【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种老化测试设备，其特征在于，包括：至少一个测试板，具有行列形态的能够装载半导体元件的插座，并具有用于向插座施加测试信号的传送线路组；板收容腔室，用于收容所述至少一个测试板；至少一个测试基板，与收容于所述板收容腔室的至少一个测试板电连接，产生用于测试装载于所述至少一个测试板的半导体元件的测试信号；以及基板收容腔室，用于收容所述至少一个测试基板，所述至少一个测试板的电路中的传送线路组中的每一个上，所述插座中的至少两个插座被布置在一起，且具有飞跃式结构，所述测试基板包括：测试单元，选择需要测试的半导体元件而产生测试信号，并读取从开始工作的半导体元件反馈的结果信号；以及闪控信号提供单元，向所述测试单元提供闪控信号，以使所述测试单元从结果信号能够抽样准确的数据。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李义元，崔永培，
申请(专利权)人：韩商联测股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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