【技术实现步骤摘要】
光学测量仪安装调整支架
本专利技术属于光学测量设备,具体涉及一种光学测量仪安装调整支架。
技术介绍
光学测量仪是用于测量物体轮廓、尺寸的专业设备,普遍应用于轧钢、冶金行业中,光学测量仪一般包括光束发射单元和光束接收单元,光束发射单元发出的光束投射到待测物料上,光束接收单元采集物料上反射的光束信号然后计算出物料的轮廓形状。然而由于单个测量仪无法完全覆盖整个物料的外轮廓,因此测量仪在使用时大都是采用多个测量仪环绕待测物料设置,每个测量仪只测量一个轮廓片段,然后将各测量仪的测量结果结合才能得到完整的轮廓信息。例如,对于线棒材物料的轮廓测量而言,一般需要2到4各测量仪环绕线棒材设置,侧测量过程中,一定要保证各测量仪发出的光束位于线棒材的同一截面内,这就需要根据不同的测量环境对各测量仪的方位、角度进行调节,现有技术中调节测量仪方位、角度一般采用组合式滑台,该装置不仅成本较高而且结构复杂,操作十分繁琐,不能适应复杂的工作环境。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种便于调节测量仪方位角的光学测量仪安装调整支架。为实现上述目的,本专利技术提供了以下技术方案:一种光学测量仪安装调整支架,包括基板、调整板和测量仪,所述基板上设有至少三根与基板板面垂直的螺柱,所述调整板上设有与各螺柱相对应的第一通孔,所述螺柱的上端穿过所述第一通孔并通过螺柱上设置的分置于调整板上下两侧的至少两个螺母将调整板锁紧,所述螺柱与第一通孔之间为间隙配合,所述测量仪安装在调整板上。本专利技术的技术效果在于:采用螺柱对测量仪进行支撑,每个支撑点都可以单独上下移动,从而实现测量仪的多自由度调节,本专利技术的测 ...
【技术保护点】
一种光学测量仪安装调整支架,其特征在于:包括基板(10)、调整板(20)和测量仪(30),所述基板(10)上设有至少三根与基板(10)板面垂直的螺柱,所述调整板(20)上设有与各螺柱相对应的第一通孔(22),所述螺柱的上端穿过所述第一通孔(22)并通过螺柱上设置的分置于调整板(20)上下两侧的至少两个螺母将调整板(20)锁紧,所述螺柱与第一通孔(22)之间为间隙配合,所述测量仪(30)安装在调整板(20)上。
【技术特征摘要】
1.一种光学测量仪安装调整支架,其特征在于:包括基板(10)、调整板(20)和测量仪(30),所述基板(10)上设有至少三根与基板(10)板面垂直的螺柱,所述调整板(20)上设有与各螺柱相对应的第一通孔(22),所述螺柱的上端穿过所述第一通孔(22)并通过螺柱上设置的分置于调整板(20)上下两侧的至少两个螺母将调整板(20)锁紧,所述螺柱与第一通孔(22)之间为间隙配合,所述测量仪(30)安装在调整板(20)上;所述各螺柱之间的相对位置固定且其中一个螺柱为定螺柱(11a),其他螺柱为动螺柱(11b),所述定螺柱(11a)在基板(10)上的位置相对固定,所述各动螺柱(11b)以定螺柱(11a)为转动中心沿周向可调式固定安装在基板(10)上;所述基板(10)上设有第一腰形孔(12),所述动螺柱(11b)穿过第一腰形孔(12)并通过动螺柱(11b)上设置的分置于基板(10)上下两侧的螺母进行锁紧,所述第一腰形孔(12)与动螺柱(11b)之间为间隙配合;所述基板(10)上还设有与螺柱平行的偏心轴(13),所述偏心轴(13)转动设置在基板(10)上,偏心轴(13)上端的偏心段延伸至调整板(20)上设置的第二腰形孔(21)内,所述第二腰形孔(21)的长度方向沿螺柱的径向设置。2.根据权利要求1所述的光学测量仪安装调整支架,其特征在于:所述测量仪(30)在调整板(20)上沿垂直于测量仪(30)光束路径的方向平移设置。3.根据权利要求2所述的光学测量仪安装调整支架,其特征在于:所述测量仪(30)与调整板(20)之...
【专利技术属性】
技术研发人员:娄霆,王俊,武传华,金纬,钱怡,
申请(专利权)人:合肥市百胜科技发展股份有限公司,
类型:发明
国别省市:安徽;34
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