彩膜基板、显示装置及其检测方法制造方法及图纸

技术编号:11242206 阅读:55 留言:0更新日期:2015-04-01 15:55
本发明专利技术提供一种彩膜基板、显示装置及其检测方法,属于显示装置检测技术领域,其可解决现有的显示面板故障定位困难,检测效率低的问题。本发明专利技术的彩膜基板包括排成阵列的多个子像素,每个子像素中设有彩色滤光膜,且至少部分列子像素为标记列子像素,标记列子像素中有部分子像素的彩色滤光膜与该列中其余子像素的彩色滤光膜形状不同。本发明专利技术的显示装置包括上述彩膜基板。本发明专利技术的彩膜基板可用于显示装置中,尤其用于采用双侧GOA电路的显示装置中。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种,属于显示装置检测
,其可解决现有的显示面板故障定位困难,检测效率低的问题。本专利技术的彩膜基板包括排成阵列的多个子像素,每个子像素中设有彩色滤光膜,且至少部分列子像素为标记列子像素,标记列子像素中有部分子像素的彩色滤光膜与该列中其余子像素的彩色滤光膜形状不同。本专利技术的显示装置包括上述彩膜基板。本专利技术的彩膜基板可用于显示装置中,尤其用于采用双侧GOA电路的显示装置中。【专利说明】
本专利技术属于显示装置检测
,具体涉及一种。
技术介绍
GOA(Gate Driver On Array)电路是指直接制备在阵列基板上的栅极线驱动电路。GOA电路包括多级依次连接的移位寄存器,每个移位寄存器驱动一条栅极线,并为下一级移位寄存器提供开启信号,从而GOA电路整体上可实现使栅极线逐条导通的目的。从空间占用等方面考虑,也有部分显示装置采用双侧GOA电路,即在阵列基板两侧各设有一个GOA电路,分别用于驱动奇数行和偶数行的栅极线。 当GOA电路的某个位置存在短接、断开等故障时,会将导致故障位置之后的各级移位寄存器不能正常工作,进而导致显示异常。对于采用双侧GOA电路的显示面板,若其某一侧的GOA电路出现故障,则会如图1所示,从显示面板的某个位置开始,之后的子像素出现隔行显示不良(也称“分屏异显不良”)。当出现这种现象时,可以知道是一侧的GOA电路出现问题,但由于子像素行数很多,故无法确定出现故障的是奇数行子像素还是偶数行子像素,也就无法确定是哪侧的GOA电路出现问题。因此,在检测过程中只能拆开显示面板,对两侧的GOA电路都进行分析检测,从而导致故障定位困难,检测效率低。
技术实现思路
本专利技术针对现有的显示面板故障定位困难,检测效率低的问题,提供一种易于迅速定位故障的彩膜基板和显示装置及其检测方法。 解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种彩膜基板,其包括排成阵列的多个子像素,每个子像素中设有彩色滤光膜,且 至少部分列子像素为标记列子像素,标记列子像素中有部分子像素的彩色滤光膜与该列中其余子像素的彩色滤光膜形状不同。 其中,本专利技术所称的“列”是指子像素的一个排列方向,其与“行”相互垂直。应当理解,此处的行、列是按照子像素的排列方式得出的相对方向,故与彩膜基板本身的形状、放置形式、观察角度等均无关系。 优选的是,所述标记列子像素中的部分子像素为标准子像素,其余为标记子像素;各所述标准子像素的彩色滤光膜形状相同,所述标记子像素的彩色滤光膜与标准子像素的彩色滤光膜形状不同。 进一步优选的是,在所述标记列子像素中,每间隔N个标准子像素设有至少一个标记子像素,N为正整数。 进一步优选的是,所述N为1,每间隔N个标准子像素设有一个标记子像素。 进一步优选的是,所述标记子像素分为至少两种类型,不同类型的标记子像素的彩色滤光膜的形状不同。 进一步优选的是,各所述标记子像素的彩色滤光膜形状相同。 进一步优选的是,除所述标记列子像素外的其余子像素均为标准子像素。 优选的是,所述标记列子像素的数量为一列。 进一步优选的是,所述标记列子像素为彩膜基板最边侧的两列子像素中的一列。 优选的是,同列子像素的彩色滤光膜的颜色相同。 解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种显示装置,其包括: 上述的彩膜基板。 优选的是,所述显示装置还包括与所述彩膜基板对盒的阵列基板,所述阵列基板包括多条栅极线和两个GOA电路,每条栅极线对应彩膜基板的一行子像素,两个GOA电路中的一个驱动奇数行栅线,另一个驱动偶数行栅线;且所述彩膜基板为上述标准子像素和标记子像素轮流排列在标记列子像素中显示装置。 解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种显示装置的检测方法,其中,显示装置为上述采用双侧GOA电路的显示装置,其检测方法具体包括: 在检测过程中,通过所述标记列子像素中的标记子像素区分所述显示装置的奇数行和偶数行。 本专利技术的彩膜基板可用于显示装置中,尤其用于采用双侧GOA电路的显示装置中。 【专利附图】【附图说明】 图1为现有的显示面板出现隔行异常的示意图; 图2为本专利技术的实施例的一种彩膜基板的结构示意图; 其中,附图标记为:11、标准子像素;12、标记子像素;21、标准子像素的彩色滤光膜;22、标记子像素的彩色滤光膜;3、标记列子像素。 【具体实施方式】 为使本领域技术人员更好地理解本专利技术的技术方案,下面结合附图和【具体实施方式】对本专利技术作进一步详细描述。 实施例1: 如图2所示,本实施例提供一种彩膜基板,其包括排成阵列的多个子像素,每个子像素中设有彩色滤光膜。 可见,彩膜基板包括多个子像素,在其组成显示装置后,每个子像素对应显示装置的一个子像素。而彩膜基板的每个子像素包括彩色滤光膜和围绕彩色滤光膜的黑矩阵,彩色滤光膜用于使透过的光变为对应的颜色,而黑矩阵用于阻止不希望的光透过。 优选的,同列子像素的彩色滤光膜的颜色相同。 也就是说,同一列的子像素优选为相同的颜色,这样比较便于彩色滤光膜的制备,且当一列子像素颜色相同时不能通过颜色区分出不同行,故本实施例的方案对这种彩膜基板更适用。 本实施例的彩膜基板中,至少部分列子像素为标记列子像素3,标记列子像素3中有部分子像素的彩色滤光膜与该列中其余子像素的彩色滤光膜形状不同。 在现有的彩色彩膜基板中,所有子像素的彩色滤光膜形状都是相同的(当然颜色可不同),故无法区分出不同的行,给故障定位造成困难。而如图2所示,在本实施例的彩膜基板中,至少有一部分列的子像素为“标记列子像素3”,在这些标记列中,至少有一部分子像素的彩色滤光膜的形状与其余的子像素的彩色滤光膜的形状不同,因此,可以这些形状不同的子像素作为标记点,判断出其所处的行,进而进行故障定位。当然,在其他“非标记列”的子像素中,同列中全部子像素的彩色滤光膜的形状是相同的。 显然,从减小对显示效果影响的角度考虑,以上彩色滤光膜间形状的差别应尽量的小,只要在显微镜下能将二者区分开即可。例如,可如图2所示,其中标准子像素的彩色滤光膜21为缺角的矩形,而标记子像素的彩色滤光膜22为完整的矩形。 当然,本实施例中的彩色滤光膜形状的不同不限于此。例如,可在某子像素的彩色滤光膜的部分位置上叠加设置其他额外的标记(如小三角、小圆形、小星星等),这样该子像素的彩色滤光膜的形状也与其他子像素不同。再如,也可以“挖去”某子像素的彩色滤光膜的一部分,并在其中填入其他的彩色滤光膜,这样也可使子像素的彩色滤光膜的形状不同。总之,只要两个子像素中,不是全部彩色滤光膜的结构(不包括颜色)都完全相同,则就可认为二者的彩色滤光膜的形状是不同的。 优选的,标记列子像素3中的部分子像素为标准子像素11,其余为标记子像素12。更优选的,除标记列子像素3外的其余子像素均为标准子像素11。其中,各标准子像素的彩色滤光膜21形状相同,而标记子像素的彩色滤光膜22与标准子像素的彩色滤光膜21形状不同。 显然,彩色滤光膜形状的改变会影响显示效果,为尽量减少彩色滤光膜形状的变化对显示效果的影响,故作为本实施例的一种优选方式,彩膜基板中的多数子像素可仍为常规的正常子像素(标准子像素11),本文档来自技高网
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<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/20/201510002242.html" title="彩膜基板、显示装置及其检测方法原文来自X技术">彩膜基板、显示装置及其检测方法</a>

【技术保护点】
一种彩膜基板,包括排成阵列的多个子像素,每个子像素中设有彩色滤光膜,其特征在于,至少部分列子像素为标记列子像素,所述标记列子像素中有部分子像素的彩色滤光膜与该列中其余子像素的彩色滤光膜形状不同。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李田生谢振宇
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司北京京东方光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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