瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统技术方案

本发明专利技术涉及瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，通过MCU自动化控制实现瞬变二极管样品的自动更换，并通过发光二极管监视试验中的异常情况以及通过温度传感器采集热敏电阻的实时温度，以防烫伤同时获取保护器件的工作情况。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电阻器自动化测试
，尤其是指一种瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统。
技术介绍
元器件的质量从根本上决定电子产品的可靠性，元器件的检测工作日益引起人们的重视。瞬变二极管是使用最广泛的保护类元器件之一，其测试工作开始规范化，《Q/GDW 11179.6电能表用元器件技术规范 第6部分：瞬变二极管》（以下简称标准）元器件标准都对电阻器测试方法进行了明确规定。由于瞬变二极管是保护类器件，许多测试试验需经受大电压、大电流冲击，从而具有一定的危险性。其中工频电流冲击试验就是一项较危险的试验，试验电压采用交流380V，试验电流最大超过10A，具有一定的危险性。具体表现在：（1）实验电压采用交流380V：众所周知，由于人体安全电压为36V，380V已远远超出人体安全电压的极限。试验人员若直接试验，或通过一般的保护措施进行试验，仍旧存在试验危险性大的问题。（2）实验电流超过10A：按照标准规定的试验条件，通电瞬间电流最高可达10A以上，10A对于人体来说是非常危险的电流，使实验的危险性增大。（3）保护器件发热严重，甚至存在爆炸的风险：标准对该项试验进行了明确规定，电源容易大于4kW，保护器件仅使用热敏电阻器，试验时间持续1min。1min的持续大电压，热敏电阻器及瞬变二极管均有明显的发热现象，热敏电阻器的温度高达200度以上，试验后的触摸可能造成烫伤等危险，在这样的高温条件下，保护器件甚至有爆炸的可能性。
技术实现思路
为此，本专利技术所要解决的技术问题在于克服现有技术中瞬变二极管在试验时危险性较高的问题从而提供一种提高安全性以及实验效率的瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统。为解决上述技术问题，本专利技术的一种瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，包括置放所述瞬变二极管的试验板，所述瞬变二极管与热敏电阻相串联，所述系统还包括微控制中心，所述微控制中心包括MCU以及分别与所述MCU连接的继电器阵列、发光二极管及LED显示屏、开关，其中所述试验板通过继电器阵列与高压源相连，所述热敏电阻通过温度传感器与所述MCU相连。在本专利技术的一个实施例中，所述试验板上置放有多个瞬变二极管，且每个瞬变二极管均与继电器阵列中的相应各个继电器相连。在本专利技术的一个实施例中，所述MCU控制各个继电器与所述试验板上对应的瞬变二极管连接。在本专利技术的一个实施例中，所述多个瞬变二极管通过夹具置放在所述试验板内。在本专利技术的一个实施例中，所述夹具包括引线式夹具与贴片式夹具。在本专利技术的一个实施例中，所述MCU采用MSP430F5438A单片机。在本专利技术的一个实施例中，所述继电器阵列采用干簧继电器。在本专利技术的一个实施例中，所述微控制中心采用开关电源供电。本专利技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：本专利技术所述瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，大大提高了瞬变二极管试验的安全性与试验效率，通过发光二极管及温度传感器实时展现试验过程中的情况，使试验更科学更安全；再者测试人员只需操作开关即可开始多批次的试验。附图说明为了使本专利技术的内容更容易被清楚的理解，下面根据本专利技术的具体实施例并结合附图，对本专利技术作进一步详细的说明，其中图1是本专利技术所述瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统的示意图。具体实施方式实施例一：请参考图1所示，本实施例提供一种瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，包括置放所述瞬变二极管的试验板，所述瞬变二极管与热敏电阻相串联，所述系统还包括微控制中心，所述微控制中心包括MCU以及分别与所述MCU连接的继电器阵列、发光二极管及LED显示屏、开关，其中所述试验板通过继电器阵列与高压源相连，所述热敏电阻通过温度传感器与所述MCU相连。本实施例所述瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，包括置放所述瞬变二极管的试验板、温度传感器、微控制中心以及高压源。其中所述微控制中心包括MCU、继电器阵列、发光二极管及LED显示屏、开关，所述试验板通过继电器阵列与高压源相连，由于所述开关与所述MCU相连，所述MCU与继电器阵列相连，因此通过操作开关就可以直接控制所述试验板上的瞬变二极管进行实验。所述瞬变二极管与热敏电阻相串联，所述热敏电阻通过温度传感器与所述MCU相连，所述MCU与发光二极管及LED显示屏相连，当启动开关后实验开始，通过所述发光二极管可以显示对应瞬变二极管试验中的状态，有利于监视试验中的异常情况；通过所述LED显示屏可以显示正在测试的瞬变二极管的编号及对应的热敏电阻器温度，以防烫伤的同时获取保护器件的工作情况，因此大大提高了瞬变二极管试验的安全性与试验效率，本专利技术通过发光二极管及温度传感器实时展现试验过程中的情况，使试验更科学、更安全。所述试验板上置放有多个瞬变二极管，且每个瞬变二极管均与继电器阵列中的相应各个继电器相连，由于所述各个继电器均与高压源相连，因此可以逐个对所述瞬变二极管进行测试。所述MCU控制各个继电器与所述试验板上对应的瞬变二极管连接，由于所述开关与所述MCU连接，因此测试人员通过启动开关就可以直接对所述试验板上的多批样品逐一进行自动实验，测试人员只需在远处观察发光二极管的状态及LED显示屏上的数据即可，因此实验更科学且更安全。为了将所述瞬变二极管固定在所述试验板上，所述多个瞬变二极管通过夹具置放在所述试验板内。为了使所述试验板上的多批样品逐一进行自动实验，所述夹具包括引线式夹具与贴片式夹具，因此试验板可兼容不同封装的二极管进行试验，只需配以不同封装的测试夹具即可。所述MCU采用MSP430F5438A单片机。所述MSP430F5438A是TI公司推出的一款16位超低功耗、具有精简指令集（RISC）的混合信号处理器，以低功耗而著称，它集高性能模拟技术、丰富的片上外围模块、强大的处理能力和方便高效的开发环境于一体，性能优越，工作可靠，能极大简化系统的软硬件设计，一定程度上减少了系统芯片数量，可达到降低成本，提高性能的目的。所述继电器阵列采用干簧继电器。所述干簧继电器结构简单，体积小，吸合功率小，灵敏度高，一般吸合与释放时间均在0.5ms-2ms之间，触点密封，不受尘埃、潮气及有害气体污染，动片质量小，动程小，触点电寿命长，一般可达10的7次方左右。干簧继电器在自动化、运动技术测量、通信技术等方面得到了广泛应用。本专利技术中，所述微控制中心采用开关电源供电，可使供电效率提高。所述高压源是指380V高压源。综上，本专利技术所述技术方案具有以下优点：1.本专利技术所述瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，包括置放所述瞬变二极管的试验板、温度传感器、微控制中心以及高压源。其中所述微控制中心包括MCU、继电器阵列、发光二极管及LED显示屏、开关，所述试验板通过继电器阵列与高压源相连，由于所述开关与所述MCU相连，所述MCU与继电器阵列相连，因此通过操作开关就可以直接控制所述试验板上的瞬变二极管进行实验。所述瞬变二极管与热敏电阻相串联，所述热敏电阻通过温度传感器与所述MCU相连，所述MCU与发光二极管及LED显示屏相连，当启动开关后实验开始，通过所述发光二极管可以显示对应瞬变二极管试验中的状态，有利于监视试验中的异常情况；通过所述LED显示屏可以显示正在测试的瞬变二极管的编号及对应的热敏电阻器温度，以防烫伤的同时获取保护器件的工作情况，因此大大提高本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，包括置放所述瞬变二极管的试验板，所述瞬变二极管与热敏电阻相串联，其特征在于：所述系统还包括微控制中心，所述微控制中心包括MCU以及分别与所述MCU连接的继电器阵列、发光二极管及LED显示屏、开关，其中所述试验板通过继电器阵列与高压源相连，所述热敏电阻通过温度传感器与所述MCU相连。

【技术特征摘要】
1.一种瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，包括置放所述瞬变二极管的试验板，所述瞬变二极管与热敏电阻相串联，其特征在于：所述系统还包括微控制中心，所述微控制中心包括MCU以及分别与所述MCU连接的继电器阵列、发光二极管及LED显示屏、开关，其中所述试验板通过继电器阵列与高压源相连，所述热敏电阻通过温度传感器与所述MCU相连。2.根据权利要求1所述的瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，其特征在于：所述试验板上置放有多个瞬变二极管，且每个瞬变二极管均与继电器阵列中的相应各个继电器相连。3.根据权利要求2所述的瞬变二极管工频电流冲击自动化测试系统，其特征在于：所述MCU控制各个继电器与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：成达，张蓬鹤，徐英辉，薛阳，赵越，王雅涛，石二微，秦程林，谭琛，陈盛，康一鸣，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：北京;11