检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电路基板的检测装置，提供了一种能一同检测出电火花和部分放电的结构。恒定电流源向检测对象的配线图形供给恒定的电流。电压测定部测定配线图形的电压。正常时电压斜度算出部，在电压的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度。判定部，在电压的测定结果中，通过将第一阈值以上且小于第二阈值的范围内的测定结果(斜度恒定期间中的测定结果)与基于上述正常时的电压斜度的电压推算值进行比较，判定所述电压斜度是否恒定。并且，判定部基于电压斜度恒定与否来判定电路基板的不良与否。

【技术实现步骤摘要】
检测装置
本专利技术主要涉及基板检测装置。具体来说，涉及一种用于检测出在检测对象的配线图形间发生的电火花以及部分放电的构成。
技术介绍
通过检测形成在电路基板的多个配线图形间的绝缘状态(是否确保充分的绝缘性)来判断该电路基板是否为良品的检测装置已被周知。通过向检测对象的一组配线图形施加所定的电压进而测定该配线图形间的电阻值来进行绝缘状态的检测。 由于在上述绝缘检测时向配线图形施加电压，因此在该配线图形间会发生电火花。当这种电火花发生时，电路基板上发生某种损伤的可能性则高。因此，优选地，将在检测中发生电火花的电路基板区别为不良品。 与此相关，专利文献I揭示了一种在检测出向配线图形所施加电压波形的下降(当前电压相比前次电压变小的部位)时，检测出电火花发生的构成。据专利文献1，由此能确实防止因绝缘检测而发生电火花的电路基板所混入。 但近来，印刷基板的图形间隙(pitch)逐年变窄，且鉴于此，绝缘检测时配线图形间发生部分放电的情况逐渐增多。发生部分放电时电路基板也会发生损伤。因此，优选地，与检测中发生电火花的电路基板一样，也应将发生部分放电的电路基板区别为不良品。 但，部分放电时，由于配线图形间流动的电流小，因此不能观测到如同电火花发生时的电压下降。因此，按专利文献I的构成不能检测出绝缘检测时发生的部分放电。 【现有技术文献】 【专利文献I】 日本专利第3546046号公报
技术实现思路
本专利技术提供了一种能检测出电火花和部分放电的电路基板检测装置。 根据本专利技术的一个实施形态，提供了一种检测形成在电路基板上的配线图形的检测装置。即，该检测装置包括:恒定电流源，向检测对象的配线图形供给恒定的电流；电压测定部，测定所述配线图形的电压；以及判定部，基于电压斜度的恒定与否来判定所述电路基板的不良与否，其中，所述电压斜度是所述电压对时间的变化率。 优选地，所述的检测装置按如下进行构成。即，该检测装置包括正常时电压斜度算出部，以用于在所述电压的测定结果中，基于小于所定的电压斜度算出阈值的测定结果，获得正常时的电压斜度。所述判定部，通过比较所述电压的测定结果和基于所述正常时的电压斜度的电压的推算值，判定所述电压斜度是否恒定。 优选地，所述的检测装置按如下进行构成。所述判定部在所述电压的测定结果中，基于所定的第一阈值以上且小于所定的第二阈值的范围内的测定结果，判定所述电压斜度是否恒定。 根据本专利技术，在配线图形间未发生电火花或部分放电时，被供给了恒定电流的配线图形的电压斜度为恒定。但，在配线图形间发生电火花或部分放电时，电压斜度为不恒定。因此，可基于电压斜度的恒定性，检测出电火花或部分放电的发生有无。并且，虽然电压斜度的值本身随配线图形而不同，但无论何种配线图形在不发生电火花或部分放电时电压斜度都为恒定。因此如上所述，通过基于电压斜度的恒定与否来进行判断，从而能不受随配线图形的电压斜度差异的影响，可针对任一配线图形也能进行高精密度的判定。 配线图形的电压低时，配线图形间发生电火花或部分放电的可能性则低。因此，基于配线图形的电压小于所定的值时而测定的电压，可获得正常时(未发生电火花或部分放电的状态)的电压斜度。并且，通过比较配线图形的电压的测定结果与基于正常时的电压斜度的电压之推算值，可精确判断出在该配线图形中是否发生了电火花或部分放电。 即使为正常时(未发生电火花或部分放电的状态)，也可将电压斜度视为恒定的范围受限定。从而，通过限定在该范围内的测定结果来判定电压斜度是否恒定，由此可高精密度进行电火花或部分放电发生与否的判定。 【附图说明】 图1是示出本专利技术一个实施形态的检测装置整体构成的模式电路图。 图2是示出根据检测装置检测配线图形之状态的简略化电路图。 图3是示出配线图形间的电阻R中流过电流时的电路图。 图4是基于检测装置的绝缘检测的流程图。 图5是示出正常时的正极侧图形的电压变化的图表。 图6是示出发生电火花时的正极侧图形的电压变化的图表。 图7是示出发生部分放电时的正极侧图形的电压变化的图表。 [附图标记说明] 1:检测装置 11:恒定电流源 12:电压测定部 20:正常时电压斜度算出部 21:电压推算部 22:判定部 【具体实施方式】 接下来，参考附图对本专利技术的实施形态进行说明。图1所示的本实施形态的检测装置I用于对形成在电路基板2的配线图形间的绝缘状态进行良与否的判定。虽然在实际的电路基板中形成有多个复杂的配线图形，但在图1将其简单化，进而示出了在电路基板2形成有四个简单的配线图形Pl至P4的状态。 检测装置I包括控制部10、恒定电流源11、电压测定部12、限幅电路(Limitercircuit) 13、探针14、开关电路15和电流测定部16。 控制部10是包括作为运算装置的CPU、作为记忆装置的ROM或RAM等硬件的计算机。并且，控制部10在上述ROM等中维持着用于控制检测装置I各部的程序等软件。控制部10通过上述硬件和上述软件的协作来控制检测装置I的各部。 检测装置I包括多个探针14。各探针14是由棒状乃至针状形成的导电性部件，且能与电路基板2上的配线图形Pl至P4中的任意一个相接触。 恒定电流源11包括正极侧端子和负极侧端子，且向正极侧端子和负极侧端子间供给恒定的电流。并且，恒定电流源11的负极侧端子接地。 限幅电路13用于保护恒定电流源11的正极侧端子和负极侧端子间的电位差不超过所定的上限电压。 电流测定部16包括正极侧端子和负极侧端子，且用于检测出从正极侧端子向负极侧端子流动的电流的大小。电流测定部16的测定结果被输入至控制部10。并且，电流测定部16的负极侧端子接地。 开关电路15用于将各探针14在与恒定电流源11的正极侧端子相接触的状态、与电流测定部16的正极侧端子相接触的状态、与恒定电流源11和电流测定部16均不相接触的状态中任意切换状态。控制部10控制开关电路15。 控制部10通过适当地控制开关电路15，可使任意的探针14与恒定电流源11的正极侧端子相接触。据此，对相应探针14所接触的配线图形，可供给来自恒定电流源11的恒定电流。在本说明书中将供给了来自恒定电流源11的恒定电流的配线图形称为“正极侧图形”。并且，控制部10通过适当地控制开关电路15，可使任意的探针14与电流测定部16的正极侧端子相接触。据此，基于电流测定部16可测定相应探针14所接触的配线图形中流动的电流。在本说明书中将基于电流测定部16而进行电流测定的配线图形称为“负极侧图形”。 电压测定部12用于测定正极侧图形的电压。电压测定部12的测定结果被输入至控制部10。 在此，参考图2更具体地进行说明。图2举例说明了将一组配线图形P1、P2作为检测对象的情况。图2在检测对象的配线图形Pl、P2中，将一个配线图形Pl作为正极侧图形，而另一个配线图形P2作为负极侧图形。并且，在图2中，为了方便说明，适当地省略了不必要构成的图示。 如图2所示，一组配线图形P1、P2具有寄生电容C。因此，根据恒定电流源11向正极侧图形Pl供给电流，使寄生电容C得以充电。伴随此过程，正极侧图形Pl的电压V上升。根据电压测定部12测定所述电压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置，检测形成在电路基板上的配线图形的绝缘性，所述检测装置包括：恒定电流源，向检测对象的配线图形供给恒定的电流；电压测定部，测定所述配线图形的电压；以及判定部，基于电压斜度的恒定与否来判定所述电路基板的不良与否，其中，所述电压斜度是所述电压对时间的变化率。

【技术特征摘要】
2013.08.27 JP 2013-1760931.一种检测装置，检测形成在电路基板上的配线图形的绝缘性，所述检测装置包括: 恒定电流源，向检测对象的配线图形供给恒定的电流； 电压测定部，测定所述配线图形的电压；以及 判定部，基于电压斜度的恒定与否来判定所述电路基板的不良与否，其中，所述电压斜度是所述电压对时间的变化率。2.根据权利要求1所述的检测装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：笠井淳，
申请(专利权)人：日本电产理德股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP