【技术实现步骤摘要】
GaN基倒装LED微显示结构及其制作方法
本专利技术涉及半导体发光器件
,特别是涉及一种GaN基倒装LED微显示结构、及其制作方法。
技术介绍
发光二极管(Light-EmittingDiode,LED)是一种能发光的半导体电子元件。这种电子元件早在1962年出现,早期只能发出低光度的红光,之后发展出其他单色光的版本,时至今日能发出的光已遍及可见光、红外线及紫外线,光度也提高到相当的光度。而用途也由初时作为指示灯、显示板等;随着技术的不断进步,发光二极管已被广泛的应用于显示器、电视机采光装饰和照明。GaN作为第三代半导体材料代表之一,具有直接带隙、宽禁带、高饱和电子漂移速度、高击穿电场和高热导率等优异性能,在微电子应用方面得到了广泛的关注。倒装芯片被称为“倒装”是因为相对于传统的金属线键合连接方式与植球后的工艺而言的。传统的通过金属线键合与基板连接的晶片电气面朝上,而倒装晶片的电气面朝下设置。针对GaN基倒装LED芯片而言,现有的GaN基倒装LED芯片往往无法实现晶圆级的微显示,限制了GaN基倒装LED芯片的应用。因此,针对上述技术问题,有必要提供进一步的解 ...
【技术保护点】
一种GaN基倒装LED微显示结构的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括如下步骤:S1.提供GaN基倒装LED外延片,对其中p‑GaN层进行ICP刻蚀,形成第一沟槽;S2.ISO刻蚀,对GaN基倒装LED外延片中n‑GaN层进行ICP刻蚀,形成第二沟槽;S3.在n‑GaN层上制作N电极;S4.在所述第二沟槽处沉积绝缘层,并制作相应绝缘层图形;S5.在相应区域制作反射镜层和保护金属层;S6.在所述保护金属层上制作保护层,并保留第一引脚和第二引脚;S7.对LED芯片进行研磨、减薄。
【技术特征摘要】
1.一种GaN基倒装LED微显示结构的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括如下步骤:S1.提供GaN基倒装LED外延片,对其中p-GaN层进行ICP刻蚀,形成第一沟槽;S2.ISO刻蚀,对GaN基倒装LED外延片中n-GaN层进行ICP刻蚀,形成第二沟槽,以限定若干独立的功能单元;S3.在n-GaN层上制作N电极;S4.在所述第二沟槽处沉积绝缘层,并制作相应绝缘层图形;S5.在相应区域制作反射镜层和保护金属层;S6.在所述保护金属层上制作保护层,并保留多个第一引脚和多个第二引脚,每一第一引脚与多个功能单元相配合,每一第二引脚与多个功能单元相配合,且与每一功能单元相配合的第一引脚与第二引脚的组合均不同;S7.对LED芯片进行研磨、减薄。2.根据权利要求1所述的GaN基倒装LED微显示结构的制作方法,其特征在于,所述步骤S1、S2中,所述ICP刻蚀使用SF6作为刻蚀气体。3.根据权利要求1或2所述的GaN基倒装LED微显示结构的制作方法,其特征在于,所述步骤S1、S2中,所述ICP刻蚀过程中使用CH4、CHF3、C4H8中的一种作为钝化气体。4.根据权利要求1所述的GaN基倒装LED微显示结构的制作方...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴飞翔,李庆,晏平,陈立人,蔡睿彦,
申请(专利权)人:聚灿光电科技苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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