一种闪存芯片测试架，包括一第一测试板及一第二测试板，第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座及若干开关，每一开关与一对应的插接座电连接，每一个插接座上插接有一测试座，每一测试座上能够安装一闪存芯片，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口，每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电，每一USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据，该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向，该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不同，使得连接于第一测试板与第二测试板的线缆可以分隔开，方便操作与整理。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种闪存芯片测试架，包括一第一测试板及一第二测试板，第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座及若干开关，每一开关与一对应的插接座电连接，每一个插接座上插接有一测试座，每一测试座上能够安装一闪存芯片，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口，每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电，每一USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据，该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向，该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不同，使得连接于第一测试板与第二测试板的线缆可以分隔开，方便操作与整理。【专利说明】闪存芯片测试架
本技术涉及一种闪存芯片的测试架。
技术介绍
现有技术只能对闪存芯片一个一个或少数几个同时进行测试，不能对较大数量的 闪存芯片同时进行测试。
技术实现思路
鉴于以上，有必要提供一种能够同时对多个闪存芯片同时进行测试的闪存芯片测 试架。 -种闪存芯片测试架，包括一第一测试板及一第二测试板，第一测试板与第二测 试板上均装设有若干排插接座，每一排插接座包括若干个插接座，每一个插接座上插接有 一测试座，每一测试座上能够安装一闪存芯片，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均 装设有若干电源接口与若干USB接口，每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的 一排插接座供电，每一 USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片 的测试数据，第一测试板与第二测试板上均装设有若干个开关，每一开关与一对应的插接 座电连接，用以控制对应的插接座上的测试座的通电与断电，该第一测试板与第二测试板 的电源接口及USB接口均朝向同一方向，该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不 同。 优选地，所有USB接口通过数据线连接于一电脑。 优选地，该第一测试板远离第二测试板的一侧的两端的底部分别连接有一第一支 撑脚，该第二测试板的底部于四角处分别连接有一第二支撑脚，第二支撑脚的高度大于第 一支撑脚的高度，第二测试板靠近第一测试板的一侧的两第二支撑脚穿过并固定于该第一 测试板，使第一测试板的电源接口及USB接口位于第二测试板的下方。 优选地，每一第二支撑脚包括一第一支撑柱、连接于第二测试板的底部并滑动地 收容于第一支撑柱的一第二支撑柱及一螺丝，每一螺丝穿过对应的第一支撑柱并顶紧对应 的第二支撑柱以将第二支撑柱固定，第二测试板靠近第一测试板的一侧的两第二支撑柱穿 过并固定于该第一测试板。 优选地，每一第一支撑脚与每一第一支撑柱的底部均装设有一吸盘。 优选地，每一第一支撑柱的顶部沿轴向向下设有一滑槽，对应的第二支撑柱的底 部能够滑动地收容于该滑槽内，每一第一支撑柱的侧壁设有一螺孔,螺丝穿过第一支撑柱 的螺孔后能够顶紧对应的第二支撑柱，将第二支撑柱锁固。 该闪存芯片测试架可同时测试多个闪存芯片，第一测试板与第二测试板位于不同 的高度，使得连接于第一测试板与第二测试板的线缆可以分隔开，不会杂乱的混在一起，方 便操作与整理。 【专利附图】【附图说明】 图1是本技术闪存芯片测试架的较佳实施方式的立体图。 图2是图1中II部分的放大图。 主要元件符号说明 【权利要求】1. 一种闪存芯片测试架，其特征在于：所述闪存芯片测试架包括一第一测试板及一第 二测试板，第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座，每一排插接座包括若干个 插接座，每一个插接座上插接有一测试座，每一测试座上能够安装一闪存芯片，第一测试板 的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口，每一电源接口能够与 一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电，每一 USB接口能够向外传输对应的一排插 接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据，第一测试板与第二测试板上均装设有若干个开 关，每一开关与一对应的插接座电连接，用以控制对应的插接座上的测试座的通电与断电， 该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向，该第二测试板的高度 与该第一测试板的高度不同。2. 如权利要求1所述的闪存芯片测试架，其特征在于：所有USB接口通过数据线连接 于一电脑。3. 如权利要求1所述的闪存芯片测试架，其特征在于：该第一测试板远离第二测试板 的一侧的两端的底部分别连接有一第一支撑脚，该第二测试板的底部于四角处分别连接有 一第二支撑脚，第二支撑脚的高度大于第一支撑脚的高度，第二测试板靠近第一测试板的 一侧的两第二支撑脚穿过并固定于该第一测试板，使第一测试板的电源接口及USB接口位 于第二测试板的下方。4. 如权利要求3所述的闪存芯片测试架，其特征在于：每一第二支撑脚包括一第一支 撑柱、连接于第二测试板的底部并滑动地收容于第一支撑柱的一第二支撑柱及一螺丝，每 一螺丝穿过对应的第一支撑柱并顶紧对应的第二支撑柱以将第二支撑柱固定，第二测试板 靠近第一测试板的一侧的两第二支撑柱穿过并固定于该第一测试板。5. 如权利要求4所述的闪存芯片测试架，其特征在于：每一第一支撑脚与每一第一支 撑柱的底部均装设有一吸盘。6. 如权利要求4所述的闪存芯片测试架，其特征在于：每一第一支撑柱的顶部沿轴向 向下设有一滑槽，对应的第二支撑柱的底部能够滑动地收容于该滑槽内，每一第一支撑柱 的侧壁设有一螺孔，螺丝穿过第一支撑柱的螺孔后能够顶紧对应的第二支撑柱，将第二支 撑柱锁固。【文档编号】G06F12/02GK204102121SQ201420498131【公开日】2015年1月14日 申请日期:2014年8月29日 优先权日:2014年8月29日 【专利技术者】陈任佳, 陈海 申请人:深圳市嘉合劲威电子科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种闪存芯片测试架，其特征在于：所述闪存芯片测试架包括一第一测试板及一第二测试板，第一测试板与第二测试板上均装设有若干排插接座，每一排插接座包括若干个插接座，每一个插接座上插接有一测试座，每一测试座上能够安装一闪存芯片，第一测试板的一侧与第二测试板的一侧均装设有若干电源接口与若干USB接口，每一电源接口能够与一外部电源线相连以给对应的一排插接座供电，每一USB接口能够向外传输对应的一排插接座上的测试座上的闪存芯片的测试数据，第一测试板与第二测试板上均装设有若干个开关，每一开关与一对应的插接座电连接，用以控制对应的插接座上的测试座的通电与断电，该第一测试板与第二测试板的电源接口及USB接口均朝向同一方向，该第二测试板的高度与该第一测试板的高度不同。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈任佳，陈海，
申请(专利权)人：深圳市嘉合劲威电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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