【技术实现步骤摘要】
基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件及生产方法
本专利技术属于半导体制造
,涉及一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,本专利技术还涉及一种该封装件的生产方法。
技术介绍
CSP(ChipScalePackage,以下同),即芯片级封装,这种封装是在TSOP和BGA的基础上发展起来的一种薄型、微型封装。CSP可以实现芯片面积与封装面积之比超过1:1.14的封装,其封装面积约为普通BGA的1/3,仅仅相当于TSOP内存芯片封装面积的1/6。CSP不但体积小,同时也更薄,其基板到发热体的最有效散热路径往往只有0.2mm,大大提高了内存芯片长时间运行的可靠性,线路阻抗显著减小,芯片速度也随之得到大幅度提高。在DIP、SOP等传统封装形式的MEMS封装件中,存在的主要问题是如何解决消除干扰,保证MEMS芯片对信号的检测精度和增益问题。虽然MEMS芯片具有较强的信号的检测功能,但是在实际使用中会受到封装件本身的附加电感、电容、电阻及环境的干挠信号影响,造成输出信号截止或失真。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,不受封装件本身附加电感、电容、电阻及环境的干挠信号影响,避免输出信号截止或失真。本专利技术的另一个目的是提供一种上述MEMS封装件的生产方法。为实现上述目的,本专利技术所采用的技术方案是:一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,包括引线框架,引线框架中的内引脚与底面引脚相连,内引脚上表面倒装有带凸点的MEMS芯片,MEMS芯片上的凸点通过第二键合线与内引脚的背面焊盘相连;MEMS芯片上面粘贴有第 ...
【技术保护点】
一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,其特征在于,包括引线框架,引线框架中的内引脚(5)与底面引脚(12)相连,内引脚上表面(6)倒装有带凸点的MEMS芯片(1),MEMS芯片(1)上的凸点通过第二键合线(16)与内引脚的背面焊盘(15)相连;MEMS芯片(1)上面粘贴有第一VGA放大器芯片(8),第一VGA放大器芯片(8)通过第一键合线(7)与内引脚上表面(6)相连;沿垂直于两排底面引脚(12)连线的方向、底面引脚(12)远离内引脚上表面(6)一端的两侧平行设置有第一凹槽(4)和第二凹槽(13),底面引脚(12)的底面上设有底面引脚金属层(14);引线框架上塑封有第一塑封体(10),所有器件均塑封于第一塑封体(10)内,只有底面引脚金属层(14)露出第一塑封体(10)外。
【技术特征摘要】
1.一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,其特征在于,包括引线框架,引线框架中的内引脚(5)与底面引脚(12)相连,内引脚上表面(6)倒装有带凸点的MEMS芯片(1),MEMS芯片(1)上的凸点通过第二键合线(16)与内引脚的背面焊盘(15)相连;MEMS芯片(1)上面粘贴有第一VGA放大器芯片(8),第一VGA放大器芯片(8)通过第一键合线(7)与内引脚上表面(6)相连;沿垂直于两排底面引脚(12)连线的方向、底面引脚(12)远离内引脚上表面(6)一端的两侧平行设置有第一凹槽(4)和第二凹槽(13),底面引脚(12)的底面上设有底面引脚金属层(14);引线框架上塑封有第一塑封体(10),所有器件均塑封于第一塑封体(10)内,只有底面引脚金属层(14)露出第一塑封体(10)外。2.根据权利要求1所述的基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,其特征在于,所述的两排底面引脚(12)之间设有MEMS盖板(17),MEMS盖板(17)的一侧与一排底面引脚(12)上的第一凹槽(4)固接,MEMS盖板(17)上设有MEMS盖板开孔(19);MEMS盖板(17)、内引脚(5)和MEMS芯片(1)围成的腔体内塑封有第二塑封体(18)。3.一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,其特征在于,包括引线框架,该引线框架中的内引脚(5)与底面引脚(12)相连,内引脚上表面(6)粘贴有MEMS芯片(1),MEMS芯片(1)通过第一键合线(7)与内引脚上表面(6)相连,内引脚上表面(6)设有MEMS隔墙(24),两排MEMS隔墙(24)顶端通过MEMS盖板(17)相连接,MEMS盖板(17)上设有MEMS盖板开孔(19),MEMS隔墙(24)、MEMS盖板(17)、内引脚上表面(6)和MEMS芯片(1)围成一个腔体,该腔体内塑封有第二塑封体(18),第一键合线(7)位于第二塑封体(18)内;内引脚下表面(3)通过第一UBM(23)与第二VGA放大器芯片(21)粘接,第一UBM(23)与第二VGA放大器芯片(21)上的芯片凸点(22)相粘接;沿垂直于两排底面引脚(12)连线的方向、底面引脚(12)远离内引脚上表面(6)一端的两侧平行设置有第一凹槽(4)和第二凹槽(13),底面引脚(12)的底面上设有底面引脚金属层(14);引线框架上塑封有第一塑封体(10),除腔体、MEMS盖板(17)和底面引脚金属层(14)外,其余所有的器件均塑封于第一塑封体(10)内。4.一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,其特征在于,包括引线框架,该引线框架中的内引脚(5)与底面引脚(12)相连,MEMS芯片(1)粘贴于内引脚下表面(3)上,MEMS芯片(1)通过第二键合线(16)与内引脚下表面(3)相连;内引脚上表面(6)上粘贴有第一VGA放大器芯片(8),第一VGA放大器芯片(8)通过第一键合线(7)与内引脚上表面(6)相连;沿垂直于两排底面引脚(12)连线的方向、底面引脚(12)远离内引脚上表面(6)一端的两侧平行设置有第一凹槽(4)和第二凹槽(13),底面引脚(12)的底面上设有底面引脚金属层(14);引线框架上塑封有第一塑封体(10),除腔体、MEMS盖板(17)和底面引脚金属层(14)外,其余所有的器件均塑封于第一塑封体(10)内;两排底面引脚(12)之间设有MEMS盖板(17),MEMS盖板(17)的一侧与一排底面引脚(12)上的第一凹槽(4)固接,MEMS盖板(17)上设有MEMS盖板开孔(19);MEMS盖板(17)、内引脚(5)和MEMS芯片(1)围成的腔体内塑封有第二塑封体(18)。5.一种基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件,其特征在于,包括引线框架,该引线框架采用多排矩阵式CSP镍钯金电镀框架,其中的内引脚(5)向上翘起形成鸥翼型,内引脚上表面(6)上倒装有第三VGA放大器芯片(27),第三VGA放大器芯片(27)上表面粘接有MEMS芯片(1),MEMS芯片(1)通过第一键合线(7)与内引脚上表面(6)相连;内引脚下表面(3)上倒装有第二VGA放大器芯片(21);沿垂直于两排底面引脚(12)连线的方向、底面引脚(12)远离内引脚上表面(6)一端的两侧平行设置有第一凹槽(4)和第二凹槽(13),底面引脚(12)的底面上设有底面引脚金属层(14);引线框架上塑封有第一塑封体(10),底面引脚金属层(14)露出第一塑封体(10),其余所有器件均位于第一塑封体(10)内。6.一种权利要求1所述的基于定制引线框架的CSP型MEMS封装件的生产方法,其特征在于,具体按以下步骤进行:步骤1:制作多排矩阵式无载体翼鸥型内引脚的CSP引线框架,内引脚的正面和背面除电镀铜外,还要镀银或镀镍钯金焊盘、或者根据电镀倒装封装需要电镀UBM金属层;采用8英寸~12英寸的减薄机对晶圆进行减薄,带凸点的晶圆减薄至150~200μm,不带凸点的晶圆减薄至130~180μm;减薄过程中的粗磨速度6μm/s,精磨速度0.15μm/s,抛光速度0.05μm/s;同时采用防翘曲工艺:然后,采用A-WD-300TXB划片机对减薄的晶圆进行划片,划片过程中采用防碎片的双刀工艺划片,划片进刀速度≤10mm/s,切割分离形成需要的MEMSIC芯片和VGA放大器芯片;步骤2:在粘片胶粘片机上,先在引线框架上翘内引脚的正面端面点上第一粘片胶,然后将MEMS芯片反向放置在已点第一粘片胶的多排矩阵式CSP引线框架上翘内引脚的正面,全部MEMS芯片1粘完后,进行分段烘烤,即在烘箱中,升温15分钟将温度升至100℃烘烤25分钟,再升温5分钟将温度升至150℃烘烤35分钟,降温10分钟将温度降至70℃取出;分段烘烤过程中采用防离层工艺;在球焊机上,将烘烤后的半成品多排矩阵式CSP引线框架反向进料,从多排矩阵式CSP引线框架翼鸥型的上翘内引脚的背面焊盘向MEMS芯片上的焊盘反打低弧度第二键合线;在胶膜片粘片机上,将已打第二键合线的半装成品多排矩阵式CSP引线框架进料,在MEMS芯片背面划上第二粘片胶,设备自动吸取的第一VGA放大器芯片,准确放置在已划胶的MEMS芯片的背面,粘接完全部第一VGA放大器芯片后,采用同上的分段烘烤,分段烘烤过程中采用防离层工艺;在球焊机上,将已粘接第一VGA放大器芯片的半成品多排矩阵式CSP引线框架正向进料,从第一VGA放大器芯片上的焊盘向多排矩阵式CSP引线框架翼鸥型的上翘内引脚的正面焊盘高低弧度打第一键合线;焊线以后,选用膨胀系数α1≤1、吸水率≤0.30%的环保塑封料塑封,冲线率控制在5%,无空洞和离层,在150℃温度下后固化5小时;若底部引脚在框架生产中未电镀镍钯金或纯金,则电镀钝锡,钝锡层厚度7.62~15.24μm,并在17...
【专利技术属性】
技术研发人员:慕蔚,邵荣昌,李习周,张易勒,胡魁,
申请(专利权)人:天水华天科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:甘肃;62
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