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本发明涉及MALDI质谱分析用测定基板。提供在MALDI质谱分析中能够将由测定对象物质、基质的不均匀性导致的检测精度的降低抑制到最低限度的测定基板。MALDI质谱分析用测定基板(10)由具有上表面的底板(11)和碳片(12)构成，所述碳片(...
该专利属于株式会社岛津制作所;松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所;松下电器产业株式会社授权不得商用。

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