气体测定装置制造方法及图纸

技术编号：41222458 阅读：4 留言：0更新日期：2024-05-09 23:41

气体测定装置(100)具备：试样气体管路(ML)，其对试样气体(M)进行除湿；基准气体管路(RL)，其生成基准气体(R)，该基准气体(R)是从试样气体去除分析对象的气体成分之后进行了除湿的气体；第一切换部(8)，其将通过了基准气体管路(RL)的气体和通过了试样气体管路(ML)的气体选择性地向试样气室(9)供给；光源(10)，其向试样气室(9)照射光；以及检测部(20)，其用于检测从光源(10)向试样气室(9)照射的光透过试样气室(9)后的光强度。分析对象的气体成分包括SO<subgt;2</subgt;气体。基准气体管路(RL)包括：鼓泡分离器(11)，其利用水使试样气体(M)鼓泡，来去除试样气体(M)中的SO<subgt;2</subgt;气体；以及除湿装置(12)，其对通过了鼓泡分离器(11)的气体进行除湿。

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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及一种气体测定装置。

技术介绍

1、在日本特开平9-49797号公报(专利文献1)中公开了一种切换试样气体和基准气体来测定气体成分的浓度的红外线气体分析仪。在该红外线气体分析仪中，切换三通阀来将试样气体和基准气体以规定周期交替地供给到气室内。与之并行地，通过马达使扇形件(sector)旋转，来向气室内间歇性地照射来自光源的红外光。由此，检测器能够交替地检测透过了试样气体或基准气体的红外光，并根据基准气体的检测输出与试样气体的检测输出的输出比来进行气体成分的分析。另外，在日本实开昭59-29748号公报(专利文献2)中公开了使用两个气室的双光路式气体分析仪。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本特开平9-49797号公报

5、专利文献2：日本实开昭59-29748号公报

技术实现思路

1、专利技术要解决的问题

2、在红外线气体分析仪中，若试样气体中包括红外线吸收带与测定对象气体成分的红外线吸收带重叠的气体成分(下面称为干扰成分)，则产生测定误差。例如，在测定燃烧废气中的二氧化硫(so2)的情况下，在燃烧废气中存在作为干扰成分的hc和co2。

3、在日本特开平9-49797号公报(专利文献1)所公开的红外线气体分析仪中，作为基准气体，能够使用不包括作为测定对象气体成分的so2的大气。然而，在该文献中虽未记载，但是在大气中几乎不包括作为so2测定的干扰成分的hc和co2，因此试样气体的红外线吸

4、对于此，还存在另行连续地测定干扰成分的浓度并使用测定结果来实时地对由干扰成分的影响引起的误差进行校正的方法。但是，该方法若未事先知晓试样气体中的干扰成分的种类及其大致的浓度则无法使用，而且需要并行地检测干扰成分的浓度的结构，成本变高。

5、并且，还能够考虑在光路设置用于限定透过波长带的多层膜的光学滤波器、高浓度地填充有干扰气体的气室的干扰应对方法。该方法具有一定程度的干扰降低效果，但往往还不充分，残留一些干扰误差。另外，通过将这样的光学滤波器放入到光路中来使光衰减，因此测定精度变差。

6、本公开的目的在于提供一种能够抑制开发成本并且使so2的检测精度提高的气体测定装置。

7、用于解决问题的方案

8、本公开涉及一种气体测定装置，用于测定试样气体中的分析对象的气体成分。气体测定装置具备：试样气体管路，其对试样气体进行除湿；基准气体管路，其生成基准气体，该基准气体是从试样气体去除分析对象的气体成分之后进行了除湿的气体；试样气室；第一切换部，其将通过了基准气体管路的气体和通过了试样气体管路的气体选择性地向试样气室供给；光源，其向试样气室照射光；以及检测部，其用于检测从光源向试样气室照射的光透过试样气室后的光强度。分析对象的气体成分包括so2气体。基准气体管路包括：鼓泡分离器，其利用水使试样气体鼓泡，来去除试样气体中的so2气体；以及除湿装置，其对通过了鼓泡分离器的气体进行除湿。

9、专利技术的效果

10、本公开中的气体测定装置在作为分析对象的气体为水溶性且干扰成分气体为非水溶性的情况下，通过鼓泡分离器从试样气体中去除作为分析对象的气体后设为基准气体。因此，在基准气体中也存在相同浓度的干扰成分气体，因此能够消除干扰成分气体的影响。

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【技术保护点】

1.一种气体测定装置，用于测定试样气体中的分析对象的气体成分，所述气体测定装置具备：

2.一种气体测定装置，用于测定试样气体中的分析对象的气体成分，所述气体测定装置具备：

3.根据权利要求1所述的气体测定装置，其中，

4.根据权利要求1所述的气体测定装置，其中，

5.根据权利要求4所述的气体测定装置，其中，

6.根据权利要求1所述的气体测定装置，其中，

7.根据权利要求6所述的气体测定装置，其中，

8.根据权利要求2所述的气体测定装置，其中，

9.根据权利要求2所述的气体测定装置，其中，

10.根据权利要求9所述的气体测定装置，其中，

11.根据权利要求2所述的气体测定装置，其中，

12.根据权利要求11所述的气体测定装置，其中，

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种气体测定装置，用于测定试样气体中的分析对象的气体成分，所述气体测定装置具备：

2.一种气体测定装置，用于测定试样气体中的分析对象的气体成分，所述气体测定装置具备：

3.根据权利要求1所述的气体测定装置，其中，

4.根据权利要求1所述的气体测定装置，其中，

5.根据权利要求4所述的气体测定装置，其中，

6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：荒谷克彦，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：

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