【技术实现步骤摘要】
201610236012
【技术保护点】
一种包含有金属、聚酰亚胺及阻挡层结构的器件单元体,所述器件单元体包括衬底(1)、绝缘氧化层(2)、第一金属层(3)、第一二氧化硅层(4)、第一氮化硅层(5)、聚酰亚胺(6)、第二金属层(7)、第二二氧化硅层(8)和第二氮化硅层(9),其特征在于:所述绝缘氧化层(2)位于衬底(1)上且邻接,所述第一金属层(3)有两个,分别位于器件单元体两端且覆盖在绝缘氧化层(2)上,所述第一二氧化硅层(4)和第一二氧化硅层(5)依次覆盖在绝缘氧化层(2)和部分第一金属层(3)表面,所述聚酰亚胺(6)覆盖在氮化硅(5)表面且分立于器件单元体两侧,所述第二二氧化硅层(8)和第二氮化硅层(9)依次 ...
【技术特征摘要】
1.一种包含有金属、聚酰亚胺及阻挡层结构的器件单元体,所述器件单元体包括衬底(1)、绝缘氧化层(2)、第一金属层(3)、第一二氧化硅层(4)、第一氮化硅层(5)、聚酰亚胺(6)、第二金属层(7)、第二二氧化硅层(8)和第二氮化硅层(9),其特征在于:所述绝缘氧化层(2)位于衬底(1)上且邻接,所述第一金属层(3)有两个,分别位于器件单元体两端且覆盖在绝缘氧化层(2)上,所述第一二氧化硅层(4)和第一二氧化硅层(5)依次覆盖在绝缘氧化层(2)和部分第一金属层(3)表面,所述聚酰亚胺(6)覆盖在氮化硅(5)表面且分立于器件单元体两侧,所述第二二氧化硅层(8)和第二氮化硅层(9)依次覆盖在聚酰亚胺(6)表面,所述第二金属层(7)有两个,分别位于器件单元体两端,所述左端的第二金属层(7)覆盖在第二氮化硅层(9)上,所述右端的第一金属层(3)上设有金属接触孔,所述右端的第二金属层(7)填充在金属接触孔内。2.根据权利要求1所述包含有金属、聚酰亚胺及阻挡层结构的器件单元体,其特征在于:所述绝缘氧化层(2)的厚度在100nm ~1000nm之间。3.根据权利要求1所述包含有金属、聚酰亚胺及阻挡层结构的器件单元体,其特征在于:所述第一金属层(3)和第二金属层(7)均为铜,且厚度均为2 ~ 4μm。4.根据权利要求1所述包含有金属、聚酰亚胺及阻挡层结构的器件单元体,其特征在于:所述第一二氧化硅层(4)和第二二氧化硅层(8)的厚度均为40n...
【专利技术属性】
技术研发人员:高向东,李俊,王涛,陈正才,陈慧蓉,马慧红,
申请(专利权)人:无锡中微晶园电子有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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