The present disclosure relates to a detecting device and a method for detecting the defective parts of a metal structure of a terminal device, belonging to the technical field of mobile terminals. The device comprises a coaxial connector, a first metal probe and second metal probe; core and outer wall comprises a coaxial connector; coaxial connector of the inner core through the first extension line is electrically connected with the first metal probe; outer coaxial connector through the second extension line is electrically connected with the second metal probe. The device provided by the public, in the process of testing the device can contact with the metal structure detected pieces form a loop antenna, the resonant frequency of the loop antenna acquisition method to detect the metal structure of the defective products, the design difficulty of the device is low, easy processing, and can be applied to detection of defective products different metal structures in the.
【技术实现步骤摘要】
用于检测终端设备的金属结构件不良品的检测装置及方法
本公开涉及移动终端
,特别涉及一种用于检测终端设备的金属结构件不良品的检测装置及方法。
技术介绍
终端设备中包括多种金属结构件。比如,金属中框,金属背壳等等。在实际生产中,生产厂商需要对金属结构件进行质量检测,以筛选掉金属结构件中的不良品。其中,不良品是指质量未达到设计要求的产品。
技术实现思路
本公开实施例提供了一种用于检测终端设备的金属结构件不良品的检测装置及方法,所述技术方案如下:根据本公开实施例的第一方面,提供了一种用于检测终端设备的金属结构件不良品的检测装置,所述装置包括:同轴接头、第一金属探针和第二金属探针;所述同轴接头包括内芯和外壁;所述同轴接头的内芯通过第一延长线与所述第一金属探针电性连接;所述同轴接头的外壁通过第二延长线与所述第二金属探针电性连接。可选地,在检测过程中,所述第一金属探针和所述第二金属探针分别与被检测的金属结构件接触。可选地,当所述被检测的金属结构件为金属中框时,所述第一金属探针在顺时针方向上沿所述金属中框的第一部分与所述第二金属探针电性连接,所述第一金属探针在逆时针方向上沿所述金属中框的第二部分与所述第二金属探针电性连接;所述同轴接头的内芯、所述第一延长线、所述第一金属探针、所述金属中框的第一部分、所述第二金属探针、所述第二延长线和所述同轴接头的外壁顺次连接形成第一环形天线;所述同轴接头的内芯、所述第一延长线、所述第一金属探针、所述金属中框的第二部分、所述第二金属探针、所述第二延长线和所述同轴接头的外壁顺次连接形成第二环形天线。可选地,所述装置还包括:支架和设置于所述支 ...
【技术保护点】
一种用于检测终端设备的金属结构件不良品的检测装置,其特征在于,所述装置包括:同轴接头、第一金属探针和第二金属探针;所述同轴接头包括内芯和外壁;所述同轴接头的内芯通过第一延长线与所述第一金属探针电性连接;所述同轴接头的外壁通过第二延长线与所述第二金属探针电性连接。
【技术特征摘要】
1.一种用于检测终端设备的金属结构件不良品的检测装置,其特征在于,所述装置包括:同轴接头、第一金属探针和第二金属探针;所述同轴接头包括内芯和外壁;所述同轴接头的内芯通过第一延长线与所述第一金属探针电性连接;所述同轴接头的外壁通过第二延长线与所述第二金属探针电性连接。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,在检测过程中,所述第一金属探针和所述第二金属探针分别与被检测的金属结构件接触。3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,当所述被检测的金属结构件为金属中框时,所述第一金属探针在顺时针方向上沿所述金属中框的第一部分与所述第二金属探针电性连接,所述第一金属探针在逆时针方向上沿所述金属中框的第二部分与所述第二金属探针电性连接;所述同轴接头的内芯、所述第一延长线、所述第一金属探针、所述金属中框的第一部分、所述第二金属探针、所述第二延长线和所述同轴接头的外壁顺次连接形成第一环形天线;所述同轴接头的内芯、所述第一延长线、所述第一金属探针、所述金属中框的第二部分、所述第二金属探针、所述第二延长线和所述同轴接头的外壁顺次连接形成第二环形天线。4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:支架和设置于所述支架上的卡件组件;所述卡件组件用于固定被检测的金属结构件;所述支架上形成至少两个固定孔,每一个金属探针固定于一个固定孔中。5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,每一个固定孔中设置有橡胶圈,所述金属探针穿过所述橡胶圈固定于所述固定孔中。6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述支架包...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑超,
申请(专利权)人:北京小米移动软件有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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