基于FPGA的非安装型存储器测试装置制造方法及图纸

技术编号:11315852 阅读:89 留言:0更新日期:2015-04-17 04:33
本发明专利技术涉及一种基于FPGA的非安装型存储器测试装置,包括:处理器部,执行列举和构形,制作场景,设定设备驱动部;设备驱动部,与主机总线适配器进行通讯;数据引擎部,生成模式数据,从系统存储器访问用户存储的数据,进行测试;系统内存接口部,接收进程所需的数据,并存储测试结果;监控部,监控PCIe处理层的数据包并储存;直接内存存取驱动/地址转换部,若所述设备驱动部对场景进行译码,向主机总线适配器传达命令,则所有数据流执行直接内存存取动作,向根联合体发送内存读取请求;信息输入输出部,向数据引擎部和设备驱动部传达;PCIe IP部,为PCI Express逻辑的SW IP;开关部;被测设备部;内存部。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种基于FPGA的非安装型存储器测试装置,包括:处理器部,执行列举和构形,制作场景,设定设备驱动部;设备驱动部,与主机总线适配器进行通讯;数据引擎部,生成模式数据,从系统存储器访问用户存储的数据,进行测试;系统内存接口部,接收进程所需的数据,并存储测试结果;监控部,监控PCIe处理层的数据包并储存;直接内存存取驱动/地址转换部,若所述设备驱动部对场景进行译码,向主机总线适配器传达命令,则所有数据流执行直接内存存取动作,向根联合体发送内存读取请求;信息输入输出部,向数据引擎部和设备驱动部传达;PCIe IP部,为PCI Express逻辑的SW IP;开关部;被测设备部;内存部。【专利说明】基于FPGA的非安装型存储器测试装置
本专利技术涉及一种运用基于PCI Express(PCIe)的固态硬盘测试(SSD TEST)设备 的驱动机制,更加详细而言,涉及一种基于现场可编程门阵列(field-programmable gate array,FPGA),而非基于PC的非安装型测试装置。
技术介绍
现在,高速存储器(High Speed Storage)中固态硬盘(Solid State Drive ;SSD) 备受关注。其中,基于PCI Express的固态硬盘与SAS SATA相比拥有大量的通讯处理能力, 因此不仅扩大到如数据中心的企业用服务器,还扩大到个人固态硬盘市场。 另一方面,有关测试存储器的装置,除韩国公开专利10-2010-011469号(以下称 为"现有技术文献")以外,还有多个被申请和公开。 所述现有技术,包括:存储器接口部,其维持与存储器(storage)的连接;用户接 口部,其从用户接收用于所述存储测试的测试条件;测试模式生成部,其生成与从所述用户 接收的所述测试条件对应的用于所述存储器测试的测试模式(test pattern);以及测试控 制部,其通过所述测试模式控制所述存储器的测试。 但是,包括现有技术文献的现有测试装置,为了检测出闪存阵列的不良(Fail)逻 辑块地址(Logic Block Address :LBA),执行向固态硬盘装置(SSD Device)写入特定模式 的数据,重新读取,来比较数据是否有效。这种装置中,将模式数据生成器和从模式生成器 生成的数据存储于缓冲器(期望数据缓冲器,expected data buffer)。该存储数据从固态 硬盘装置重新读取数据,与该数据缓冲器中的内容进行比较,来判断是否不良。这种方式存 在缓冲器可用容量受限的问题。 现今固态硬盘的容量达到数百千兆。为了测试这种装置而扩展期望数据缓冲器的 大小,会引起多种制约事项。例如,如果制定过小,则以小的数据模块进行数据读取/写入 (dataRead/Write),因此整体测试时间延长。如果制定过大,虽然性能提高,但要求从系统 的观点来说无法容纳的存储容量。 并且,在基于安装的测试环境的情况下,与基于安装的测试环境相比,存在对测试 设备驱动程序的命令处理的响应时间和测试时间延长的问题。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题 本专利技术涉及一种运用基于PCI-Express的固态硬盘测试装置的驱动机制,更加详 细而言,涉及一种基于FPGA而非基于PC的非安装型存储器测试装置硬件驱动机制。 具体地,其目的在于,提供一种与安装系统不同,以固态硬盘运用为目的,将所有 系统的资源构成硬件,因此与基于安装的测试环境相比,在测试设备驱动的命令处理时,能 够确保更快的响应时间和更快的测试时间,在同一时间内能够测试大量固态硬盘的装置。 (二)技术方案 为了实现上述技术问题的本专利技术涉及一种基于FPGA的非安装型存储器测试装 置,包括:处理器部,其作为在FPGA内部构成的微处理器,执行对根联合体(Root complex : RC)以下 PCIe 总线树(bus tree)的装置的列举(Enumeration)和构形(Configuration), 制作用于测试的场景(scenario),设定设备驱动部(Device Driver),以便进行测试;设 备驱动部,其作为基于所述处理器部制作的测试场景,生成用于存储装置的高级技术附件 (Advanced Technology Attachment, ΑΤΑ)命令的模块,与包括管理存储装置的高级主控 接口(Advanced Host Controller Interface :AHCI)的主机总线适配器(Host Bridge Adapter,HBA)进行通讯;数据引擎部,其生成用于测试的模式数据,从系统存储器访问用 户存储的数据,来进行测试;系统内存接口部,其接收进程所需的数据,以便所述处理器部 和数据引擎部访问内存部而能够进行测试,并存储测试结果;监控部,其在测试不良发生 时,监控PCIe处理层的数据包(Packet)并储存;直接内存存取驱动/地址转换部,若所述 设备驱动部对场景进行译码,并通过PCIe总线向主机总线适配器传达命令,则所有数据流 执行成为主机总线适配器主令(Master)的直接内存存取动作,向包括设备驱动部的根联 合体发送内存读取请求(Memory Read RequeSt,Mrd);信息输入输出部,所述直接内存存取 驱动/地址转换部的解读结果,在传达至Bus ConRC的TLP为信息的情况下,将其传达给 数据引擎部和设备驱动部;PCIe IP部,其为PCI Express逻辑的SW IP ;开关部,其与所述 PCIe IP部连接,构成被测设备(DUT)部;被测设备部,其作为被测装置,是包括主机总线适 配器,与PCIe直接连接的存储器;内存部,其存储用于测试的数据,存储测试期间生成的记 录。 并且,本专利技术的基于FPGA的非安装型存储器测试装置的特征为,所述处理器部在 测试结束的情况下,从所述设备驱动部接收关于是否出错及成功的结果;在发生错误的情 况下,访问(access)PCIe的TLP和设备错误信息。 并且,本专利技术的基于FPGA的非安装型存储器测试装置的特征为,所述设备驱动部 的命令包括:用于读取/写入(Read/Write)的数据缓冲器(Data Buffer)的基地址(base address)和尺寸(size),存储装置(固态硬盘)的逻辑块地址信息。 并且,本专利技术的基于FPGA的非安装型存储器测试装置的特征为,所述制作场景的 信息,包括测试顺序所需的信息和制定命令所需的信息中的至少一个,所述测试顺序所需 的信息包括执行整个测试场景的的时间、逻辑块地址模式(顺次模式或随机访问模式)、数 据模式(Data pattern)、命令队列深度(Command Queued Depth),所述制定命令所需的信 息分别为制定用于基于高级主控接口的PCIe存储器(固态硬盘)的高级技术附件命令和 用于基于小型计算机系统接口(Small Computer System Interface, SCSI)的PCIe存储器 (固态硬盘)的命令所需的信息。 并且,本专利技术的基于FPGA的非安装型存储器测试装置的特征为,所述数据引 擎部包括:模式数据生成模块,其生成本文档来自技高网
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基于FPGA的非安装型存储器测试装置

【技术保护点】
一种基于FPGA的非安装型存储器测试装置,其包括:处理器部(100),其作为在FPGA内部构成的微处理器,执行对根联合体以下PCIe总线树的装置的列举和构形,制作用于测试的场景,设定设备驱动部(200),以便进行测试;设备驱动部(200),其作为基于所述处理器部(100)制作的测试场景,生成用于存储装置的高级技术附件命令的模块,与包括管理存储装置的高级主控接口的主机总线适配器进行通讯;数据引擎部(300),其生成用于测试的模式数据,从系统存储器访问用户存储的数据,来进行测试;系统内存接口部(400),其接收进程所需的数据,以便所述处理器部(100)和数据引擎部(300)访问内存部(1100)而能够进行测试,并存储测试结果;监控部(500),其在发生测试不良时,监控PCIe处理层的数据包并储存;直接内存存取驱动/地址转换部(600),若所述设备驱动部(200)对场景进行译码,并通过PCIe总线向主机总线适配器传达命令,则所有数据流执行成为主机总线适配器主令的直接内存存取动作,向包括设备驱动部(200)的根联合体发送内存读取请求;信息输入输出部(700),所述直接内存存取驱动/地址转换部(600)的解读结果,在传达至Bus ConRC的TLP为信息的情况下,将其传达给数据引擎部(300)和设备驱动部(200);PCIe IP部(800),其为PCI Express逻辑的SW IP;开关部(900),其与所述PCIe IP部(800)连接,构成被测设备部(1000);被测设备部(1000),其作为被测装置,是包括主机总线适配器,与PCIe直接连接的存储器;内存部(1100),其存储用于测试的数据,存储测试期间生成的记录。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:韩永勉
申请(专利权)人:韩商联测股份有限公司
类型:发明
国别省市:韩国;KR

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