半导体元件检查装置用连接器及老化测试设备用测试板制造方法及图纸

技术编号:9141840 阅读:175 留言:0更新日期:2013-09-12 03:34
本发明专利技术涉及半导体元件检查装置用连接器。根据本发明专利技术公开一种如下技术,即具备板状的接地板,进一步地,接地板的末端相比多个连接销的末端进一步朝母连接器侧突出,从而能够引导较细的销状的多个连接销的接触,由此可以防止多个连接销的损伤。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体元件检查装置用连接器,其特征在于,包括:以A×B行列形态排列的多个连接销,其中,A为大于1的自然数,B为大于2的自然数;至少一个板状的接地板,用于改善通过所述多个连接销传送的电信号的特性;容纳并支撑所述多个连接销和至少一个所述接地板的收容框架。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:金大敬金进熙
申请(专利权)人:韩商联测股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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