【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种推定方法、推定程序及推定装置。
技术介绍
1、例如,在专利文献1及专利文献2中,记载了使用cmos(complementary metaloxide semiconductor(互补金属氧化物半导体))图像传感器的光子计数装置。在该装置中,当将光子输入到光电转换元件时,与输入的光子数对应地生成的电子作为电荷蓄积。蓄积于光电转换元件的电荷通过放大器转换为电压并被放大。从放大器输出的电压由a/d转换器转换为数字值。在光子计数装置中,基于从a/d转换器输出的数字值,判别构成图像传感器的像素的光子数。
2、另外,在非专利文献1中,记载了测定cmos图像传感器中的增益的技术。在该技术中,对每个像素生成关于光子的计数值的直方图,基于直方图的峰间隔计算增益。
3、现有技术文献
4、专利文献
5、专利文献1:国际公开第2019/102636号
6、专利文献2:国际公开第2019/102637号
7、非专利文献
8、非专利文献1:starkey,dako
...【技术保护点】
1.一种推定方法,其中,
2.根据权利要求1所述的推定方法,其中,
3.根据权利要求2所述的推定方法,其中,
4.根据权利要求2或3所述的推定方法,其中,
5.根据权利要求1~4中任一项所述的推定方法,其中,
6.根据权利要求5所述的推定方法,其中,
7.根据权利要求5所述的推定方法,其中,
8.根据权利要求5所述的推定方法,其中,
9.一种推定程序,其中,
10.根据权利要求9所述的推定程序,其中,
11.根据权利要求10所述的推定程序,其中,
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种推定方法,其中,
2.根据权利要求1所述的推定方法,其中,
3.根据权利要求2所述的推定方法,其中,
4.根据权利要求2或3所述的推定方法,其中,
5.根据权利要求1~4中任一项所述的推定方法,其中,
6.根据权利要求5所述的推定方法,其中,
7.根据权利要求5所述的推定方法,其中,
8.根据权利要求5所述的推定方法,其中,
9.一种推定程序,其中,
10.根据权利要求9所述的推定程序,其中,
11.根据权利要求10所述的推定程序,其中,
12.根据权利要求10或11所述的推定程序,其中,
13.根据权利要求9~12中任一项所述的推定程序,其中,
14.根据权...
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