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本发明涉及半导体元件检查装置用连接器。根据本发明公开一种如下技术，即具备板状的接地板，进一步地，接地板的末端相比多个连接销的末端进一步朝母连接器侧突出，从而能够引导较细的销状的多个连接销的接触，由此可以防止多个连接销的损伤。...
该专利属于韩商联测股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过韩商联测股份有限公司授权不得商用。

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