本发明专利技术提出了一种NOR闪存结构，在字线上设有多个断点形成字线段，字线段之间相互隔离开每个字线段均通过通孔连线与金属连线相连，在进行测试时，金属连线提供相应的电压，若金属连线出现断线缺陷，断点以后的字线将得不到供压，无论在高频还是低频下会导致操作失效，无需进行高频测试也能确保金属连线的断线缺陷测试阶段全部被分拣出来，从而能够及时发现，提高分拣精度，且无需额外设备，降低分拣成本。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提出了一种NOR闪存结构，在字线上设有多个断点形成字线段，字线段之间相互隔离开每个字线段均通过通孔连线与金属连线相连，在进行测试时，金属连线提供相应的电压，若金属连线出现断线缺陷，断点以后的字线将得不到供压，无论在高频还是低频下会导致操作失效，无需进行高频测试也能确保金属连线的断线缺陷测试阶段全部被分拣出来，从而能够及时发现，提高分拣精度，且无需额外设备，降低分拣成本。【专利说明】NOR闪存结构
本专利技术涉及半导体制造领域，尤其涉及一种NOR闪存结构。
技术介绍
NOR闪存(NOR flash)和NAND闪存(NAND flash)是现在市场上两种主要的非易失闪存技术。Intel于1988年首先开发出NOR flash技术，彻底改变了原先由EPROM和EEPROM—统天下的局面。紧接着，1989年，东芝公司发表了 NAND flash结构，强调降低每比特的成本,更高的性能,并且像磁盘一样可以通过接口轻松升级。 NOR闪存更适合存储少量的代码，而NAND闪存则是高数据存储密度的理想解决方案。NOR闪存的特点是芯片内执行(XIP，Execute In Place)，这样应用程序可以直接在flash闪存内运行，不必再把代码读到系统RAM中。NOR闪存的传输效率很高，在I?4MB的小容量时具有很高的成本效益。 目前Nor flash产品的应用越来越广泛,对性能的要求越来越高,在高频下正常工作是对市面上Nor flash产品的基本要求，为了确保这一点，需要在生产完成后的测试阶段对Nor flash做有效的分拣,从而剔除不符合要求的Nor flash。 目前在Nor flash芯片的制造过程中，不可避免的会出现一些缺陷，由于芯片版图设计不够优化，这些缺陷在一般情况下不会导致明显的功能失效，但是在特定条件下会引起问题。其中常见的一种就是用于给字线供压的第二层金属连线(Metal 2)出现断线情况，这种类型的缺陷在较低的频率条件下没有问题，只有在高频下才会引起问题。 具体的,请参考图1,图1为现有技术中NOR flash的剖面示意图,包括衬底10、形成在衬底10中的浅沟槽隔离11、形成在衬底10上的多个存储单元20、形成在多个存储单元20上的字线(WL) 30、形成在字线30上的金属硅化物40以及与金属硅化物40通过通孔连线50相连的第二金属连线60。其中，存储单元20均是阵列排列，每一条字线30均需要控制大量的存储单元20。在大多数的制程中，字线30采用多晶硅材质，表面生成金属硅化物40来降低阻值。操作字线30用到的电压一般是用平行于字线30的第二金属连线60引入(如图1中箭头所示)，第二金属连线60通过多个通孔连线50与字线30连接确保供压的效率与准确性。 然而，正如上文所说，第二层金属连线60经常出现断线情况，在现有的结构中，SP使第二层金属连线60在制造过程中发生了断线或者类似的缺陷，由于第二层金属连线60与字线30之间有多个通孔连线50作为连接点，并且字线30表面的金属硅化物40也会导电，导致在低频下电压传输良好，不会致使NORflash功能失效，然而，该缺陷会导致NORflash在高频下就会出现性能问题。 为了确保NOR flash在测试时能被分拣出，通常的做法是购买高性能的测试机台，做高质量的测试探针卡，在探针(CP)阶段便进行高频测试，从而能够更加精确的测试出存在上述缺陷的NOR flash。但是这必然造成测试成本的急剧上升。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种NOR闪存结构，便于测试出第二金属连线断线的缺陷，提高分拣精度，降低分拣成本。 为了实现上述目的，本专利技术提出了一种NOR闪存结构，包括:衬底、多个存储单元、字线、金属硅化物、多个通孔连线及金属连线，其中，所述存储单元形成在所述衬底上，所述字线形成在所述存储单元上，所述金属硅化物形成在所述字线的表面，所述金属连线通过所述通孔连线与所述金属硅化物相连，所述字线设有多个断点形成多个字线段，所述字线段之间相互隔离开，所述通孔连线与所述字线段一一对应。 进一步的，多个字线段的长度相等或者不等。 进一步的，所述存储单元与所述字线段一一对应。 进一步的，所述衬底内设有多个浅沟槽隔离，所述浅沟槽隔离形成于所述存储单元之间。 进一步的，所述浅沟槽隔离为二氧化硅。 进一步的，所述字线为多晶硅。 进一步的，所述金属硅化物为CoSi2。 进一步的，所述通孔连线及金属连线为铜。 与现有技术相比，本专利技术的有益效果主要体现在:在字线上设有多个断点形成字线段，字线段之间相互隔离开每个字线段均通过通孔连线与金属连线相连，在进行测试时，金属连线提供相应的电压，若金属连线出现断线缺陷，断点以后的字线将得不到供压，无论在高频还是低频下会导致操作失效，无需进行高频测试也能确保金属连线的断线缺陷测试阶段全部被分拣出来，从而能够及时发现，提高分拣精度，且无需额外设备，降低分拣成本。 【专利附图】【附图说明】 图1为现有技术中NOR flash的剖面示意图； 图2为本专利技术一实施例中NOR flash的剖面示意图。 【具体实施方式】 下面将结合示意图对本专利技术的NOR闪存结构进行更详细的描述，其中表示了本专利技术的优选实施例，应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本专利技术，而仍然实现本专利技术的有利效果。因此，下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道，而并不作为对本专利技术的限制。 为了清楚，不描述实际实施例的全部特征。在下列描述中，不详细描述公知的功能和结构，因为它们会使本专利技术由于不必要的细节而混乱。应当认为在任何实际实施例的开发中，必须做出大量实施细节以实现开发者的特定目标，例如按照有关系统或有关商业的限制，由一个实施例改变为另一个实施例。另外，应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的，但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。 在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本专利技术。根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。 请参考图2，在本实施例中，提出了一种NOR闪存结构，包括:衬底100、多个存储单元200、字线300、金属硅化物400、多个通孔连线500及金属连线600，其中，所述存储单元200形成在所述衬底100上，所述字线300形成在所述存储单元200上，所述金属硅化物400形成在所述字线300的表面，所述金属连线600通过所述通孔连线500与所述金属硅化物400相连，所述字线600设有多个断点形成多个字线段，所述字线段之间相互隔离开，所述通孔连线500与所述字线段一一对应，用于为不同的字线段供压。 具体的，衬底100内设有多个浅沟槽隔离110，所述浅沟槽隔离110形成于所述存储单元200之间，用于隔离存储单元200，优选的，所述浅沟槽隔离110为二氧化硅。此外，所述字线300表面设有金属硅化物400，所述字线300为多晶硅,所述金属硅化物400可以为CoSi2。所述通孔连线500及金属连线600为铜。 在本实施例中，金属硅化物400形成在字线300和通孔连本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种NOR闪存结构，其特征在于，包括：衬底、多个存储单元、字线、金属硅化物、多个通孔连线及金属连线，其中，所述存储单元形成在所述衬底上，所述字线形成在所述存储单元上，所述金属硅化物形成在所述字线的表面，所述金属连线通过所述通孔连线与所述金属硅化物相连，所述字线设有多个断点形成多个字线段，所述字线段之间相互隔离开，所述通孔连线与所述字线段一一对应。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谢振，郭强，陈宏领，
申请(专利权)人：武汉新芯集成电路制造有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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