包括安全装置的雷达物位测量仪制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种雷达物位测量仪(1)，雷达物位测量仪包括用于生成电磁波的信号发生器和用于将电磁波发射在容器(4)中并从容器(4)中接收反射的电磁波的天线(3)。雷达物位测量仪还包括用于检查雷达物位测量仪(1)的功能性和/或提高雷达物位测量仪的测量品质的安全装置(5)，安全装置(5)具有反射器(7)和调节装置(9)和/或减弱装置(15)，并被适当地构造成至少在反射器反射电磁波的第一位置(I)与反射器以减弱方式反射电磁波的第二位置(II)之间调节反射器(7)和/或减弱装置(15)。调节装置(9)以非接触的方式作用于反射器(7)和/或减弱装置(15)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及根据权利要求1的前序部分的包括安全装置的雷达物位测量仪。
技术介绍
现有技术(例如，US8,009,085B2)披露了具有这种安全装置的雷达物位测量仪，雷达物位测量仪具有用于生成电磁波的信号发生器和用于将电磁波发射至容器中并从容器接收反射的电磁波的天线，安全装置被适当地构造成检查雷达物位测量仪的功能性。为此目的，现有技术中披露的安全装置包括反射器和调节装置，这二者被适当地构造成至少在反射器反射电磁波的第一位置与反射器以减弱方式(reducedfashion)反射电磁波的第二位置之间调节反射器。现有技术披露的雷达物位测量仪通常在用于存储各种材料的容器(通常为储罐或储槽)中使用。例如，可将食物、饮料、药物或燃油储存在这种储罐或储槽中，因而需要非接触式物位测量。在现有技术中，例如上述雷达物位测量仪或基于超声波的物位测量仪被称为非接触式物位测量技术。由于雷达物位测量仪的高精度测量和不容易受故障影响的特性，雷达物位测量仪被广泛使用。通常，现有技术中披露的雷达物位测量仪经由凸缘被紧固在储罐或储槽的上部区域中，其中，电子器件布置在壳体外部，并且雷达物位测量仪的天线布置在雷达物位测量仪内部。以适当方式使天线定向，使得可以沿着朝向被存储在容器内的填充材料的方向发送电磁波(即，特别是雷达信号)，并且天线可接收由材料反射的电磁波。基于发射电磁信号时与接收反射电磁信号时之间的时间差，可确定容器内部的填充物位。为了检查雷达物位测量仪的功能性，特别是为了检查其在与安全相关的最大物位(在该物位处，自动保护系统会防止任何进一步的填充)或可能其它相关物位处的功能性，需要提供一种安全装置，以允许对最大物位处的功能性进行相关设定。为此目的，在现有技术中已知的是，即使在容器的较低物位的情况下，在安全测试期间也要手动地将反射器移动到雷达物位测量仪的辐射路径中以便进行测试，以通过将在该物位处的反射器插入到雷达物位测量仪的辐射路径中并由此在期望物位处产生反射来检查物位测量仪在期望物位处的功能性。在现有技术的雷达物位测量仪中，人们认知的缺点还在于，由于机械构造的原因，已知的装置通常不能与环境隔绝或者难以密封，因此不能任意地或仅在非常有限的程度上应用于有毒和/或加压物质。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的在于克服现有技术中已知的缺点，并提供一种没有任何这些缺点的进一步开发的雷达物位测量仪以及安全装置。通过包括权利要求1的特征的雷达物位测量仪以及具有权利要求16的特征的安全装置实现上述目的。根据本专利技术的雷达物位测量仪具有用于生成电磁波的信号发生器、用于将电磁波发射至容器中并从容器接收反射的电磁波的天线以及用于检查雷达物位测量仪的功能性和/或提高雷达物位测量仪的测量品质的安全装置，安全装置包括反射器和调节装置并且/或者包括减弱装置，并被适当地构造成至少在反射器反射电磁波的第一位置与反射器以减弱方式反射电磁波的第二位置之间调节反射器和/或减弱装置，雷达物位测量仪的特征在于，调节装置以非接触方式作用于反射器和/或减弱装置。由于紧固装置以非接触方式作用于反射器和/或减弱装置，因此能够将调节装置和反射器和/或减弱装置插入至容器中，并特别以密封方式互相隔离地对它们进行操作。借助调节装置和反射器和/或减弱装置之间的密封，能够避免用于将调节装置的运动从储罐的外部耦合到储罐中并以此方式作用于反射器和/或减弱装置的机械通道，使得在整体上能够相对于环境可靠地密封容器/储罐。例如，可通过调节装置和反射器和/或减弱装置之间的磁耦合来实现调节装置对反射器和/或减弱装置的非接触作用。通过这种磁耦合，可将调节装置的运动容易地且相对可靠地传递给反射器和/或减弱单元。在第一实施例中，调节装置将旋转运动传递给反射器和/或减弱装置，使得可特别地使磁耦合力保持较低。在替代实施例中，调节装置将线性运动传递给反射器和/或减弱装置。通过传递线性运动，例如，在第二位置处可通过重力实现安全装置的复位，在该位置，安全装置会减弱发射的电磁波或避免它们的反射。以此方式，在安全装置出现故障的情况下也可确保雷达物位测量仪的功能性。理想地，调节装置在壳体中布置成优选地以压力密闭的方式与测量环境隔离。例如，壳体可经由焊缝或其它密封装置连接至紧固凸缘，例如，在壳体和凸缘之间设置有密封件。以此方式，以压力密闭和防扩散的方式非常可靠地将调节装置与测量环境隔离，特别地能够在加压和/或有毒介质中使用调节装置。优选地，调节装置布置在壳体内部，且反射器和/或减弱装置布置在壳体外部。例如，壳体可被构造成在端部封闭并且突出到容器中的圆筒，壳体连接至紧固凸缘。这种布置可同时实现安全装置朝向雷达物位测量仪的天线的预定定向，使得不需要额外的校准和对准。优选地，反射器在其端部处布置在壳体上，使得能够实现调节装置和反射器和/或减弱装置之间的简单相互作用。例如，安全装置可被构造成在无任何操作干预的情况下自动地转移至第二位置，并因此例如在调节装置存在缺陷的情况下也可保证雷达物位测量仪的操作。当调节装置和/或反射器和/或减弱装置具有至少一个永磁体时，可实现特别有利的磁耦合。通过被合适地构造的永磁体，可产生良好的磁耦合，通过吸引和/或排斥作用使磁体的磁极相对于彼此定向，由此进行从第一位置到第二位置的可靠切换，反之亦然。例如，减弱装置可被构造成能够相对于反射器移动的护套，例如，通过调节装置垂直向上地拉动减弱装置，并由此使反射器暴露。例如，反射器可相对于天线的主发射方向垂直地布置，且在第二位置优选地被护套超出。以此方式，反射器也可被构造成用于减弱装置的止挡件，从而实现了特别简单的机械装置。这里，例如，减弱装置可被构造成在第二位置以远离天线的方式反射电磁波，使得相对于第一位置，反射的电磁波减弱。在本专利技术的进一步实施例中，雷达物位测量仪可具有用于监测反射器和/或减弱装置和/或调节装置的位置的传感器，从而也能够获得用于监测反射器和/或减弱装置的位置的电子器件。以此方式，尽管将调节装置与反射器和/或减弱装置进行空间隔离，但是依然能够检测容器内部的实际条件，从而能够提供调节装置是否可靠地作用于反射器和/或减弱装置的信息。除具有安全装置的雷达物位测量仪之外，还提供了用于改装安全装置的可能方案。因此，本专利技术也涉及用于具有上述特征的雷达物位测量仪的安全装置。附图说明在下文中，参照附图更加详细地说明本专利技术。附图包括：图1是包括位于第一位置处的安全装置的雷达物位测量仪的原理的示意图；图2是包括位于第二位置处的安全装置的图1的雷达物位测量仪；图3示出包括位于第一位置处的具有旋转反射器的安全装置的雷达物位测量仪的另一个实施例；图4是位于第二位置处的图3的雷达物位测量仪；图5是包括位于第一位置处的旋转地构造的减弱装置的雷达物位测量仪；以及图6是位于第二位置处的图5的雷达物位测量仪。具体实施方式图1示出了具有安全装置5的雷达物位测量仪1，安全装置5位于第一位置I处，在该位置，安全装置5的反射器7反射由雷达物位测量仪1的天线3发射的电磁波。在本实施例中，雷达物位测量仪1被构造成具有天线3，在此情况下，天线被构造成喇叭天线。然而，在不背离本专利技术的范围的情况下，这里也能够采用其它天线形式。在本实施例中，安全装置5被构本文档来自技高网...

【技术保护点】
雷达物位测量仪(1)，其包括：用于生成电磁波的信号发生器；用于发射所述电磁波并接收反射的所述电磁波的天线(3)；以及用于检查所述雷达物位测量仪(1)的功能性和/或提高所述雷达物位测量仪的测量品质的安全装置(5)，所述安全装置(5)包括反射器(7)和调节装置(9)和/或减弱装置(15)，并被适当地构造成至少在所述反射器反射所述电磁波的第一位置(I)与所述反射器以减弱方式反射所述电磁波的第二位置(II)之间调节所述反射器(7)和/或所述减弱装置(15)，其特征在于，所述调节装置(9)以非接触方式作用于所述反射器(7)和/或所述减弱装置(15)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.雷达物位测量仪(1)，其包括：用于生成电磁波的信号发生器；用于发射所述电磁波并接收反射的所述电磁波的天线(3)；以及用于检查所述雷达物位测量仪(1)的功能性和/或提高所述雷达物位测量仪的测量品质的安全装置(5)，所述安全装置(5)包括反射器(7)和调节装置(9)和/或减弱装置(15)，并被适当地构造成至少在所述反射器反射所述电磁波的第一位置(I)与所述反射器以减弱方式反射所述电磁波的第二位置(II)之间调节所述反射器(7)和/或所述减弱装置(15)，其特征在于，所述调节装置(9)以非接触方式作用于所述反射器(7)和/或所述减弱装置(15)。2.根据权利要求1所述的雷达物位测量仪(1)，其特征在于，所述调节装置(9)具有与所述反射器(7)和/或所述减弱装置(15)的磁耦合。3.根据权利要求1或2所述的雷达物位测量仪(1)，其特征在于，所述调节装置(9)使所述反射器(7)和/或所述减弱装置(15)旋转地移动。4.根据权利要求1或2所述的雷达物位测量仪(1)，其特征在于，所述调节装置(9)线性地作用于所述反射器(7)和/或所述减弱装置(15)。5.根据前述权利要求中任一项所述的雷达物位测量仪(1)，其特征在于，所述调节装置(9)包括永磁体(12)。6.根据前述权利要求中任一项所述的雷达物位测量仪(1)，其特征在于，所述调节装置(9)在壳体(10)中布置成优选地以压力密闭的方式与测量环境隔离。7.根据权利要求6所述的雷达物位测量仪(1)，其特征在于，所述壳体(10)连接至紧固凸缘(6)，优选地，焊接至所述紧固凸缘。Hengstler：[0]另外，这也可表示两个单独单元，即，一个为凸缘雷达，另一个为凸缘PLV。8.根据权利要求6或7所...

【专利技术属性】
技术研发人员：克莱门斯·亨斯特勒，
申请(专利权)人：VEGA格里沙贝两合公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE