【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种用于柱状试样的磨制与抛光夹具,属于材料工程
技术介绍
试样的制备是检测材料显微组织结构和性能时至关重要的一步,试样制备的好坏直接影响到后续检测结果的准确性。在材料检测的大量实验中,棒状或柱状试样非常常见,采用徒手磨制时的效率很低,质量也参差不齐,严重影响检测的效率与信度。特别是直径小于5mm的细小试样在磨制时更是难上加难,由于待磨面与砂纸接触面积很小,极易造成磨抛表面不平、倾斜、倒边等缺陷。为了解决这个问题,通常需要对试样进行镶嵌处理,但镶嵌和取下的过程都较为繁杂,稍有不慎便会损伤试样,不利于后续的检测。为解决上述问题,中国技术专利ZL201320365991.4提供了一种磨制柱状金相试样的夹具,但该技术中的试样孔为内圆柱形,圆柱试样在磨制过程仅靠圆柱孔内壁和紧固螺栓顶端固定,处于两处线接触的状态,不够稳定,可能导致使试样在磨抛过程中产生相对滑动,从而影响磨抛的效率和质量。
技术实现思路
针对上述问题,本技术提供一种用于压缩或金相实验的柱状试样的磨抛夹具,可以用来批量磨抛柱状的压缩、金相等实验的检测试样。本技术采用的技术方案:如图1和图2所示,柱状试样磨制和抛光夹具包括圆柱本体和锁紧螺栓,夹具本体为Φ30~60×10~30mm的柱体,上下底面与侧壁之间采用R 2~4 mm的圆弧过度,以减少磨抛试样时对砂纸和抛光布的损伤;在夹具本体上设有2~8个六边形通孔,其贯通夹具本体的上下底面;六边形通孔的六边依次为a、b、c、d、e、f,其中,a=c=2~4 mm,f=d=5~8mm,e=1mm,b=3~5mm,边e与边b相互平行,边e到边b的垂直距 ...
【技术保护点】
一种用于柱状试样磨抛的夹具,其特征在于:所述夹具包括夹具本体和锁紧螺栓,夹具本体为Φ30~60×10~30mm的圆柱体,夹具本体的上下底面与侧壁之间之间采用R2~4mm的圆弧过度;在夹具本体上设有2~8个不规则的六边形通孔,六边形通孔贯通夹具本体的上下底面,六边形通孔的六边依次为a、b、c、d、e、f,其中,a=c=2~4 mm,f=d=5~8mm,e=1mm,b=3~5mm,边e与边b相互平行,边e到边b的垂直距离为6~9mm,边b靠近夹具本体的外侧,边e靠近夹具本体的中心;每个六边形通孔的侧面距圆柱本体底面5~15mm处垂直设一个M 3~5的螺纹通孔,并各配备一个的锁紧螺栓用于拧紧和固定试样。
【技术特征摘要】
1.一种用于柱状试样磨抛的夹具,其特征在于:所述夹具包括夹具本体和锁紧螺栓,夹具本体为Φ30~60×10~30mm的圆柱体,夹具本体的上下底面与侧壁之间之间采用R2~4mm的圆弧过度;在夹具本体上设有2~8个不规则的六边形通孔,六边形通孔贯通夹具本体的上下底面,六边形通孔的六边依次为a、b、c、d、e、f,其中,a=c=2~4 mm,f=d=5~8mm,e=1mm,b=3~5mm,边e与边b相互平行,边e到边b的垂直距离为6~9mm,边b靠近夹具本体的外侧,边e靠近夹具本体的中心;每个六边形通孔...
【专利技术属性】
技术研发人员:李才巨,卢文飞,易健宏,郗旸,滕龙,张淇萱,邹舟,李小红,马玉琼,
申请(专利权)人:昆明理工大学,
类型:新型
国别省市:云南;53
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