵌入式智能控制单元可提供丰富的外围接口,方便测试数据的联网与共享,大大提高了数据的利用价值,具有良好的应用和推广价值。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置,是对高分子聚合物材料如薄膜、薄片、热收缩膜等材料热收缩率的测试装置,该装置可应用于食品药品包装材料薄膜热收缩率的测试场合,也可应用于对材料收缩率有测试要求的其他行业。
技术介绍
热缩包装广泛应用于食品药品包装领域,塑料薄膜薄片的热收缩率是包装性能的一项重要考量指标,是热收缩包装、贴体包装性能优劣的关键。现有热收缩率测试的装置和仪器,一般采用油浴和环境箱的方式来实现,试验前事先测量试样的初始尺寸,试验时将被测试样放置到恒温的油浴或环境箱中,经过一定时间后取出,人工测量收缩后的试样尺寸,通过手工计算被测试样收缩前后的尺寸比值,得到被测试样的热收缩率指标。现有热收缩测试装置或仪器存在的问题:一是试样原始尺寸和热收缩后的尺寸需要人工测量;二是由于薄膜热收缩时变形不规律,测试试样尺寸不容易测量,测试误差大;三是测试过程不连续,测试效率很低;四是现有热收缩率测试的装置或仪器也有可自动测量薄膜热收缩率的功能,但是其测量装置必须与试样直接或间接相连,通过薄膜收缩时产生的力拖动测量机构,由于试样收缩率较小,收缩时产生的力也较小,这种测量机构将导致测试结果不准确。对热收缩率测试有严格要求的场合,现有的测试装置或仪器、检测方法均无法满足要求,同时低下的测试手段与测试效率造成物力资源浪费与人力资源浪费,限制了相关产业的发展。
技术实现思路
本技术的目的是为克服上述现有技术的不足,提供一种利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置,解决了现有热收缩率测试存在的测试误差大、测量困难、测试效率低、人工干预测量、资源浪费等问题。为实现上述目的,本技术采用下述技术方案:利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置,包括光学摄像头,所述光学摄像头与被测试样相对应设置,所述光学摄像头与光电信号处理分析单元连接,所述被测试样由加热装置进行加热,加热装置与温控单元连接。加热装置与温控单元相连接实现对加热装置的加热控制,用于给被测试样提供热缩温度,光学摄像头实时采集被测试样的图像,试样图像被传递给与光学摄像头相连的光电信号处理分析单元,光电信号处理分析单元对试样图像转换、分析、处理,即可实时得到试样的尺寸变化,从而可全自动地完成整个热收
缩率的测试过程。所述加热装置为加热台或加热块,所述被测试样放置于加热台或加热块上;由加热台或加热块直接给被测试样加热,方便提供被测试样热收缩的热源。所述加热装置为加热空间,所述被测试样设于加热空间内;将被测试样放置于加热空间内进行加热,加热空间可以由温控单元控制使加热空间内温度恒定。所述光学摄像头置于加热空间外,所述加热空间与光学摄像头对应处设有观察口;光学摄像头放置于加热空间外时,光学摄像头由观察口采集被测试样的图像。所述光学摄像头置于加热空间内;将光学摄像头直接放置于加热空间内,对应被测试样的位置采集图像。所述加热空间内设有试样支撑机构,试样支撑机构上支撑被测试样;在加热空间内由试样支撑机构给被测试样以支撑力。本技术的有益效果为:本技术测试过程全自动完成,整个测试过程无须人工干预、测量结果精准、测试效率极大提高、操作简单方便,一键式操作、测试成本低廉、性价比高。另外,本技术可将测试数据通过嵌入式智能控制单元进行传输与共享,嵌入式智能控制单元可提供丰富的外围接口,方便测试数据的联网与共享,大大提高了数据的利用价值,具有良好的应用和推广价值。附图说明图1为本技术实施例1的装置结构示意图;图2为本技术实施例2的装置结构示意图;图3为本技术实施例3的装置结构示意图;图4为在被测试样上做标志线示意图;图5为光电信号处理分析单元示意图;图中,1光学摄像头,2光电信号处理分析单元,3被测试样,4加热台,5温控单元,6观察口,7加热空间,8试样支撑机构,9标志线,10图像数据接口,11显示屏模块,12中央处理器,13电源模块,14键盘模块。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置包括光学摄像头1、光电信号处理分析单元2、加热装置、温控单元5。将被测试样3放置到加热装置中,加热装置与温控单元5相连接,温控单元5实现对加热装置的加热、恒温控制功能,光学摄像头1位于被测试样3
相对的方向,与被测试样3不接触,光学摄像头1实时采集被测试样的图像,试样图像被传递给与光学摄像头1相连的光电信号处理分析单元2,光电信号处理分析单元2对试样图像转换、分析、处理,即可实时得到试样的尺寸变化,从而可全自动地完成整个热收缩率的测试过程,整个试验过程中无须人工干预,由系统全自动完成,并且测量精度高、测试效率高。光电信号处理分析处理单元2可以与光学摄像头1为一体形式,也可以是与光学摄像头1分离的形式。加热装置用于提供被测试样热收缩的热源,加热装置可以是一种加热台或加热块,也可以是一种加热空间,温控单元控制加热装置加热,并保持加热装置恒定在一特定温度。加热装置可以是但不仅限于加热块、加热台、加热空间。实施例1:如图1所示,利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的仪器装置,包括光学摄像头1、光电信号处理分析单元2、被测试样3、加热台4、温控单元5,光学摄像头1用于拍摄被测试样的图像,光学摄像头1与光电信号处理分析单元2相连接,光电信号处理分析单元2用于被测试样图像的转换、分析、计算;被测试样3可以有支撑导向机构;加热台4用于提供被测试样热收缩时的热源、加热台4与温控单元5相连接,温控单元5用于给加热台4加热、控温。实施例2:如图2所示,利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的仪器装置,包括光学摄像头1、光电信号处理分析单元2、观察口6、被测试样3、加热空间7,试样支撑机构8,温控单元5;光学摄像头1用于拍摄被测试样的图像,光学摄像头1与光电信号处理分析单元2相连接,光电信号处理分析单元2用于被测试样图像的转换、分析、计算;观察口6便于光学摄像头1拍摄;被测试样3可以有支撑导向机构;加热空间7可以是环境箱或加热箱或其他控温空间,用于提供被测试样热收缩时的热源、加热空间7与温控单元5相连接;试样支撑机构8用于保证试样的自然状态;温控单元5用于给加热空间7加热、控温。实施例3:如图3所示,利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的仪器装置,包括光学摄像头1、光电信号处理分析单元2、被测试样3、加热空间7,试样支撑机构8,温控单元5;光学摄像头1用于拍摄被测试样的图像,光学摄像头1与光电信号处理分析单元2相连接,光电信号处理分析单元2用于被测试样图像的转换、分析、计算;被测试样3可以有支撑导向机构;加热空间7可以是环境箱或加热箱或其他控温空间,用于提供被测试样热收缩
时的热源、加热空间7与温控单元5相连接;试样支撑机构8用于保证试样的自然状态;温控单元5用于给加热空间7加热、控温。如图5所示,光电信号处理分析单元主要包括:图像数据接口10、显示屏模块11、中央处理器12、电源模块13、键盘模块14。中央处理器12与图像数据接口10、显示屏模块11、键盘模块14通过数据总线相连接;电源模块14给整个信号处理单元提供电力供应。工作过程如下:当中央处理器12收到接收到键盘模块14传本文档来自技高网
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【技术保护点】
利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置,其特征是,包括光学摄像头,所述光学摄像头与被测试样相对应设置,所述光学摄像头与光电信号处理分析单元连接,所述被测试样由加热装置进行加热,加热装置与温控单元连接。

【技术特征摘要】
1.利用光学图像技术测量薄膜薄片热收缩率的装置,其特征是,包括光学摄像头,所述光学摄像头与被测试样相对应设置,所述光学摄像头与光电信号处理分析单元连接,所述被测试样由加热装置进行加热,加热装置与温控单元连接。2.如权利要求1所述的装置,其特征是,所述加热装置为加热台或加热块,所述被测试样放置于加热台或加热块上。3.如权利要求1所述的装置,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:张目清
申请(专利权)人:张目清
类型:新型
国别省市:山东;37

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