溅射靶用材料制造技术

技术编号:12282500 阅读:102 留言:0更新日期:2015-11-05 22:50
本发明专利技术的目的在于,提供一种可以调节溅射速率的溅射靶用材料。关于溅射靶用材料,被溅射的面的结晶组织的纵横比为3以上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及溅射靶用材料,更具体地说,涉及含有钼的溅射靶用材料。
技术介绍
目前,溅射靶用材料在(例如)特开2000-45066号公报(专利文献1 )、特开 2007-113033号公报(专利文献2)、特开2013-32597号公报(专利文献3)、专利4945037 号公报(专利文献4)、特开2000-234167号公报(专利文献5)、特开2013-154403号公报 (专利文献6)、特表2010-535943号公报(专利文献7)及特开2014-12893号公报(专利 文献8)中被公开。 现有技术文献 专利文献 专利文献1 :日本特开2000-45066号公报 专利文献2 :日本特开2007-113033号公报 专利文献3 :日本特开2013-32597号公报 专利文献4 :日本专利4945037号公报 专利文献5 :日本特开2000-234167号公报 专利文献6 :日本特开2013-154403号公报 专利文献7 :日本特表2010-535943号公报 专利文献8 :日本特开2014-12893号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题 专利文献1中公开了一种异常放电及微粒的产生少的钼系靶。另外,公开了这样 的专利技术:其涉及即使晶粒微细化,微粒产生也少的钼系靶。 专利文献2中公开了在钼加压烧结后进行塑性加工。公开了 :规定(110)面的相 对强度,Mo粉末的加压烧结、相对密度提高,且机械特性得以提高。 专利文献3中公开了使用冷喷法的Al、Cu、Ti、Ni、Cr、Co及Ta的溅射靶。 专利文献4中公开了钨靶。 专利文献5中公开了钼靶。公开了引起再结晶的组织抑制了击穿的发生。 专利文献6中公开了通过倾斜压延而制造溅射靶的技术。斜压延是必要的,在bcc 金属的< 110 > //ND的15°内取向的bcc金属的每单位体积的粒子的比率超过20. 4%。 专利文献7及8中公开了 bcc金属中的相对于板厚方向的100组织及111组织的 均匀性得以改善了的溅射用靶。 专利文献6-8公开了 bcc金属,对于高熔点金属,为了得到组织的均匀性,实施利 用特殊加工法即倾斜压延法的加工。该倾斜压延法可以应用于加工性好的金属。在本专利 文献中,作为bcc金属,也有关于加工性比较好的Ta、Nb的记载,但是对高恪点金属中加工 性特别差的W及Mo并没有描述。实际上,将倾斜压延法用于W、Mo时,由于容许应变小,会 产生层状裂纹而不能加工。 在现有技术中,关于调节溅射速率,均没有任何公开或教导。 本专利技术的目的在于,提供一种可调节溅射速率的溅射靶用材料。 本专利技术的一个方式所述的溅射靶用材料,被溅射的面的结晶组织的纵横比为3以 上。 专利技术效果 能够提供可调节溅射速率的溅射靶用材料。 附图简要说明 图1是将按照实施例(条件A)所制造的TD面放大后显示的图; 图2是将按照比较例(条件B)所制造的TD面放大后显示的图; 图3是表示钼粉末(Fsss费氏法:粒径5 μ m)中的XRD结果的图。【具体实施方式】(本专利技术的实施方式的说明) 首先,列举本专利技术的实施方式进行说明。 本专利技术的一个方式所述的溅射靶用材料,被溅射的面的结晶组织的纵横比为3以 上。 到目前为止存在的体心立方结构的钼板状靶,不能进行溅射速率的控制。通过进 行结晶组织的控制,可以得到靶的消耗少的钼靶。因溅射引起的消耗少时,可以延长靶寿 命。另外,针对近年来的薄膜化的要求,也要提高膜厚控制性。即,适于需要溅射速率高的 情况以外的用途。 作为现有方法,有烧结体靶以及热处理靶等不进行方位控制,而是以在随机方位 加快溅射速率为目的的技术。另外,有通过进行一定程度的组织控制,稍稍延缓溅射速率的 技术,但本专利技术的目的在于,通过控制加工应变的残留而提供溅射速率低的材料。 这是因为,作为最近的主要用途即Al配线的防扩散用的势皇金属,用薄的阻挡层 发挥了充分的效果。针对该薄膜化的要求,通过降低溅射速率,实现膜厚控制性及均匀性的 提尚。 通过将被溅射的面的结晶组织的纵横比设为3以上,可以使溅射速率为400nm/h 以下,由此,可以得到具有长的靶寿命的溅射靶。 优选的是,溅射靶用材料含有钼。 优选的是,溅射靶用材料由钼构成。 优选的是,如果被溅射的面即TD面(与压延方向平行的板断面)的纵横比为3以 上,则溅射速率为400nm/h以下。需要说明的是,这时板厚方向的平均粒径为50 μπι以下。 优选的是,被溅射的面的维氏硬度为Ην200以上。如果硬度为Ην200以上,则溅射 速率为400nm/h以下。 优选的是,溅射靶材料通过对钼粉末进行烧结来制造,钼粉末的纯度为4N(99. 99 质量% )以上。 (本专利技术实施方式的详细情况) 以下参照附图来说明根据本专利技术实施方式的具体例子。需要说明的是,本专利技术不 限于这些例示,而是由权利要求书的范围来表示,意图包含与权利要求书的范围相等的意 思及范围内的所有变化。 (实施例) (1)制造方法 使用由Fsss费氏法测定的粒径为1~20 μ m的钼粉末,在压力150~300MPa的 条件下使用橡胶袋对粉末进行静水压压制。之后在氢气气流中于1500°C以上的温度下烧结 压制成型体,得到钼烧结体(比重9. 7g/cm3)。 烧结体的热间压延加工使用2段压延机依照下面的要点进行。以压延后的板厚为 24mm的方式进行加工率76%的1次热间压延。为了防止热间压延中的高温加热引起的钼 晶粒的再结晶粗大化,初期热间压延的炉内加热温度控制在1400°C以下。 接着,使用切断机将初期热间压延后的压延板一分为二,将一个设定为用于实施 实施例的压延孔型配置的压延板(条件A),将另一个设定为用于实施通常压延孔型配置的 比较例的压延板(条件B),实施热间压延。 关于条件A,在温度900_1150°C氢气氛围加热炉中,使压延板达到均匀温度后,通 过4道次得到总体的压延率为37. 5%、板厚15_的实施例的压延板。 关于条件B,在温度1150-1300°C氢气氛围加热炉中,使压延板达到均匀温度后, 通过5道次得到总体的压延率为37. 5 %、板厚15_的比较例的压延板。条件A及B后半程 的热间压延的加工率均为37. 5%,来自烧结体的总压延率为85%,相对密度为99. 9%。 据认为条件A中残留应变量多,在为了取样而进行的切断工序中产生裂纹的可能 性高,在不会产生再结晶现象的温度600-1000°C氢加热炉中实施了 15分钟的去应变退火。 对于条件B,在1000-1300°C下进行了 60-120分钟热处理。 (2)组织观察 图1是将按照实施例(条件A)制造的TD面放大而显示的图。图1示出实施例 的条件A的TD面的金属组织。保持着与压延方向平行的方向(X方向:纵向)的尺寸为 80μπ?~300 μπ?左右、垂直的方向(Y方向:厚度方向)的尺寸为30μπ?~100μL?左右的 所谓as-rolled(乳制状态)的纤维状组织。 图2是将按照比较例(条件B)制造的TD面放大而显示的图。像通常一样,热处 理后的比较例的条件B呈现出与压延方向平行的方向(X方向:纵向)的尺寸为100 μπι~ 150 μπι左右、垂直的方向(Υ方向:厚度方向)的尺寸为50 μπι~100 μπι本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种溅射靶用材料,被溅射的面的结晶组织的纵横比为3以上。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:小林宜敬加藤昌宏深谷芳竹
申请(专利权)人:联合材料公司
类型:发明
国别省市:日本;JP

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