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本发明提出了一种发光面亮度均匀性分析方法，其包括：亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；形状判断步骤，判断发光面的形状；亮度均匀性分析步骤，根据发光面的形状，对发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。本发明通过测量整个发光面的亮度数...
该专利属于常州市武进区半导体照明应用技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过常州市武进区半导体照明应用技术研究院授权不得商用。

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