用于辐射测量传感器的射频测量信号的天线装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于辐射测量传感器(200)的射频测量信号的天线装置(100)，其包括由塑料制成的天线(110)、由塑料制成的波导(120)以及在天线(110)的外侧上的具有金属化部的壁(115)。本发明专利技术还涉及测量装置，其包括：测量传感器(200)，其具有被配置为用于生成和/或检测射频测量信号的雷达芯片(210)；以及天线装置(100)，其具有天线(110)和波导(120)并被配置为用于辐射测量传感器(200)的测量信号。本发明专利技术还涉及天线装置(100)或测量设备的用于测量填充物位、极限物位或压力的用途以及用于制造用于辐射测量传感器的射频测量信号的天线装置(100)的方法(200)。置(100)的方法(200)。置(100)的方法(200)。

【技术实现步骤摘要】
用于辐射测量传感器的射频测量信号的天线装置


[0001]本专利技术涉及被配置为用于辐射测量传感器的射频测量信号的天线装置、测量设备、天线装置的用于发射射频测量信号和/或接收反射的测量信号以确定填充物位、极限物位或压力的用途、测量设备的用于在过程工厂中测量填充物位、极限物位或压力的用途以及用于制造被配置为辐射测量传感器的射频测量信号的天线装置的方法。

技术介绍

[0002]通常，将雷达设备用作填充物位测量技术、极限物位测量技术和压力测量技术或生产自动化中的现场设备。在此，通过发射和/或接收单元从雷达设备的激励元件或信号源辐射测量波束。例如，可以通过刚性金属波导将测量波束从信号源传输到发射和/或接收单元。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供替代的用于现场设备的发射和/或接收装置。
[0004]该目的通过独立权利要求的特征来实现。本专利技术的改进示例由从属权利要求和实施例的以下说明中得到。
[0005]本专利技术的第一方面涉及一种天线装置，其被配置为辐射测量传感器的射频测量信号，并且包括由塑料制成的天线以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种被配置为用于辐射测量传感器(200)的射频测量信号的天线装置(100)，其包括：由塑料制成的天线(110)；由所述塑料制成的波导(120)，其中，所述波导(120)与所述天线(110)一体地形成；以及在所述天线(110)的外侧上的壁(115)，其具有金属化部或由金属制成。2.根据权利要求1所述的天线装置(100)，其中，所述天线(110)是喇叭天线或抛物面天线。3.根据权利要求1或2所述的天线装置(100)，其中，所述天线(110)被设计为圆锥形。4.根据前述任一项权利要求所述的天线装置(100)，其还包括：防反射元件(150)，其布置在所述天线(110)和所述波导(120)之间的过渡区域(130)的外侧上，并且被配置为用于减少所述测量信号在所述过渡区域(130)中的反射。5.根据权利要求4所述的天线装置(100)，其中，所述防反射元件(150)被设计为漏斗形。6.根据权利要求4或5所述的天线装置(100)，其中，所述防反射元件(150)是部分地填充有所述塑料的金属漏斗。7.根据前述任一项权利要求所述的天线装置(100)，其中，所述塑料为由PEEK、HDPE、PTFE、PFA或PVDF制成的介电材料。8.根据前述任一项权利要求所述的天线装置(100)，其中，所述塑料的DK值为2≤ε
r
≤5，并且其损耗因子为0.1≤tan(δ)≤0.00001。9.一种测量设备(10)，其包括：测量传感器(200)，其包括被配置为用于生成和/或检测射频测量信号的雷达芯片(210)；根据前述任一项权利要求所述的天线装置(100)，其包括天线(110)和波导(120)，并且被配置为用于辐射所述测量传感器(200)的所述射频测量信号。10.根据权利要求9所述的测量设备(10)，其还包括：壳体(300)，所述天线装置(100)安装在所述壳体中，其中，所述壳体(300)包括支架(350)，所述支架设置在所述壳体(300)中并且被配置为将所述天线装置(100)固定在所述壳体中。11.根据权利要求9或10所述的测量设备(10)，其中，所述壳体(300)被配置为通过所述支架(350)将所述天线装置(100)布置在所述壳体(300)中，使得来自所述测量传感器(200)的所述雷达芯片(210)的所述射频测量信号被耦合到所述波导(102)中，并且被从所述波导(102)引导到所述天线(110)。12.根据权利要求9或10所述的测量设备(10)，其中，所述测量传...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯托弗，
申请(专利权)人：VEGA格里沙贝两合公司，
类型：发明
国别省市：