存储器件的快速测试电路及方法技术

本发明专利技术公开一种存储器件的快速测试电路及方法，其中测试电路包括：CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。本发明专利技术够在较短时间内对存储器存储数据的正确性做出判断，同时提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子电路
，具体涉及一种。
技术介绍
目前在各种集成电路内部都存在有存储器件，在生产阶段对存储器件的读写测试是一项重要的质量验证手段，但在没有存储器自测试电路的情况下，只能对存储的空间做全空间遍历读写操作，这样的验证过程是十分浪费时间的，对每个存储单元都包括，写入，读取，比对的操作过程，导致测试效率较低，产品成本提高。
技术实现思路
本专利技术一种，目的是减少存储器件通过读写方式验证的时间成本。本专利技术的目的由以下技术方案实现:一种存储器件的快速测试电路，包括:CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。一种基于上述存储器件的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器件的快速测试电路，其特征在于，包括：CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：常子奇，许登科，
申请(专利权)人：珠海市一微半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44