一种对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置，包含：光源，其产生激发光；积分器，其具有入射激发光的入射开口部、及射出被测定光的射出开口部；收纳部，其配置于积分器内，且收纳试样；入射光学系统，其使激发光入射至试样；光检测器，其检测自射出开口部射出的被测定光；及解析单元，其基于由光检测器检测出的检测值，计算试样的量子产率；激发光以包含(内包)试样的方式被照射于该试样。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及分光测定装置、分光测定方法、及试样容器。
技术介绍
—直以来，已知有对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置。作为该种技术，例如专利文献I中记载有量子效率测定装置。该专利文献I所记载的量子效率测定装置中，由积分球对单一波长的放射的荧光体中的反射成分及被激发的荧光发光的全放射成分进行积分，测定其分光能量分布，并且由积分球对单一波长的放射的分光反射率标准中的全反射成分进行积分，测定其分光分布。然后，基于该测定值，计算荧光体所吸收的光量子量及荧光发光的光量子量，根据其比可以谋求计算出荧光体的量子产率。另外，例如专利文献2中，记载有在求取量子产率时，在积分球内未直接击中激发光的位置固定试样，根据将激发光间接地入射至试样所得到的强度、与将激发光直接入射至试样所得到的强度，求得试样的吸收率的绝对荧光量子效率测定装置。另外，非专利文献I?3中，记载有以将激发光入射于试样的一部分作为前提来计算量子产率。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2003-215041号公报专利文献2:日本特开2011-196735号公报非专利文献非专利文献 I 'Measurement of absolutephotoluminescence quantumefficiencies in conjugated polymers Chemical PhysicsLetters Volume 241”、Issues 1_2、14 July 1995、Pages 89-96、N.C.Greenham、1.D.W.Samuel、G.R.Hayes、R.T.Phillips、Y.A.R.R.Kessener> S.C.Moratti, A.B.Holmes, R.H.Friend非专利文献 2:‘‘An improved experimental determinat1n of externalphotoluminescence quantum efficiency Advanced Materials，，、Vol.9、Issue 3、March1997、Pages 230-232、John C.de Mello、H.Felix Wittmann、Richard H.Friend非专利文献3 使用积分球的绝对荧光量子效率测定法的理论研宄”、第71次应用物理学会学术演讲会(2010年9月12日)、14p-NK-6、市野善朗(2010.9.12) 14p_NK_6
技术实现思路
专利技术所要解决的问题然而，一般而言，若试样被激发，则在全方位放射被测定光(焚光)。另外，对多数试样而言，被测定光也作为吸收波长区域，因而会引起由自身吸收自身所发出的被测定光的自吸收。关于该点，量子产率以试样所吸收的激发光的光子数相对于被测定光的光子数的比表示，因而若由自吸收而吸收被测定光，则有估计所计算出的量子产率相对于真值小的担忧。因此，本专利技术的一个侧面的课题在于提供可高精度地求得量子产率的分光测定装置、分光测定方法及试样容器。解决问题的技术手段为了解决上述课题，本专利技术的一个侧面所涉及的分光测定装置，其特征在于，其是对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置，包含:光源，其产生激发光；积分器，其具有入射激发光的入射开口部、及射出被测定光的射出开口部；收纳部，其配置于积分器内，且收纳试样；入射光学系统，其使激发光入射至试样；光检测器，其检测自射出开口部射出的被测定光；及解析单元，其基于由光检测器检测出的检测值而计算试样的量子产率；激发光以包含(内包)试样的方式被照射于该试样。本专利技术的一个侧面所涉及的分光测定装置中，可减少自吸收量，且可高精度地求得量子产率。这是由于下述理由。即，在激发光被照射至试样的一部分的情况下，试样中被照射区域与未被照射的区域的边界面积大的部分，自吸收量多，相对于此，本专利技术的一个侧面所涉及的分光测定装置中，由于激发光以包含(内包)试样的方式被照射，因而试样中被照射区域与未被照射的区域的边界面积变窄，自吸收量变小。另外，作为适宜地实现上述作用效果的构成，具体而言，可以列举入射光学系统以激发光包含(内包)试样的方式调整激发光的构成。另外，可以列举收纳部以激发光包含(内包)试样的方式收纳试样的构成。另外，积分器也可具有安装有用于将收纳部配置于积分器内的试样支撑体的试样导入开口部，试样支撑体以收纳部的开口面相对于激发光的照射光轴的正交面倾斜的方式安装于试样导入开口部。该情况下，可防止激发光的反射光直接返回到入射开口。另外，收纳部的开口面的倾斜方向与收纳部的开口面的长轴方向也可彼此为相同方向。另外，入射光学系统也可包含具有具备长轴的形状的开口的光学构件，光学构件的开口的长轴方向与收纳部的开口面的倾斜方向具有角度。这些情况下，激发光的照射形状变得更加纵长，可可靠地包含(内包)收纳部。另外，存在试样支撑体具有用于载置包含收纳部的试样容器的载置面，以载置面相对激发光的照射光轴的正交面倾斜的方式安装于试样导入开口部的情况。此时，存在试样支撑体具备具有载置面的倾斜构件的情况。另外，存在入射光学系统具有调整照射光轴相对于收纳部的开口面的角度的光学构件的情况。另外，本专利技术的一个侧面所涉及的分光测定方法，其特征在于，其是对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定方法，包含:在积分器内配置试样的工序；以激发光包含(内包)试样的方式向积分器内照射激发光并入射至试样的工序；检测自积分器射出的被测定光的工序；及基于检测出的被测定光而计算试样的量子产率的工序。在该分光测定方法中，可实现减少由试样引起的被测定光的自吸收量且高精度地求得量子产率的上述作用效果。另外，本专利技术的一个侧面所涉及的试样容器，其特征在于，其是利用积分器的量子产率测定中所使用的试样容器，包含:矩形板状的板部、设置于板部上的凸部、及设置于凸部且收纳作为测定对象的试样的收纳部；收纳部以被照射至试样的激发光包含(内包)试样的方式收纳试样。在该试样容器中，也可实现减少由试样引起的被测定光的自吸收量且高精度地求得量子产率的上述作用效果。此处，凸部的剖面也可为圆形状，收纳部的开口也可为具有长轴的形状。另外，优选，上述试样容器通过将具有贯通孔的圆柱构件固定于板状构件的面上而形成，板部由板状构件构成，凸部由圆柱构件构成，收纳部由贯通孔构成，该情况下，可较容易地制造试样容器。专利技术的效果根据本专利技术的一个侧面，可高精度地求得量子产率。【附图说明】图1是表示一个实施方式所涉及的分光测定装置的立体图。图2是表示图1的分光测定装置中的积分球的一个例子的剖面图。图3是表示图1的分光测定装置中的试样容器的一个例子的立体图。图4是表示图1的分光测定装置中的试样容器支撑体的一个例子的剖面图。图5是从载置面侧观察图4的试样容器支撑体的平面图。图6是说明光圈与收纳部的关系的图。图7是表示使用图1的分光测定装置的分光测定方法的流程图。图8(a)是说明向收纳容器的试样的收纳的立体图，(b)是表示图7(a)的后续的立体图。图9(a)是表示参考测定中所检测的波长光谱的一个例子的图表，(b)是表示样本测定中所检测的波长光谱的一个例子的图表。图10(a)是表示关于激发光的照射面积及试样的被照射本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种分光测定装置，其特征在于，是对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置，包含：光源，其产生所述激发光；积分器，其具有入射所述激发光的入射开口部、及射出所述被测定光的射出开口部；收纳部，其配置于所述积分器内，且收纳所述试样；入射光学系统，其使所述激发光入射至所述试样；光检测器，其检测自所述射出开口部射出的所述被测定光；及解析单元，其基于由所述光检测器检测出的检测值，计算所述试样的量子产率，所述激发光以包含所述试样的方式被照射于该试样。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：铃木健吾，井口和也，江浦茂，池村贤一郎，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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