【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及照明领域，具体地，涉及一种。
技术介绍
目前，大多数的亮度均匀性分析方法，主要用于对诸如IXD、LED的显示类产品进行亮度均匀性分析。这些亮度均匀性分析方法通常选取发光面的多个点或者区域作为亮度均匀性分析基础。若采用现有的亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀性分析，则存在分析偏差较大的问题。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题，特别创新地提出了一种，以解决目前亮度均匀分析方法在对照明类产品进行亮度均匀性分析时，偏差较大的问题。为了实现本专利技术的上述目的，本专利技术提供了一种，包括:亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；形状判断步骤，判断所述发光面的形状；亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。在本专利技术的一个实施例中，所述亮度数据测量步骤，包括:固定亮度计和所述待测产品，以使所述亮度计的镜头的对称轴与所述待测产品的发光面的对称轴所构成的平面，与所述发光面垂直，且所述亮度计的镜头面与所述发光面相对平行设置；采用所述亮度计测量所述待测产品的发光面的亮度数据。[0011 ] 在本专利技术的一个实施例中，所述亮度数据测量步骤，包括:在采用所述亮度计测量所述发光面的亮度数据之前，还包括:启动所述待测产品，直至所述待测产品工作至稳定状态。在本专利技术的一个实施例中，所述亮度计为成像亮度计。在本专利技术的一个实施例中，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为圆形，则所述亮度均匀性分析步骤包括:第一发光面划分步骤，将所述发光面划分成中心区和环形区，并...
【技术保护点】
一种发光面亮度均匀性分析方法，其特征在于，包括：亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；形状判断步骤，判断所述发光面的形状；亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。
【技术特征摘要】
1.一种发光面亮度均匀性分析方法，其特征在于，包括: 亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据； 形状判断步骤，判断所述发光面的形状； 亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括: 固定亮度计和所述待测产品，以使所述亮度计的镜头的对称轴与所述待测产品的发光面的对称轴所构成的平面，与所述发光面垂直，且所述亮度计的镜头面与所述发光面相对平行设置； 采用所述亮度计测量所述待测产品的发光面的亮度数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括:在采用所述亮度计测量所述发光面的亮度数据之前，还包括: 启动所述待测产品，直至所述待测产品工作至稳定状态。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述亮度计为成像亮度计。5.根据权利要求 1所述的方法，其特征在于，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为圆形，则所述亮度均匀性分析步骤包括: 第一发光面划分步骤，将所述发光面划分成中心区和环形区，并将所述环形区划分成多个扇面区； 第一参数计算步骤，计算出所述发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数中至少一个参数； 第一亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一参数计算步骤，包括: 亮度旋转对称性参数计算步骤: 根据公式S = Iiiin(Li)Aiax(Li)计算出所述亮度旋转对称性参数S,其中，I≤i≤n_l且η表示所述发光面的中心区和扇面区的总数，L1至Llri表示所述发光面的对应扇面区的亮度，Ln表示所述发光面的中心区的亮度，Li表示所述发光面的第i个扇面区的亮度，min()表示取最小值，max O表示取最大值； 第一亮度中心平衡性参数计算步骤: 求取所述发光面中所有扇面区的亮度的平均值average (Li);以及根据公式B = Ln/average (L...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟磊，周详，郑成龙，李福生，花醒飞，熊衍建，于勇，季永康，
申请(专利权)人：常州市武进区半导体照明应用技术研究院，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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