本发明专利技术涉及MALDI质谱分析用测定基板。提供在MALDI质谱分析中能够将由测定对象物质、基质的不均匀性导致的检测精度的降低抑制到最低限度的测定基板。MALDI质谱分析用测定基板(10)由具有上表面的底板(11)和碳片(12)构成，所述碳片(12)由铺设在上述上表面的至少一部分上的、取向方向位于上述上表面的面内的高取向性石墨片形成。高取向性石墨片由于在面内方向上具有高热导率，在与其垂直的方向上具有低热导率，所以利用激光照射而在基质物质中生成的热能通过上述高取向性石墨片迅速沿面内方向传递。由此，在激光照射位置、热能变得均匀，使由基质物质引起的测定对象试样的升华及电离的反应得以均等地进行，从而防止检测精度的降低。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及MALDI质谱分析用测定基板。提供在MALDI质谱分析中能够将由测定对象物质、基质的不均匀性导致的检测精度的降低抑制到最低限度的测定基板。MALDI质谱分析用测定基板(10)由具有上表面的底板（11)和碳片（12)构成，所述碳片（12)由铺设在上述上表面的至少一部分上的、取向方向位于上述上表面的面内的高取向性石墨片形成。高取向性石墨片由于在面内方向上具有高热导率，在与其垂直的方向上具有低热导率，所以利用激光照射而在基质物质中生成的热能通过上述高取向性石墨片迅速沿面内方向传递。由此，在激光照射位置、热能变得均匀，使由基质物质引起的测定对象试样的升华及电离的反应得以均等地进行，从而防止检测精度的降低。【专利说明】MALDI质谱分析用测定基板
本专利技术涉及在广泛用于测定蛋白质、肽、有机化合物等分子的质量的MALDI质谱 仪中为了进行质谱分析而将测定对象物质电离的部分的装置、特别是其基板（测定基板）。
技术介绍
利用 MALDI (Matrix-Assisted Laser Desorption Ionization、基质辅助激光解 吸电离法）的质谱分析由于能够将蛋白质（通常分子量为10000以上）、肽（通常分子量为 1000以上）等较高分子量的物质电离而不发生不期望的分解，所以可以广泛地用于这些物 质的分析。MALDI中，利用激光将测定对象物质电离时，对象物质不会接收激光的光能，而是 由存在于对象物质的周围的基质物质将光能转化为热能，将该热能作为测定对象物质的电 离能，从而可以在不破坏测定对象物质的情况下将其电离。 然而，此时能够将测定对象物质准确地（即，不破坏地）电离的量（或电离效率） 根据测定对象物质的种类、基质物质的种类等主要因素而变化，因此每次测定都需要根据 测定对象进行基质物质的选择、激光照射条件、样品准备的条件等的优化。 因此，在MALDI质谱仪中，将测定对象物质电离的部分的装置是非常重要的。 另外，仅以低浓度含有对象物质的情况下，为了检测该对象物质，一直以来提出了 各种方法。例如目前lfmol (飞摩尔）/μ L(微升）左右的物质浓度为检测限，但为了在更 低浓度下也能够进行检测，开发了下述方法：进行对象物质的浓缩，在使对象物质为致密的 状态的基础上使其附着于测定基板，从而提高测定灵敏度的方法。例如非专利文献1中， 制作了下述基板：将用于吸附基质物质及测定对象物质的测定基板的原材料设为不锈钢 (SUS)，在其表面上设置细分为拒水性区域和亲水性区域的区域而成的基板。在该测定基板 上滴加液体样品并进行干燥时，在这期间测定对象物质在亲水性区域一方浓缩。由此，即使 液体样品中的测定对象物质的浓度较稀，干燥后的样品中测定对象物质也被浓缩，因此易 于测定。 而且，专利文献1中示出了通过将特定的蛋白质选择性地捕获到测定基板上，从 而进行效率良好的蛋白质的检测的例子。 进而，专利文献2中公开了，通过在测定基板的表面形成微小的凸部（量子点），从 而能够进行效率良好的电离。 现有技术文献 专利文献 专利文献1美国专利公开第2003/0173513号公报 专利文献2日本特开2006-329977号公报 专利文献3日本特公平1-018002号公报 专利文献4日本特公平7-023261号公报 非专利文献 非专利文献]/'μ Focus Sample Plates for MALDI-TOF MS", ，Hudson Surface Technology, ，网址 <URL:http://www.maldiplate. com/ sites/default/files/assets/uFocus% 20Technology% 202010-08-23% 20hires. pdf> 非专利文献2西木直已等，"具有柔软性的结晶性石墨的开发和实用化"（柔 軟性全有t 3結晶性夕'' 7 7 r 4卜Q開発i実用化），，网址 <URL:http://panasonic. co. jp/ptj/award/2010/pdf/42nd_ichimura_01. pdf>
技术实现思路
专利技术要解决的问是页 非专利文献1中记载的方法是以液体样品干燥中均匀地进行浓缩为前提的，但是 根据干燥条件、对象物质及基质的物理化学性质而有时无法均匀地浓缩。另外，专利文献1、 专利文献2记载的方法中，由于是从基质物质向对象物质传递热能的方法，所以存在于对 象物质的周围的基质的浓度不均匀时，会降低测定对象物质的检测精度。 本专利技术要解决的问题在于，提供能够将由这些测定对象物质、基质的不均匀性引 起的检测精度的降低抑制到最低限度的装置及方法。 用于解决问题的方案 为了解决上述问题而做出的本专利技术的MALDI质谱分析用测定基板的特征在于，具 备： 底板，其具有上表面；和 高取向性石墨片，其被铺设在上述上表面的至少一部分上，取向方向位于上述上 表面的面内。 专利技术的效果 本专利技术的MALDI质谱分析用测定基板通过具有上述结构，从而在上述上表面的面 内方向上具有高热导率，在与其垂直的方向（上述基板的深度方向）上具有低热导率（即， 具有各向异性）。由于该特性，所以利用激光照射而在基质物质中生成的热能通过上述高取 向性石墨片迅速地沿面内方向传递。由此，在激光照射位置、热能变得均匀，使由基质物质 引起的测定对象试样的升华及电离的反应得以均等地进行，从而防止检测精度的降低。另 夕卜，如后述那样，可以获得能够进行高灵敏度的测定而不会在很大程度上依赖于底板的状 态等各种效果。 【专利附图】【附图说明】 图1为示出本专利技术的一个实施例的质谱分析用测定基板的图，图1的（a)为立体 示意图，图1的（b)为截面图。 图2为示出高取向性石墨片的上表面的放大图，图2的（a)为表面的放大图，图2 的（b)为截面的放大图。 图3为示出高取向性石墨片的面内方向（横向）热导率和面外方向（纵向）热导 率的差异的说明图。 图4为本专利技术的另一个实施例的质谱分析用测定基板的立体示意图。 图5为将使用现有的测定基板与使用本专利技术的第1实施例的测定基板的情况下的 离子生成量进行比较的曲线图。 图6为示出在底板与高取向性石墨片之间插入有较薄的良导电板的情况下的效 果的曲线图。 图7为示出在底板的背面设有孔的情况下粘贴高取向性石墨片而产生的效果的 曲线图。 图8为利用MALDI质谱仪测定ACTH的情况下的质谱，图8的（a)为在现有的SUS 底板上载置目标样品的情况下的测定结果，图8的（b)为在该SUS底板上粘贴高取向性石 墨片并在其上载置目标样品的情况下的测定结果。 附图标记说明 10、20…质谱分析用测定基板 11、21 …底板 12、22 …碳片 13···导电性粘合剂（层） 14…良导电板 25…目标样品 【具体实施方式】 对本专利技术的质谱分析用测定基板的一个实施例进行说明。图1的（a)为本实施例 的质谱分析用测定基板的立体图，图1的（b)为其截面图。需要说明的是，图1的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，具备：底板，其具有上表面；和高取向性石墨片，其被铺设在所述上表面的至少一部分上，取向方向位于所述上表面的面内。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：岛田崇史，青木智景，佐藤孝明，中谷将也，叶山雅昭，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。